制程统计管制第5章.pptVIP

統計制程管制SPC Statisticac Process Control 第5章計數值管制圖的應用 5-1不良率管制圖(P-Chart) 產品品質特性之測定規格分成合格/不合格/可以/不可以,通過/不通過等的制程,無論其是可以直接測定或無法直接測定的場合,由于不良率管制圖(P-Chart)只是以規格為基準判定其是否符合規格,而且其對品質特性的平均值,制程分散情況并未加以管制,故其無法指出困難發生之所在是屬于平均值或制程分散,所以它比X-R管制圖靈敏度較差,但是在很多場合皆會用到不良率管制圖,如不能獲得計量測定值之特性,機器或作業員其所產生之缺點……等場合. 符號說明,假設制程中產品取樣品進行檢測,現有K組樣本,每組樣本數與不良率如下: 組 號 樣本數 不良數 不良率 第1組 n1 d1 P1=d1/n1 第2組 n2 d2 p2=d2/n2 第K組 nk dk pk=dk/nk 令樣本平均值 管制圖的公式依抽樣的樣本數的不同而可分成三種情形: (1)當各組的樣本數n皆相同時(即n1=n2=….=nK) 此管制區域(即管制上、下限之間的區域)表示在常態分配的假設之下,應有99.73%的不良率值會落在此區域內. (2)當各組的樣本數相差的幅度不超過n的+20%時: (3)當各組的樣本數相有效期的幅度大於n的+20%時: 不良率管制圖(P-Chart)的作法,也是首先要建立P-Chart,待确定制程穩定與确定管制界限後,再建立管制用的P-Chart,有關解析用的P-Chart其順序如下: 順序1:關于欲管理之項目,至少取20組以上的數據. 順序2:分組. 我們知道不良率管制圖其樣數的一致或不一致與其計算公式有關,基本上建議所取的樣本最好一致,如不能一致時,其與n的相差在+50% 以內,另外組內樣本數的大小亦有影響,樣本太大的時變得非常不經濟,而樣本太小時則無法抽取到不良品,會誤導認為制程很好,而無法掌握到制程的動向,故組內樣本數最好能出現4個以上的不良品較為理想. 設平均不良率P=2%,則每組樣本至少應為: 順序3:按產品生產順序或測定時間順序排列組數,并記入管制圖的數據欄內. 順序4:計算每組的不良率(P),并記入之, 順序5:計算平均不良率(P) 因為不良率管制圖其各組的樣本數n不一定會相等,所以在計算不良率之平均值(P)時,不能以各組不良率的總和(ΣP)除以其總組數(K),必須以總不良品數除以總檢查數: 順序6:計算管制線 注:此公式是系n一樣時的公式,當n不一樣時其公式京會不同, 順序7:在管制圖用紙上畫上管制線. 中心線(CL)以實線繪入,管制上限(UCL)、管制下限(LCL)以虛線繪入.并在管制線的尾端記入CL 、 UCL 、 LCL的符號及其值,較容易清析明瞭. 順序8:在管制圖用紙上依組號順序點繪. 順序9:管制界限的檢討 如點皆在管制界限內則代表不良率是在統計管制狀態下,簡言之即在控制中,可沿用此一管制界限作為制程管制用之管制界限,如有一或二個不良率的點在管制界限外,則剔除這一或二組不良率的樣本,然後計算新的管制界限,如其余的點皆在新的管制界限內可視為不良率在統計管制狀態下,則沿用此一管制界限作為制程管制用管制圖的管制界限;如剩餘的點有超出新的管制界限時,則代表不良率非在統計狀態下,此時應找出特殊原因并修正特殊原因,然後予以標準化,并重新搜集新的資料.當有3點以上超出管制界限外,代表制程非在統計管制狀態下,應先予制程安定後重新搜集數據再做一次解析用的管制圖,有關其整個程序則如圖5-1-1所示. 例題:5-1-1,某電鍍工廠其最後成品檢查有一項目為電鍍不良,經搜集20天的數據(如表5-1-1),試做解析用的P管制圖? 不良率P點的流程圖 3)Σn、Σd,P算出并記入不良率(P)管制圖內 Σn =100+100+100……+100=2000 Σd=4+2+0+……+3=54 P= Σn/ Σn=54/2000=0.027 4)計算不良率管制圖之中心線(CL)、管制上限(UCL) 、管制下限(LCL). 5)將中心線(CL)、管制上限(UCL)及管制下限(LCL)繪入不良率(P)管制圖內. 6)將P值點繪至不良率管制圖內,并以實線連接之. 7)管制界限的檢討 由圖5-1-2知道不良率(P)管制圖內所有的點均在管制界限內,代表制程是統計管制狀態下,換言之