SPC统计技术及应用.pptVIP

* * * * * * * * * * （二）计量型数据管制图—— 均值和极差图（X-R） 对于双向容差，计算： Zusl=(USL-X) / σ? Zlsl=(X-LSL) / σ? Z=Min{ Zusl; Zlsl } Zmin 也可以转化为能力指数Cpk: Cpk= Zmin / 3 =CPU(即 ) 或CPL(即 ) 的最小值。 式中: UCL 和 LCL为工程规范上、下， σ? 为过程标准偏差 注：Z 值为负值时说明过程均值超过规范。 X – LCL 3 σ ? UCL–X 3 σ ? （二）计量型数据管制图—— 均值和极差图（X-R） 估计超出规范的百分比 ：（PZ ） a 对于单边容差，直接使用Z值查标准正态分布表，换算成 百分比。 b 对于双边容差，根据Zusl 和 Zlsl 的值查标准正态分布表，分别算出Pzusl 和 Pzlsl 的百分比，再将其相加。 评价过程能力 当 Cpk1 说明制程能力差，不可接受。 1≤Cpk≤1.33,说明制程能力可以，但需改善。 1.33≤Cpk≤1.67,说明制程能力正常。 （二）计量型数据管制图—— 均值和标准差（X-S） 1 过程控制的分析（同X-R） 2 过程能力的分析（同X-R） 估计过程标准差： σ = S / C4 式中：S 是样本标准差的均值（标准差受控时的），C4为随样本容量变化的常数。见下表： 当需要计算过程能力时；将 σ 带入X-R图 2-2的公式即可。 3 过程能力评价（同 X-R） ? n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 C4 0.798 0.886 0.921 0.940 0.952 0.959 0.965 0.969 0.973 ? （二）计量型数据管制图—— 中位数极差图（X-R） 过程能力的分析 （同X-R） 估计过程标准偏差： δ= R / d2 注：只有中位数和极差处于受控状态，才可用δ的估计值来评价过程能力。 ? （二）计量型数据管制图—— 单值和移动极差图（X-MR） 1 过程控制解释（同其他计量型管制图） 过程能力解释 δ= R / d2 式中：R 为移动极差的均值，d2是随样本容量变化的常数。见下表： 注： 只有过程受控，才可直接用δ的估计值来评价过程能力。 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 1.13 1.69 2.06 2.33 2.53 2.70 2.85 2.97 3.08 （三）计数型数据管制图 不合格率P图 过程能力解释 不合格品数nP图 缺陷数C图 计数型数据控制图上的每一点直接表明不符合顾客要求的不合格品的百分数和比值，这就是对能力的定义 计数型数据控制图上的每一点直接表明不符合顾客要求的不合格品的百分数和比值，这就是对能力的定义 过程能力为 u （四）练习 A B C C B A UCL X LCL A B C C B A UCL X LCL A B C C B A UCL X LCL A B C C B A UCL X LCL （1） （2） （3） （4） 请判断以下过程是否存在异常—— 连续14点中相邻点交替上下 一个点落在A区以外 连续8点落在中心线两侧且无一在C区内 连续15点落在中心线两侧的C区内 （四）练习 A B C C B A UCL X LCL A B C C B A UCL X LCL A B C C B A UCL X LCL A B C C B A UCL X LCL （5） （6） （7） （8） 请判断以下过程是否存在异常—— 连续6点递增 连续3点中有2点落在中心线同一侧的B区以外 连续3点中有2点落在中心线同一侧的B区以外