闭环步进伺服系统螺距误差分析及补偿装置的设计.docVIP

目录 1 绪论 2 1.1数控技术的发展现状和发展趋势 2 1.2毕业论文设计的内容要求 3 2 总体介绍 4 2.1 主要技术参数 4 2.2 总体布局 4 2.3 控制形式 4 2.4 数控装置 4 3 机械部分介绍 5 3.1 滑台 5 3.1.1 导轨 5 3.1.2 丝杠 6 3.1.3 电机 8 3.2 转台 8 3.2.1转台电机 8 3.3 检测元件 9 3.3.1 光栅 9 3.3.2 编码器 9 4 通用运动控制器控制系统的介绍 10 4.1 运动控制器概述 11 4.1.1 运动控制器的构成 11 4.1.2 运动控制器的特点 12 4.1.3通用运动控制技术及运动控制器的发展 13 4.2 PMAC运动控制卡 16 4.2.1 PMAC运动控制卡介绍 16 4.2.2 PMAC运动控制卡应用 17 5基于PMAC运动控制卡构建数控系统 18 5.1系统硬件组成 18 5.1.1 工控机（IPC） 19 5.1.2 PMAC2A-PC104运动控制卡组 20 5.1.3 I/O板 20 5.1.4 硬件控制系统的结构 21 5.2 系统软件结构 21 5.2.1 概述 21 5.2.2 系统控制软件 22 6数控技术试验台 25 6.1 数控技术试验台总体结构 25 6.2 机械本体 25 6.3 伺服驱动系统 27 6.4 反馈检测装置 28 7 数控技术试验台螺距误差试验 30 7.1 试验台螺距误差补偿 30 7.2螺距误差补偿原因 30 7.3螺距误差的补偿原理 30 7.4螺距误差测量实验步骤 35 致 谢 37 参考文献 38 附录 41  1 绪论 1.1数控技术的发展现状和发展趋势 在一些精度要求比较高的伺服控制领域中，由于机械传动装置的刚性、摩擦阻尼等非线性因素和传动间隙等都不包括在半闭环伺服系统的位置环内[1]。大部分传动间隙、弹性变形、滚轴丝杠的误差及滞后得不到补偿，使其位置精度的提高受到了很大的限制。为了克服半闭环伺服系统的这种不足，利用线位移光栅位移传感器安装在机床的工作台上，用以检测机械传动机构中由螺距误差、间隙及各种干扰所造成的传动误差。采用的转角-线位移双闭环位置控制，并进行反馈补偿控制从而提高机床的位置控制精度。同时还能保证全闭环伺服系统具有良好的稳定性。位置伺服控制系统的精度在很大程度上决定了数控机床的加工精度。 为了保证有足够的精度，一方面要正确选择系统中开环放大倍数，另一方面要对位置检测元件提出精度要求。因为在闭环控制系统中，对于检测元件本身的误差和被检测量的偏差是很难区分出来的，数控机床的加工精度主要由检测系统的精度决定。位移检测系统能够测量的最小位移量称做分辨率。分辨率仅取决于检测元件本身，也取决于测量线路。在设计数控机床、尤其是高精度或大中型数控机床时，必须量，一般要求比加工精度高一个数量级。总之，高精度的控制系统必须有高精度的检测元件作为保证。所幸，用于数控机床的大量程长度和圆分度传感器已获得了长足的发展，普遍获得应用的光栅、磁栅系统等，其分辨率与精度都有明显的提高。例如：用于数控系统的长度检测元件，其分辨率可在0.1~5um之间选择。 1.2毕业论文设计的内容要求 根据位置伺服系统在机床上的应用，研究位置伺服系统的结构特点，位置伺服系统的误差对机床加工精度影响。本课题利用机械学院数控试验台，通过光栅传感器测量位置误差，研究影响位置伺服系统误差的因素，用MATLAB软件分析误差分布，找出误差与运动之间的规律，设计位置控制器以及误差补偿装置，使位置系统的运动精度达到要求。 具体任务如下： 了解本课题目前有关情况，完成楷体报告和英文翻译。 熟悉机械学院数控试验台的结构和控制系统，绘制数控试验台结构图和控制系统原理图各1张，A0。 测量螺距误差，找出误差规律。绘制误差分布图1张，A3。 设计及误差补偿装置，绘制补偿装置图1张，A1。 编写设计说明书1份，格式和字数满足学院要求。 2 总体介绍 2.1 主要技术参数 系统达到的技术指标为：脉冲当量0.01mm，多坐标联动控制，行程400mm，最大移动速度2m/min。螺距P=5mm。 确定Z向行程400mm，X、Y向行程200mm；B、C两个转动轴每脉冲转角不大于5分。 Z向采用光栅测量位移，分辨率为0.05mm；X、Y、Z、B、C向电机轴上装编码器，分辨率不大于5分。 2.2 总体布局 试验台总体布局如图1.1所示。 2.3 控制形式 X、Y、B、C向采用半闭环控制；Z向即可采用闭环控制，也可采用半闭环控制。 2.4 数控装置 数控装置采用工控机（IPC）+运动控制器（PMAC） 数控技术试验台外形(Appearance of NC technology experi