高温加速试验的案例演示.pptxVIP

高温加速试验的案例演示;考虑到长期工作试验周期长、经费高，在当今科学技术水平迅速发展、设备应用周期短等特点的制约下，仅仅依赖长期工作试验来评价集成电路的可靠性是不科学的。为了解决这个问题，加速试验被广泛应用来激发产品潜在缺陷，缩短试验时间，以期得到更多的可靠性信息。将在高应力水平试验下获得的寿命、性能信息通过合理的统计方法外推，就可以得到常规应力条件下可靠性或寿命的估计。加速寿命试验(ALT)与加速退化试验(ADT)是加速试验技术的两个重要组成部分。 ;;中频对数放大器是功率放大器的一种，同时具有选频的功能，即对特定频段的功率增益高于其他频段的增益，它是组成超外差接收机的一种。 ;中频对数放大器外部结构和接口信息;试验设备 可程式高低温试验箱（-60℃~150℃） 直流稳压电源（MATRIX直流电源MPS-3003L-3，0~30V） 微波信号发生???（HPE4433B，信号频率高达3.4GHz） 检验仪器 毫欧计（QuadTech1880，测量精度为mΩ） 数字电压表（KEITHLEY 2002，测量精度 ） 射频频谱分析仪（HP8591E，可测量频率高达1.8GHz） 示波器（DSO0804B，可测量频率高达3GHz） ;试验剖面;参数测量;1.分别对试验样品进行编号。中频对数放大器的编号记为W1和W2。 2.在试验前对器件分别进行初始检测，包括贮存前产品（新）的性能参数值和