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四路智力竞赛抢答器制作 根据下图完成下列工作任务： 1.参照下图正确组装电路； 2.电路组装完毕后，对电路进行相关电路参数测量； 3.根据检测结果分析故障原因，排除故障。 图7-19四路智力竞赛抢答器电路原理图 操作步骤 准备工具 核对元器件数量与型号 用万用表检测电阻阻值是否正确 用万用表检测发光二极管极性 用万用表R×10k档，当正向接入时，能使发光二极管导通，如果万用表指针向右偏转过半，同时二极管发出微弱的光电，表明正向介入，此时黑表笔为正极，红表笔为负极。否则发光二极管存在质量问题。 用万用表检测按钮开关接点 检测74LS175集成芯片 正确判定74LS175集成芯片引脚功能与排列顺序。 图7-20集成芯片74LS175引脚及排列 用万用表鉴别74LS175集成芯片质量方法：下表是74LS175集成芯片逻辑功能表，利用它的逻辑功能判断其芯片的好坏。 输入 输出 CLR CLK D Q 0 × × 0 1 1 ↑ H 1 0 1 ↑ L 0 1 1 L ↑ Q0 在电源16脚上，按电源电压值接好（5V）。接地，即为0，是低电平输入，1Q、2Q、3Q、4Q用万用表测，应为0.4V以下，即逻辑0；输出端、、、用万用表表测用为3.6V左右，即逻辑1，是高电平输出。若将输入端1D接地，端悬空（逻辑1），CLK端由接地到悬空的瞬间，用万用表测输出端1Q、2Q应在0.4V以下（即逻辑0），用万用表测输出端、应为3.6V左右（即逻辑1），是高电平输出，则此集成块合格。 检测74LS20芯片 74LS20芯片引脚及排列如下图所示。 图7-21集成芯片74LS20引脚及排列 74LS20芯片测试方法同74LS175，根据它的逻辑功能来测量。74LS20芯片功能表如下表所示。 A B C D Y 1 1 1 1 0 0 × × × 1 × 0 × × 1 × × 0 × 1 × × × 0 1 74LS20芯片测试：只要通过对输入1111、0111、1101、1110五项进行检测就可判断其逻辑功能能是否正常。 检测74LS04芯片 74LS04芯片引脚及排列如下图所示。 图7-22集成芯片74LS04引脚及排列 74LS04芯片逻辑功能能表如下。 A Y 0 1 1 0 元器件布局 本次任务采用万能板进行安装，首先应该在万能板上进行元器件布局。元器件布局之前应该读懂电路原理图，在确认电气原理图没有问题之后进行元器件布局。元器件布局应合理，接线尽可能少和短，确保电气性能优良。下图为布局参考图。 图7-23四路抢答器布局参考图 安装 预加工：先对元器件进行预加工，用小刀刮去元器件引脚上的氧化物薄层，清除焊接处的油污、灰尘等。用镊子适当的修剪，然后搪锡。 对照布局图挿装元器件：按照布局图从左到右、从上到下的顺序依次安装电路元器件，避免漏装。集成芯片要用IC插座进行安装，即先将IC插座焊接在万能板上，然后将集成芯片插在IC插座上。安装时应注意： 制作前正确识别集成芯片引脚排列以及各引脚的功能。 安装发光二极管时要注意安装的极性； 电阻色环朝向要一致，即水平安装的第一道在左边，竖直安装的第一道色环在下面。 连接导线：元件挿装完成后，用导线将元器件按照原理图连接起来，组成完整的电路。 检查：全部焊接工作完成后，要认真检查各焊接点是否合格，要防止虚焊。检查完毕要对焊接表面进行清洁。 调试电路 工作原理分析：图7-19中U1为四D触发器74LS175,它具有公共置0端和公共CLK端，引脚排列参考图7-20所示；U2为双4输入与非门74LS20；U3为六反相器。U2、U3组成抢答器电路中的CLK时钟脉冲源，抢答开始时，由主持人请出信号，按下复位按钮SB，74LS175的输出Q1~Q4全为0，所有发光二极管LED均熄灭，当主持人宣布“抢答开始”后，首先作出判断的参赛者立即按下各自按钮开关，对应的发光二极管点亮，同时，通过与非门U2送出型号锁住其余三个抢答者的电路，不再接受其它信号，直到主持人再次清除信号为止。 通电前的安全检查：检查是否有漏装的元器件或连接导线；检查各个元器件是否有极性接错、漏接等错误；检查直流电源电压是否太高或太低的情况。检查确然无误，才能通电调试。 按下复位按钮复位。 按下1号按钮，观察相对应的发光二极管是否点亮。 如上步骤，先按下复位按钮，再按下其它抢答按钮，观察2、3、4号键对应的发光二极管是否都点亮了，如果都点亮了说明电路工作正常。否则说明电路不正常。 典型电路故障分析 完成电路安装后，对电路可能的故障进行分析，集成电路故障检修与分离元器件相比，如果方法得当则更加容易。 故障现象一：按下按钮SB1，发光二极管LED1不亮。 解决方法： 用万用表检查电源接入点，即74S175的16脚输入电压是否为5