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ID 质量度量 定义/公式 评价方法 可行性 1 功能分类缺陷 显示每个功能模块与功能模块组中发现的缺陷数目和比例。（Subject） 分析将标识出具有最多缺陷的功能模块。报表中项目占总数百分比最高，表明了该部分在发布后还需要检查其可维护性。 高 2 测试人员分类缺陷 显示在项目中每一个测试人员所发现的缺陷数目和比例。 （报告人） 统计数据小心使用 低 3 缺陷严重程度状况 显示在整个项目中各种严重程度的缺陷的分布情况。 （严重程度） Blocker、Critical的缺陷占很大百分比的话，说明程序的设计或架构存在着问题，产品不适宜发布或发布后需要检查其可维护性。 高 4 根本原因分析（缺陷分类） 显示缺陷的来源 （缺陷类型） 在产品发布后，需要检查占总数百分比较高的缺陷功能的可维护性。 高 5 发现方式分类缺陷 显示缺陷是如何被发现的 （测试分类） 可证明各类型在测试过程中的贡献。如果发现某项在发现缺陷占总数半分比不高的话，说明对该方面测试关注过多。 高 6 发现阶段分类缺陷 显示缺陷是何时被发现的 （测试分类（流程）） 可证明各阶段在测试过程的贡献。 高 7 发现者分类缺陷 显示缺陷是谁发现的 （根据报告人） 开发部门、质量保证、技术支持 对大部分项目而言，大部分缺陷都是在质量保证测试过程中发现的。如果是技术支持发现绝大部分的缺陷，则表明质量保证测试不足。 低 8 系统测试类型发现缺陷 系统测试由一个或多个基于系统初始目标的测试组成。显示按照系统测试类型分类的缺陷的分布情况。（未预留选项） 性能测试、安全性测试、压力测试等 对于整个项目，某项占百分比过高的情况表明系统相应设计还有不足。 低 9 其他参数类型分类缺陷 （操作系统、应用服务器、JDK、存储库、字符集） 中 10 责任人员分类缺陷 显示缺陷责任人员数目和比例。 （责任人） 统计数据小心使用 中 11 缺陷解决方案分类 显示缺陷关闭状态下的解决方案的分布情况 （解决方案） 统计数据小心使用 高 12 缺陷状态分类 高 13 缺陷处理结束时长 closed 统计数据小心使用 中 14 降级缺陷数 解决了一个缺陷，因此而引起的其它缺陷。 降级缺陷数目多，说明系统不稳定 高 15 缺陷生命周期统计 缺陷从提出到修复的周期越短越好，即从发现缺陷到关闭缺陷的时间。 了解缺陷修复的质量，跟踪那些生命周期较长，且出现多次修复，reopen的缺陷。 高 16 缺陷屏蔽（defect masking） 一个缺陷阻碍另一个缺陷被发现的情况 了解此轮测试不能覆盖的功能点 低 17 推迟修正的缺陷 由于需求或项目原因，不在该版本修正的缺陷 了解目前发布版本存在的已知缺陷 18 缺陷探测率（Defect Detection Percentage） D1：软件开发过程中发现的所有缺陷数； D2 ：软件发布后发现的缺陷数； D :: 发现的缺陷总数； Ｄ１／Ｄ＝缺陷探测率 作为目前测试覆盖率的参考，以及QA工作质量的一个指标。 高 1 缺陷密度（defect density） 基本的缺陷测码的数将软组统数软组规标术语码个类或点数解开发团队质 例如：每千行代码数个点数缺陷清除率修复缺陷数除以缺陷总数。控制阈值95%周期偏差率实际-计划/计划。控制阈值20%直方图 QC 工具。 （1）标准型（对称型）。 （2）锯齿型。 （3）偏态型。 （4）平顶型。。 （5）双峰型。 （6）孤岛型 待定 6 缺陷移除率 缺陷移除率=(本阶段发现的缺陷数/本阶段引入的缺陷数)*100%如需求阶段一共引入了15个缺陷，需求评审时候只发现了2个，设计过程中发现了10个，编码和单元测试阶段发现了两个，还有一个直到系统测试阶段才被发现。这样，需求阶段的缺陷移除率=2/15*100%=13%。它反映的是该活动阶段的缺陷清除能力。 缺陷泄露率 就是有多少本阶段引入的缺陷没有在本阶段发现而是被泄露到后阶段环节才被发现。其计算公式为：缺陷泄漏率=（下游发现的本阶段的缺陷数/本阶段注入的缺陷总数）*100%。显然，它等于[1-缺陷移除率]。它反映的是本阶段质量控制措施落实的成效。 发现矩阵分析 矩阵的每行表示该阶段或活动发现的各阶段产生的缺陷数；矩阵的每列表示该阶段或活动引入的缺陷泄露到后续各环节的缺陷数。 缺陷分布 可以选某个阶段的测试缺陷进行分析，按照这些缺陷对应的产品组成部分来汇总这些数据。利用这样的分布，可以找出我们产品/项目的高危模块来。这些模块导致了我们产品的主要缺陷 数据透视表 Pareto） 是用来找出影响产品质量主要因素的一种有效工具。 排列图是有两个纵坐标、一个横坐标、几个直方块和一条折线所构成。排列图的横坐标表示影响产品质量的因素或项目，按其影响程度