对称振子天线阵的近场平面波综合研究.pdfVIP

2005’全国微波毫米波会议论文集 对称振子天线阵的近场平面波综合 贺磊，于丁，傅德民 (西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室，陕西西安710071) 摘要：近场测量中被测天线的平面波照射是测量的关键技术之一。该平面波的质量赢接影响着测餐精 度的高低。本文采用最小二乘法对对称振子平面阵进行平面波综合，考察了阵单元间距与测量距离对平面 波综合效果的影响以及该方法在天线散射测量的适用能力，最后对最小二乘法对待测天线方向图进行模拟， 给出了模拟方向图与理论方向图的比较。 关键词：近场测量；天线阵；平面波综合 无论天线测量还是散射测量都要对待测体进行平面波照射，该平面波的质量直接决定着 测量精度的高低。当前常用的远场法、紧缩场法和近场法其实质就是以不同的方式产生准平 面波¨J。其中用一个适当激励的探头阵列产生准平面波的方法可以对测试区域的场进行更高 程度的控制而且适用于低频情况【2】。在该方法中，寻求一种合适的算法计算出阵列单元的复 数权用以综合出更高质量的准平面波就成为应用该方法的关键。 1975年JOSEPHR．MAUTZ等人提出加权最小二乘的天线方向图综合方法【3】而后更多 的应用于相控阵天线的方向图综合中，也有学者将其应用于电磁敏感性测试中[41。本文基于 方向图的数值综合方法，具体介绍了在近场测量中用最小二乘法对对称振子平面阵的平面波 综合，考察了在应用该方法中阵单元间距与测试距离变化对平面波质量的影响，用以对特定 的天线阵寻求最佳的测试距离，综合出更高质量的平面波。同时考察该方法在近场测量平面 波综合中的角度扫描能力，将综合出的准平面波照射待测天线所产生的模拟方向图与标准平 面波照射下天线理论方向图比较，有很好的近似，验证了其有效性。 1理论基础及数学模型 在用探头阵列产生准平面波的方法中，依赖于平面波区域的大小和测量距离不同，往往 需要大量的探头且对于每一个探头需要一个考虑互耦的幅相激励系数。这种情况可以通过在 探头阵列单元的位置上扫描一个单个探头来避免。其基本思想为：对于每一个扫描位置，记 录下待测天线对单位激励探头的响应。由于天线系统是一个线性系统，待测天线对整个探头 阵列照射(准平面波照射)的响应就可以用天线对单个探头响应的加权求和来计算。在此过 程中，阵列单元的复数权仅存在于计算机中。基于一次扫描，应用不同方向上准平面波照射 所综合出的加权集合就可以得到关于待测天线在不同方向上的远场信息。 如图(1)所示，由半波振子构成的矩形天线阵列位于xoy平面上，半波振子沿y方向 放置。设沿X轴方向的半波振子数为MO，沿y轴方向的半波振子数为NO，共Ⅳ个振子 单元。阵列单元沿x方向的问距为出，沿Y方向的间距为咖。距天线阵距离d处待测天线 面沿X方向的取样点数为M7，沿y方向的取样点数为Ⅳ’，共取M个取样点。沿X方向的 取样间隔为血，沿少方向的取样间隔为△少。 1553 200 5’全国微波毫米波会议论文集 y ／ __———● 且x 2h} ＼ ?‘形 ／ro／ r2～ d 一 、 ／ ／ … -一—_ ／ 图(1)对称振子面阵在指定面上产生准平面波 图(2)对称振子单元 我们推导出电流分布，的对称振子单元在近场区所产生的场，设对称振子上的电流分布 ‘、 y|，。 ，：