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X射线系列实验 ——检验莫塞莱定律 实验目的： 本实验要求利用德国莱宝公司的x射线试验仪及其附件，做一系列实验，从而对x射线的产生原理 ，特点与应用有较深刻的认识，并提高独立从事研究的能力 实验原理： 波长在10-8m到10-11m范围的电磁波成为X光。 当高速运动的电子与原子中的内层电子相互作用，使其跃迁到外层(成为激发）甚至脱离原子的束缚（成为电离），从而在原子的内层形成空位。这是，外层电子就会向内层跃迁，以填补空位，并发出波长较短的光子，通常为X光 这类X光在光谱图上表现为窄线，成为“线光谱”，这种光谱反映了靶材物质的特性，也称为“X射线特征光谱”。 钼靶X光管发出的特征谱 实验仪器： 德国莱宝公司的X射线实验仪及其附件。 X光管示意图： 实验专用软件：X-ray Apparatus 背景简述： 莫塞莱（Moseley,Henry Gwyn-Jeffreys） 　　英国物理学家。1887年11月23日生于多塞特郡韦默思；1915年8月10日卒于土耳其的格利博卢。 莫塞莱定律 ： 1913 年H.G.J.莫塞莱研究从铝到金的38种元素的X射线标识谱K和L线，得出谱线频率的平方根与元素在周期表中排列的序号成线性关系。即 检验莫塞莱定律（Moseley’s law) 内层电子的电离是物质对X光吸收的主要原因。X光若要电离某一壳层（如k层）的电子，则其能量E必须大于该壳层电子的结合能Ek,即E Ek, 用相应的波长λ=hc/E来描述则有：λλk。当波长小于λk而越接近于时，越容易激发电离，因而吸收系数越大；但一旦波长大于λk，吸收系数就会突然下降。因此，吸收系数在λk两侧有一个突变，可以预计吸收系数随波长的变化应如下图所示。 我们把系数发生突变处所对应的波长λk等成为该材料的吸收边。 其中R为里德堡常数，Z为原子序数， 称为K壳层的屏蔽系数，实验表明，K壳层的屏蔽系数 在原子序数为30到60的范围内可视为常数。 实验方法： 分别在无吸收片和有Zr吸收片、Mo吸收片、 Ag吸收片、In吸收片的情况下测量Nacl晶体 的衍射谱。 吸收片宜安装在X光的出射光阑处 求出上述四种材料中的透射率随波长的变化。 第一次“失败”的图形： 去除干扰图像后的波形 如何标记？Zr、Mo、Ag、In的k壳层吸收边位置 红色：锆 紫色：银 蓝色：钼 绿色：铟 取突变处的波峰至波谷 得到拟合直线如下： ，与理论值误差为：0.125% =3.1，与理论值误差为：13.8% 取突变处的直线部分： ，与理论值误差为：2.24% =3.7，与理论值误差为：2.78% 结果与讨论： 从上述用两种不同的方式选取吸收边，得到的拟合图像及数据可明显看出，选取“从波峰至波谷的全范围”的方法得到的与理论值偏差极大，达到了13.8%，而“选取直线部分”得到的结果，R和 的误差均在2%至3%之间，误差较之前者小得多。 因此检验莫塞莱定律选取吸收边时应当选取突变处的直线部分，实验结果将更为理想。 吸收边图像与理想情况的差异分析： 吸收边图像与理想情况的差异分析： X射线能量已不能将内层原子的K层电子激发，只能与外层电子作用。此时电离电子的能量近似是Ek. 因此，此范围获得的吸收限数值更符合理论推导出的莫塞莱定律。 —————上述资料引自《莫塞莱定律验证实验中吸收边的研究与应用》