80C86单粒子效应测试系统实验研究.pdfVIP

第10届全国什算机在现代科学技术领城应用学术会议论文集 proceedingsof加 1OhtChinaSyrrposhanonCompWerApplicationinModernScienceTedralogy 80C86单粒子效应测试系统及实验 、,1T4. 陈晓华 贺朝会 姬 琳 王燕平 下乙733 (西北核技术研究所.西安69信箱16分箱，710024) 一}’‘4c-7 单粒子效应是形响卫里正常工作主要因t之一它是由于空间，电离子人射到超大妞棋纽成电璐(如 SRAM,CPU,FPGA称)中所引起的.由于CPU单拉子效应洲试系旋x杂，故日内外在这一方面的报道不多. 本文较详细介绷我们所研侧的8沈吕6单位子效应侧试原理、实脸方案及其盆据处斑。 关.调，单位子效应 忿4 井X、一、 U 引言 尹之冲 徽处理器已饭大f用于卫旦上的各种控制系统中，成为其核心部件.由于宇宙空间中存在 大f高能质子、X离子，它可使卫里上的CPU、存储器、FPGA等超大规模集成电路发生单控 子效应、闭谈或硬报伤，直接绷短卫星的工作寿命.为此.很有必要在地面上做相应的模拟实 脸，针对易出故阵的部分，实现元器件级及整机电路的加固和容错。 本系统的研制目的是利用实脸室中带电狡子源对CPU的各种故障进行监侧，对不同厂 家、不同工艺的CPU翻转截面作比较，研究其效应的规律性和依较因数，为卫星抗辐射加固技 术提供奎考。 1系统结构与工作原理 1.1系统结构 SOC86单狡子效应监侧系统是由两个8OC86 单机、效据比较电路、控制电路、状态读取电路及 与PC机通信控侧卡等几部分电路组成，系统框 图见图1. 12系统工作厦理 圈1侧试系统框困 将两个80C86单机系统中的一个8OC86作为被测芯片，受较子像的辐照，另一个8OC86 作为标准芯片，不受辐照.由控制电路使两个8OC86单机完全同步运行相同的程序，由致据比 较电路对两个8OC86单机的教据总线、地 址总线、控制总线进行实时比较.比较过程 中一旦发现两个8OC86单机上的数据不 同，就通过控制总线使8OC86单机处于等 待状态.经一延时向PC机发出中断。PC机 #气f， 接到中断请求后，通过状态读取电路读取 图2-Cf实验装f框图 两个8OC86单机上的三总线的状态，并向 80C86单机发出NMI中断，由中断处理程序将两个CPU内所有的寄存器内容放到双口RAM 内，再通过复位让两个8C086单机里新同步运行。PC机通过I/O口从双口RAM中读取CPU 的信息.同时PC机亦可通过另一种途径读 橄封金犯、 取CPU信息，即PC机通过控制电路使两 个8OC86单机单步运行中断处理程序，通 过三总线来读取CPU信息。 2 实验方案 rgOCS6芯片 WCf裂片单位子效应实脸袭ti见图21 困3质子实脸艘f祖图 质于80CIT单位子效应实脸WEIM3. 3 实验结果 3.180086在.口上的实脸结果 人射级交 祖到芯片距离 芯片面权 .转往百 .物妞， 闭伙位， 芯 片号 碎片扭/o.1 Z. /.-m .-1/10一 .0^/10-, /10-+ 1# 冬16 1.6 翻.75 1.69