GM计数管的可靠性.pdfVIP

，，，全国核反应堆用核仅舒学术会议论文集 Proceedngsof伽 99NationalConferenceonNuclearReactrohistnrnent G-M计数管的可靠性 李继源’ 来永芳’. 邹本 日’ 张皓. (’防化研究院，北京1044信箱，102205;.防化指挥学院，北京1048信箱，102205) 核反应堆所用监控仪表对可娜性有很离的买求.采用断结构、材料和工艺创透的GM计掀曹具有很好的 可书性，计教，的连续工作寿命在5X10以上.可连续工作十几年.断续工作寿命(类似于偏存寿命)约是20 年，在此其问的失效率在5X1。一八以下。自索GM计数管的可.性于电离主、半导体探洲县、闪炼休光电倍 场.探头相当。 关位润AGM计效誉 可书性 寿* 失效率 0 引言 州料帐、 丁L-gI。3 各种核设施、尤其是反应堆和核电站的安全性问题受到社会的特别关注。当今，已成为一 个敏感的社会间题.为了确保核设施的安全运行，降低核设施运行中的风险度要求其监控仪表 必须具有很离的可命性。核辐射探侧器是各种核辐射检侧仪表中的关健器件。它的可命性对 仪表的可书性起关健制约作用。没有高可那性的探侧器就不可能有离可书性的仪表。 GM计数管此〔处指高亩欢葬灭G-M计数管)是一种气体电离核辐射探侧器。由于它具 有许多独特的优点而得到广泛的应用。它的翰出信号幅度大，无须复杂的电子线路放大就可以 直接推动效字电路。信号福度均齐、信嗓比高，大大减小了电路阴值波动带来的侧t误差。它的 灵敏度离、结构牢固、环境适应性好、价格较低，从而大t使用于各种核辐射探洲与辐射防护仪 器设备中.与闪烁体、半导体探侧器共同成为当今使用最广泛的三种核辐射探洲器。 自GM计数管间世以来已有70多年的历史。获得广泛应用的卤素GM管也有50余年 的历史。早期的卤素GM计致管性能不够粗定，参数欲移大，失效率高，可书性低。主要表现 为:玻瑞充计数管怕碰毖、易破碎。内部应力消除不彻底，易炸裂确气。处理工艺不完善，性能 参致(包括最主要的乡效— 扮出信号)不租定，而且涟粉使用时闻的加长，不断湃移变化，以 致使仪衰读狱超出容许范围，不能使用。自7。年代以来，国内外在提高计致管的毯定性、可靠 性方面傲了大t研究。在材料、结构和创造工艺方面取得了突玻性进展.先后研侧出了一系列 长寿命、高可攀性的亩索GM管。使亩索管可书性问瓜得以解决。 GM计狱管、与电离室半导体探资签、闪烁体(光电倍增管探头)探侧器一样，属于不可修 复产品(其他通用电子元拐件也如此》。它的可书性应以失效(扭坏或不使用)前的时间一寿命 一来衡t。根据元器件所处状态和使用要求不同，为了研究井解决不同状态下的可书性向题， 又可将寿命其体分为工作舟命和徽存寿奋.根招工作状恋不同又可将工作寿命分为连续工作 寿命和断续工作寿命。连续工作密命一般简称为工作寿命.即GM计致管在连续加电井有射 线服射条件下的寿命。实脸证明，工作寿命的长短与工作负荷、即计致管输出计致率的高低亦 即服射水平的高低有直接的关系。所以衡t工作寿命一般以计致管的皿积计效表示，个别也用 98 规定照射水平照射下的工作时间来表示. 断续工作寿命是指一般辐射探测仪器使用条件下的寿命。例如巡检仪器、辐射防护仪器、 环境监侧仪器等。在这种状态下，计数管不是连续工作(有时加电.有时不加电)的，即使一直加 着工作电压(如核电站固定式环境监侧仪表)，但由于辐射水平很低，工作负荷很轻，近乎没有 工作.工作在这种状态下的辐射探测仪器设备还比较多(占辐射探侧仪器设备的多效)，但具体 情况又不尽相同.把这种情况归一化(规范化)相当困难.为了研究方便，把这种状态下的寿命 简称为通“常使用寿命”。对这种状态下的可攀性间题只能进行统计分析。通常使用寿命一般 用失效率和寿命特征蚤来表示。 储存寿命即各种储存状态下的寿命。其最有意义的是在标准仓偏条件下的保存期。这也 必须经过统计分析得出。所以也应该用失效率和寿命特征t表示。 广泛地说，对恶劣使用月笋的适应能力也是广义的可书性的一个方面，因为各种可书性指 标的得出都是在一定环境条件(或称标“准实验条件b)下得出的，偏离标准条件，指标往往没有 意义.所以，可书的探侧器也应该具有适应各种恶劣使用环境(离握、低沮、纽热、振动、冲击、摇 摆、颠绝、尘沙等)的能力.对于这种环境下的可靠性间题，限于篇福