第一章_X射线衍射分析.ppt

r1----斑点和底片中心的距离 D1----试样与底片间的距离 透射法： r1 r2 D1 （3）劳厄图的计算——根据劳厄斑位置 求θ r2----斑点和底片中心的距离 D2----试样与底片间的距离 背射法： 5. 劳厄图的对称性——10种不同的对称情况 基转角α：旋转最小的角度，与本身重合 轴次 n =360°/ α 对称元素： 对称轴 对称面 对称中心 表征对称元素的符号： 对称型符号 国际符号 圣弗里斯符号 底片 入射X射线 二、转动晶体法（转晶法） 单色X射线照射转动单晶体产生衍射的方法。 简称转晶法； 旋转法； 周转法。 入射波长λ固定；标识X射线； 以 固定 方向投射到样品上； 样品绕某确定轴线（常是垂直于入射线方向的一根轴线）作等角速旋转； 旋转过程中，各面网族与入射线的夹角θ都各自在一定范围内连续递变，在转到某些适当θ角的瞬间，便有反射线产生； 圆筒状的照相底片来记录衍射花样。 1. 概 述 转晶相机 衍射斑点分布在一系列平行直线上——层线 零层线——通过入射斑点的层线 正负第1、第2 …、第n层线——对零层线对称 调节晶体某一晶轴方向与圆筒轴(旋转轴)一致 入射X射线方向与旋转轴垂直 α=90° 2. 转晶法衍射花样特征 ①测定单晶试样的晶胞常数 ②观察晶体的系统消光规律，以确定晶体的空间群 3. 转晶法应用 ① 测定单晶试样的晶胞常数 层线是由垂直于转动轴的一组倒结点面形成的； 设该组倒结点面的面间距为d* 与之对应正点阵中沿转动轴方向结点间距T=1/d*； 称T等同周期；当晶胞基矢方向与转轴一致时，T就等于晶胞常数。 假设与第n层线对应的衍射圆锥的半顶角为φn，则： 设第n层线与零层线距离为ln，圆筒形底片半径R，则： X射线波长、照相机半径R已知，测量出ln ，就可算出转轴方向的等同周期T的数值。 针孔法 德拜法 §1.5 多晶体的研究方法 粉末照相法 衍射仪法—— 粉末衍射仪 底片记录—— 计数管记录—— 粉末法/粉晶法 粉末或多晶体样品 入射λ固定 标识射线 固定方向投射到样品上 样品所含晶粒数极庞大，每mm3可达109个或更多 各晶粒的空间取向 杂乱无章 必然产生衍射线 对于所有晶粒中任一 (hkl)面网族： 它们与入射线夹角θ，包含0～90几乎一切可能值，即θ可变 则总存在某些晶粒，其(hkl)面网族与入射线夹角θ适当 -------→ 满足反射条件而产生反射 一、粉末或多晶体衍射原理及衍射圆锥 反射圆维面 对于各晶粒的同一hkl晶面： 小晶粒数极多，满足Bragg方程晶面族(hkl)也很多， 它们与入射线的方位角都是θ（晶面以入射方向为轴旋转一周） 则反射线分布在以入射线为轴 2θ为半顶角圆锥面上。 不同的晶面族的衍射角2θ不同； 衍射线所在圆锥的半顶角也就不同 各晶面族衍射线构成一系列以入射线为轴同顶点圆锥。 入射X射线 粉末或多晶样品 V IV III II I 4θ 圆锥顶角4θ 称低角度区 称高角度区 二、粉末样品制备 一般要过 250～325目（孔／每平方厘米） 筛孔(手试无颗粒感) 样品均匀铺在干净玻璃板上； 取一根玻璃丝，其上涂一薄层胶水或粘合剂，在粉末中滚动，制成了粗细均匀的圆柱试样（d=0.3~0.8mm） 。 颗粒度要适宜： 太大(10-3cm)则参加衍射晶粒数少，衍射线条甚至不连续。 太细(10-5cm)，使衍射线条变宽。 ? 制样方法： 目数大小决定了筛网孔径的大小，而筛网孔径大小决定所过筛粉体的最大颗粒Dmax。 用目数来衡量粉体颗粒大小不恰当，应该用粒径（D10,中位径D50，D90）来表示颗粒大小，而用目数折算最大粒径。 D3 D50 D97 0.9μm 2μm 4μm 代表：2μm的粉，其中小于0.9 μm的不超过3%、 大于4 μm的不超过3%。 三、粉晶照相法——针孔法 底片垂直于入射线方向安置 底片记录的是一系列同心圆 三、粉晶照相法——德拜-谢乐法 长条形底片卷成圆筒，使圆筒轴线与入射线垂直，这样记录衍射线的方法称为德拜-谢乐法， 又称德拜法。 长条形底片上的一系列圆弧 （一）德拜衍射图： 入射线方向 衍射线方向 2θ 透射线 透射口 入射口 （二）德拜相机 圆筒形包壳 光阑2个 试样架 （细棒/多晶丝试样） 底片紧贴圆筒外壳内壁 相机直径一般为57.3mm或114.6mm 承光管 出射光阑 （三）德拜法底片的安装 长条状底片, 其安装方式可分以下几种 :