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HPE5501B在相位噪声测量中的应用
张爱敏 李黎明 李荣成
中国计量科学研究院 北京 100013
电话
.棍述
本文主要讨论 HPE5501B在微波信号源相位噪声测量中的应用,即将
RPE5501B的测量频段由1.6GH:扩展到18GHZ的方法,并给出测量系统噪声
本底的计算方法及典型测量结果。
. 引言
目前,无线通讯,卫星通讯及雷达系统发展迅速,为了实现这些先进系
统的总体性能指标,对信号源频谱纯度的要求越来越高,以至于目前已把相
位噪声作为检验信号源品质的根本依据,技术市场对优质信号源的需求也带
动了对测量系统本身的改进及测试方法的完善。
美国惠普公司自七十年代起推出一系列相位噪声测量商品系统,最新推
出的系统为E5500系列,我院在世行货款项目中引进系统E5501B,该系统
采用传统的正交鉴相法,将被测源的随机相位起伏转化为与之成正比的随机
电压起伏,由计算机和频谱仪进行谱分析。简化框图如下:
图1HPE5501B原理图
BPE5500系列测量系统在计算机控制下完成自动测量,性能可靠且操作
简便,其中E5502/03/04系统内部含有下变频器,其测量范围分别为6,0,
18.0,26.5GHz,但 B5501B测量范围仅为 50kHz一1.6GHz,知何利用这一
系统及我们现有的仪器设备测量徽波频率源的相位噪声是本文着重要讨论的
内容.
.徽波须率源相位噪声的浏rI}
当测量微波信号源的相位噪声时,要找到低噪声的微波频率源作参考信
号及在微波频率上直接鉴相是很困难的,通常解决的办法是利用低噪声的下
变频器将被测源的频率变至RF/IF频段,这样就可以用低噪声的射频信号源
作参考源和射频段的鉴相器。这种方法即为二次下变频法。利用这种方法测
量技术简单,可充分利用射频段已有的相位噪声测量设备,通过二次下变换
将微波段的测量转化为射频段的测量,避免了在微波段调整技术的困难,大
大降低了成本。
我们利用载波噪声测试器HP11729C的下变频功能,将被测微波频率下
变频至5-1280MHz频率范围内,配合HPE5501B完成对微波频率源的相位噪
声测量.测量框图知下:
64似Hz
图2微波源相噪测试原理图
实际工作中我们选用低噪声须率综合器HP8662A作为参考源,_它的640
MHz输出具有优良的相位噪声特性,将其作为HP11729C的参考抢入,HP11729C
将被测微波频率下变频至 5MHz一1.28GH:范围内,其愉出信号与HP8662A
输出的可调的5MHz一1.28GHz信号输入到HPE5501B的鉴相器内进行鉴相,
利用E5501B的功能完成对被测微波频率源相位噪声的测量.
.浏试系统噪声本底
通过对测量系统原理框图的分析可以看出,该测量系统的残余相位噪
声主要来源于640MHz参考信号,HP11729C 5-1280MH:可调信号源
(HP8662A)及E5501B系统,因此该系统的相位噪声本底可由下式计算:
£系挽二10log(Nx1011130,10t2/10+10L3/10t1pf4n0)
其中: N二HP11729所选的滤波器中心频率/640M滋
£,二640MHz参考信号的绝对单边带相位噪声 d〔Bc/Hz)
#,=5一1280MHz可调信号 (HP8662A)的绝对单边带相位
噪声 (dBc/Hz)
£、一HP11729C的残余相位噪声 (dBc/Hz)
£。一E5501B的残余相位噪声 (dBc/Hz)
通过对具体数据的分析与计算,可以得到下列系统本底 (dBc/Hz):
频偏 3.2一 5.76- 8.32一 10.习8- 16-
31..22G8H-z5.76GHz 8.32GHz 10.88GHz 13.44GHz 1136.G4H4z-18.560H.
1Hz -53
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