粉末X射线衍射仪器的应用向立人四川大学化学学院成都-仪器谱.PDF

粉末 X 射线衍射仪器的应用 向立人 （四川大学化学学院 成都 610064） 摘要 粉末分析是一种重要的晶体结构和物相分析技术。本文简要介绍粉末 X 射线衍射仪 器的发展、原理及其在材料科学中的应用。 关键词 粉末 X 射线衍射分析分析法 材料科学 1．引言 1895 年 W.K.Röntgen 发现 X 射线，这是一种具有很强穿透力的电磁辐射。1901 年获第 一个诺贝尔物理学奖。1912 年，W.L.Bragg 和 W.H.Bragg 建立 X 射线反射公式，为晶体 X 射线衍射法奠定了物理基础，1915 年获诺贝尔物理学奖 。1916 年，P.J.W.Debye 和 J.A.Scherrer 发明粉末法测定晶体结构，1936 年，J.D.Watson 和 F.H.C.Crick 根据 M.Wilkins 对 DNA 的X 射线衍射数据，提出 DNA 双螺旋分子的结构模型，1963 年获诺贝尔生 物学奖。 粉末 X 射线衍射分析仪器得到很快的发展。50 年代以前，出现照相式 X 射线衍射仪， 50 年代初，研制出目前最广泛使用的 X 射线衍射仪，60 年代设计成功了四圆衍射仪，与此 同时采用聚焦原理设计了多晶 X 射线衍射仪，60 年代采用各种辐射探测器制成 X 射线衍射 仪，继而又设计了旋转阳极靶 X 射线衍射仪。80 年代研制 PSPC 探测器 X 射线衍射仪。近十 余年以来，由于X 射线源和辐射源探测设备的不断更新、高速度大容量电子计算机和工作站 的广泛应用，尤其是分子和晶体结构的模型设计乙基高维 （4 维与 5 维）对称群理论的发展， 使得 X 射线衍射学进入一个新的发展时期。X 射线衍射仪和电子显微镜成为使用量最大的大 型分析仪器。 2．粉末 X 射线衍射分析仪器原理 粉末 X 射线衍射分析仪多为旋转阳极 X 射线衍射仪，由单色X 射线源、样品台、测角仪、 探测器和 X 射线强度测量系统所组成。Cu 靶 X 射线发生器发出的单色 X 射线通过入射 soller 狭缝，发散狭缝照射样品台，X 射线经试样晶体产生衍射，衍射线经出射狭缝，散射 soller 狭缝，接受狭缝被探测器检测。 X 射线管发射的 X 射线照射晶体物质后产生吸收、散射、衍射 X 荧光、俄歇电子和 X 电 子。晶体中原子散射的电磁波互相干涉和互相叠加而产生衍射图谱。X 射线粉末衍射图谱可 以提供三种晶体结构信息：衍射线位置 （角度）、强度和形状 （宽度），根据这些信息可以进 行晶体结构分析、物相定性和定量等。现代粉末 X 射线衍射分析仪还配置有电子计算机和软 件，以使衍射仪操作和数据处理实现自动化和智能化。 3．粉末 X 射线衍射分析仪器的应用 3.1 XRD 晶体结构分析 XRD 是目前晶体结构分析的重要方法。粉末衍射法常用于立方晶系的晶体结构分析，测 定晶胞参数，甚至点阵类型，晶胞中的原子数和原子位置。 黄玉代等作锂离子电池正极材料 LiMn O 的XRD 图谱，基于 （111）、（311）、（400）、（511） 2 4 和 （440）五个衍射峰，根据晶面间距 d 和晶格指数 （hkl）的关系： 2d sin θ = λ 2 2 2 1/2 d = a/(h +k +l ) 经拟合得到晶体参数 a450c =0.827nm，与标准晶格参数 a = 0.824nm 基本一致。 2 W 属于金属晶体，根据 XRD 可以求出其晶胞参数 a = 3.175A。衍射线 sin θ的比例中 3 不缺 7，可确定为立方体心点阵 Ⅰ。已知晶体密度为 19.1g/cm ，W 相对原子量为 183.92， 所以晶胞中的原子数 -8 3 23 Z =