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1、基本概念: 晶面，晶向，晶面指数，晶向指数，晶带，晶面簇，晶面间距，晶面夹角，以及它们之间的关系。 第二章 X射线衍射方向*** 2、布拉格方程＊＊＊＊＊ 3、布拉格方程的讨论＊＊＊＊＊ 4、布拉格方程的应用：（1）利用已知波长的X射线，通过测量θ，可以计算出晶面间距d。这种工作叫做结构分析(structure analysis)；（2）利用已知晶面间距d的晶体，通过测量θ角，从而计算出未知x射线的波长。这种方法就是X射线光谱学(X－ray spectrometer)。 5、Ｘ射线衍射方法（粉末法） ＊＊＊＊＊ 第三章 X射线衍射强度*** 1、X射线衍射花样特征(衍射方向、衍射强度）及他们的决定因素。 2、衍射强度的影响因数:何谓系统消光,结构因数、罗伦兹因数、多重性因数、吸收因数及温度因数 3、衍射强度积分公式及各物理量的含义 第四章 多晶体分析方法* * * 1、德拜法及德拜相机 要解决的问题: 如何得到圆锥的照片? 如何测定2θ角? 如何由θ角推算出圆锥所属的晶面? 相机的安装,花样获得。 2、衍射花样的标定:原理、方法与步骤。 3、X-射线衍射仪：结构（了解）、x射线测角仪—解决聚焦和测量角度问题：测角仪构造、衍射几何、晶体单色器的原理；辐射探测仪——解决记录分析衍射线能量问题：各种探测器原理、衍射强度的测量方法、实验参数的选择. 4、X-射线衍射仪的显著优点: X-射线衍射仪则自动化程度高,系统提供一套PDF数据库，可自动检索物相,操作简单. 第五章 X射线物相分析**** 1、 定性分析：何谓X射线物相定性分析，物相分析与化学分析的比较，定性分析的基本原理，何谓PDF卡片，卡片各栏的意义，物相定性分析的步骤． 2、定量分析 定量相分析基本原理：何谓X射线物相定量分析，定性分析的基本原理 定量相分析方法 ： 单线条法（直接对比法）；内标法；K值法及参比强度法；不需要计算，但要知道如何分析，认真参看以上三种方法的实例． 第八章 电子光学基础 1、何谓电子波，与可见光相比，具有的优势是什么（波长短，分辨率高，为什么？）。 2、电磁透镜的聚焦原理，特点。 3、各种像差的定义，形成原因及解决方法，分辨本领与影响因素。 4、景深和焦长 第九章 透射电子显微镜 1、整体结构 2、电子光学系统：电子枪，成像系统 ，成像系统的两个基本操作及原理* * ，透镜的总放大倍数。 3、主要部件的结构与工作原理：消像散器，光阑。 第十章 电子衍射* * * * 0 概述：为什么可以进行组织形貌与晶体结构同位分析 ？不同晶态材料的电子衍射花样特征；电子衍射和x-射线衍射的比较。 1 电子衍射原理：电子衍射花样与晶体结构的”桥梁“是什么？何谓倒易点阵，性质，与正点阵间的关系如何?何谓爱瓦尔德球；什么是倒易基矢和倒易矢量?根据倒易矢量,我们能了解什么?什么是零层倒易截面?零层倒易截面与衍射斑点间的关系如何?利用零层倒易截面，如何确定晶体衍射面的相对方位？任意晶带的标准零层倒易截面获取方法与原理。衍射斑形成条件是什么?电子衍射的基本公式是?公式中各物理量的概念是什么?为何实际操作时，即使晶带轴和电子束的轴线严格保持重合(即对称入射)时，仍可使g矢量端点不在爱瓦尔德球面上的晶面产生衍射？ 2 电子衍射基本公式 3 单晶体电子衍射花样标定：目的是什么？ 第11章 1 晶体薄膜衍射衬度成像原理：何谓衍射衬度，原理如何？ 第13章 扫描电子显微镜* * * 1、SEM的成像原理，特点 2、 电子束与固体样品作用时产生的信号：有哪些 信号，其来源，用途，特点. 3、 SEM的构造和工作原理: SEM中的电磁透镜的 作用与功能;信号的收集和图像显示原理. 4、 SEM的主要性能:不同信号分辨率的差异及原 因;影响SEM分辨率的因素; SEM分辨率的 测定;放大倍数. 5、 表面形貌衬度原理及其应用:表面形貌衬度原理;应用. 第十四章 电子探针显微分析* 1、功能：主要是进行微区成分分析。 原理: 用细聚焦电子束入射样品表面，激发出样品元素的特征x射线，分析特征X射线的波长(或特征能量)即可知道样品中所含元素的种类(定性分析)，分析x射线的强度，则可知道样品中对应元素含量的多少(定量分析)。 2、波谱仪的结构和工作原理:波长分散谱仪原理,平面分光晶体的作用. 3、能谱仪的结构和工作原理:能量分散谱仪原理,锂漂移硅Si(Li)检测器的作用和原理,可进行点\线/面分析. 第15章 其它显微分析方法 1、俄歇电子能谱法(AE