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第 卷 第 期 低 温 物 理 学 报 !
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年 月 +,-(./.0123(4516517 8.9:.34823.:,;/-+/ !
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K(=薄膜热稳定性和微结构的关系研究
蔡衍卿 姚 忻 李 刚 饶群力
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上海交通大学理学院物理系!上海 !))!?)
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我们已报道过 #的过热现象并且对其过热的机制进行了研究 #
;DL+F1 ;D+1 ’
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! = B#
在本文的工作中!主要研究了 薄膜的微结构对于其过热行为的影响 通过高温金相
;D+1 ’
显微镜对具有不同微结构的;D+1 薄膜的不同的熔化行为进行了实时观测!并且用原子力
显微镜 #和 射线衍射仪 #对这些具有不同品质的薄膜进行表征 结果表明!
469 P P3e ’
;D+1薄膜的微结构对于其过热度以及整个薄膜熔化的过程有很大的影响!高品质的薄膜
具有低界面缺陷比率!由此导致了其在熔化过程中较高的过热度 本文同时在实时观测!
’
469 和 P3e所得到实验结果的基础上!通过半共格界面能的理论很好的解释了;D+1 薄
膜在不同的微结构情况下体现出来熔化和过热行为的差异’
关键词钇钡铜氧薄膜!过热度!结晶品质!半共格界面!界面缺陷
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’(7 CW)) W!C)( =?)
*引 言
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目前!对于晶体过热现象的研究越来越受到人们的注意!探讨不同模型的过热机制具有
十分重大的科学意义 根据过热的理论!假如能有效抑制自由界面或晶界上的异质形核!晶
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体可以被加热到超过它的平衡熔点 # 年! 等人首次报导了被包裹在 系
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统中的4 颗粒的过热现象!其中4 颗粒可以过热到超过其熔点 !#O 的温度并且保持 *
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