06-X射线衍射方法PPT.ppt

第六章 X射线衍射方法;一、德拜照相 二、粉晶X射线衍方法 1、粉晶X衍射仪的原理 2、粉晶X衍射仪的仪器构成 3、试样的制备方法 4、X射线衍射仪的检测步骤 三、单晶X射线衍射方法 ;一、德拜照相;;;f) 对于其他面网也是一样的，也形成顶角为4 ?的衍射圆锥。;h) 环形围绕样品(粉末柱)安装底片，即得到最终的衍射照片。对于其他面网也是一样的，也形成顶角为4 ?的衍射圆锥。;衍射线在底片上留下的形状：;摄谱装置（粉末照相机）如下图所示，相机直径57.3mm或者114.6mm。（相当于周长180mm和360mm);底片的安装方式和对应的德拜照片 A-对称式 B-不对称式 C-倒置式 D-半分式;典型的德拜照片： 金刚石（上）、石墨（下）;*;立方晶系晶格常数计算;利用德拜照片测定晶体常数;二、粉晶X射线方法 1、粉晶X射线衍射仪的原理;2、粉晶X射线衍射仪组成 （1）X射线发生器 （2）单色器 （3）测角仪(探测器) （4）X射线强度测量系统 （5）衍射仪自动控制与衍射数据采集、处理系统 ;粉晶X射线衍射仪外观 ;（1）X射线发生器： 由X射线管、高压发生器、管压管流稳定电路和各种保护电路等部分组成。 ;（2）测角仪 检测2θ （3）单色器 以确保入射X射线和衍射线为单色，以减小背底的影响。;（4）强度测量系统： 常用于X射线检测的检测器有： Geiger-Muller检测器（GC）、正比检测器（PC）和NaI(Tl)闪烁检测器（SC）。 功能：把X射线的强度信号转化成物理的数字信号 ;（5）衍射仪自动控制与衍射数据采集、处理系统： 控制：扫描速度，扫描范围 角度校正，测角仪转动等。 衍射数据处理分析系统 由一些常用的衍射图处理程序集成，主要有6项： 1. 图谱处理； 2. 寻峰； 3. 求面积、重心、积分宽； 4. 去背景； 5. 衍射图比较（多重衍射图的叠合显示）； 6. 平滑处理。 ;衍射图谱处理过程示例;衍射数据: 面网间距(d)，衍射强度(I) 但由于无法真正获得绝对的衍射强度数据，因为不同的晶体尺寸、不同的光源特征、不同的仪器种类，所获得的实测衍射强度是完全不可比较的，因此在记录衍射强度的时候，按相对强度记录（I/I0,I0为最强线强???)。; 照相方法：得到一张德拜图，并从德拜图可以获得如下数据：（1） d可测量计算得出；（2） I/Io用目测的方法估计得到;衍射仪方法： 得到一张衍射图谱，并经过处理以后同时得到一张数据表。;3、试样的制备 在粉晶衍射仪中，试样制作上的差异，对衍射结构产生的影响，要比在照相法中大得多。因此，制备合乎要求的试样，是粉晶衍射技术中个重要的一环。 （1）粒度要求： 试样受光照体积中晶粒的取向是完全随机的，因此要求粒度为十分细小的粉末，具体对晶粒大小不同的样品要求也有差异。对于粉末衍射仪，适宜的晶粒大小为0.1μm－10μm。 ;（2）试片准备： 要求试片表面十分平整并避免择优取向。 表面平整不规则、不平整、毛糙等会引起衍射线的宽化、位移以及使强度产生复杂的变化。 另外，大多数晶体都是各向异性，把粉末压平的过程很容易引起择优取向，尤其是片状、棒状的样品。择优取向严重影响衍射强度的正确测量。克服择优取向没有通用的方法，根据实际情况可具体采取一些措施。 但是为了研究试样的某一特征衍射，择优取向却是十分有用的。如研究粘土矿物的001面，可制作“定向试片”;（3）试片的厚度 试样对X射线透明度的影响，会引起衍射峰的位移和不对称的宽化，此误差使衍射峰位移向较低的角度。尤其对于线吸收系数μ值小的试样，在低角度引起的位移很显著。若厚度为，Xt则2θ位移为： ︱ △（2θ）穿透 ︱＝Xtcosθ/R 因此，如果要求准确测量2θ或要求提高仪器分辨率，应该使用薄层粉末试样。试样的厚度应满足 Xt ≥( ρ/ ρ ′)(3.2/μ)sinθ(cm) ρ/ ρ ′分别为粉末的真正密度和表现密度。 通常仪器所附的制作试样的样框厚度（1－2mm）对于所有试样的要求均已足够了。;（4）试样的制作方法 通常采用的方法： 压片法： 涂片法： 制备无择优取向试片的专门方法： 喷雾法： 塑合法：;4、X射线衍射仪的检测步骤 （1）仪器条件的准备： （2）具体实验条件的选定： a、狭缝的宽度的选择：发散狭缝（DS)、接收狭缝(RS)、防散射狭缝（SS) ;发散狭缝（DS）的影响; b、扫描方式 连续扫描方式：试样和接收狭缝以角速度1：2的关系匀速转动，在转动过程中，检测器