用于微放电器的聚酰亚胺绝缘层的工艺和性能研究.pdfVIP

用于微放电器的聚酰亚胺绝缘层的工艺和性能研究.pdf

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真空科学与技术学报 第31卷第1期 114 AND CHINESEJOURNALOFVACUUMSCIENCETECHNOIDGY 2011年1、2月 用于微放电器的聚酰亚胺绝缘层的工艺和性能研究 张秋萍文莉’ 向伟玮 曾洪江何利文褚家如 (中国科学技术大学精密机械与精密仪器系 合肥230026) FabricationandPerformanceof Insulating of Micro—PlasmaReactors PolyimideLayers 撕Qiuping,WenLi。,XiangWeiwei,zellgHongjiang,HeLiwen,ChuJiaru Prec/swn and SoL-neeand (Oemtm删ofMach/o日yPrec/stbn/nstrumentatfim,v,a肌ayTechno/ogyCh/na,艘觑230026,Ch/na) of of AbstractAnovel was tofabricatethe fdmfor re— techniquedeveloped insultingpolyimide(PI)thinmicro-plasma actor.The ofthePIimidizationandtheion thereactiveion flow impacts etchingconditions,includingetchingrate,gas the rate,film and residueswereevaluated.A rate,gascompositions,and etching queryetching cleaningprocedures,on Was of PI dedicated tomeasurethedielectriccoefficientandbreakdown the films.Theresults circuitrydeveloped intensity showthattheimidizationmodeandion conditionsaffectsthefilm andthe rate.Forin- etching strongly quality etching rateand PIfilmscouldbeobtainedwiththePIrawfilmsimidized andetched stance,hi【曲etchinggood bysteppedheating underthe reactive of60 flowrateof60 conditions:a W,an cm3/min(standarda following etchingpower oxygen

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