1-X射线的性质PPT.pptx

第1章 X射线的性质;1.1 X射线的发现;伦琴(1845-1923);1913年，英国物理学家布拉格父子(W.H.Bragg和W.L.Bragg)首次 利用X射线测定了NaCl和KCl的晶体结构，提出了晶面“反射”X射 线的新假设，由此导出了简单实用的布拉格方程。布拉格方程的 导出开创了X射线在晶体结构分析中应用的新纪元，1915年布拉 格父子获得了诺贝尔物理学奖。;附：电磁波谱;X射线的波长范围约为：λ=0.001nm～10nm，其中用于晶 体结构分析的波长范围为0.05～0.25nm 。 X射线的本质是一种电磁波，有明显的波粒二象性。波动 性主要表现为以一定的频率和波长在空间传播；微粒性主 要表现为以光子形式辐射和吸收时具有一定的质量、能量 和动量。 由于X射线的波长较短，因此它的粒子性往往表现突出， 故X射线也可视为一束具有一定能量的光量子流。每个光 量子的能量E和动量P分别为：;;1.3 X射线的产生及X射线管;二、X射线管的构成及其工作原理 ;2.工作原理： 高速运动的电子与物体发生碰撞时，发生能量转换，电子的运动受阻失去动能，其中一小部分(1%左右)能量转变为X射线的能量产生X射线，其中绝大部分能量(约99%左右)转变成热能使物体(靶)温度升高。 ;较小的焦点和较强的X射线强度，可提高X射 线的分辨本领和缩短曝光时间。 接受X射线时，使窗口与靶 面成一定角度，一般为3~6° 对于长方形焦点的X射线 管，窗口开设在与焦点的长 边和短边相对应的位置。;1.4 X射线谱;一、连续X射线谱;短波限：当一个电子的能量在一次碰撞中全部转化为一个Ｘ射线光量子时，这个光量子的能量最高而波长最短，这一最短波长称为短波限，用λ0表示。 ;管压、管流和靶材序数对连续谱的影响;X射线的强度：垂直于X射线传播方向的单位面积上，在单位时间内通过的光量子数目的能量总和。 X射线的强度是由光子的能量( )和光子的数目(n)共同决定的，即： ，因此连续谱中的强度最大值不在光子能量最大的 处，而是约在其1.5倍处。;X射线的总强度： X射线的总强度I与管电流i、管电压U、阳极 靶的原子序数Z之间存在经验公式：;二、特征X射线谱;激发、辐射及特征谱线;Kα是由Kα1和Kα2两条 谱线组成，与原子能级 的精细结构有关。 ;莫塞莱定律：特征X射线谱的频率只取决阳极靶材料的原子序数，是物质的固有属性。 式中：K—常数(与靶材物质主量子数有关) σ—屏蔽常数(与电子所在壳层位置有关) Z—靶材的原子序数;X射线管最佳工作电压 ;比 较 内 容;1.5 X射线与物质的相互作用 ;一、X射线的散射;相干散射;非相干散射;波长变化量： 式中： —散射角(散射线 与入射线的夹角);二、X射线的吸收 ;光电效应 ;产生K系荧光辐射的条件： 的物理意义：将原子核外K层电子击出所需要的入射X射线的最长波长。 称为K系激发限或吸收限。;注意：;俄歇效应 ;俄歇电子的能量大小取决于物质的原子能级结构， 是原子序数的单值函数，是一种元素的固有特征。 俄歇电子通常用参与过程的三个能级来命名。即： 初态空位所在能级、向空位作无辐射跃迁电子原在 能级、所发射电子原在能级。 例：K层电子被击出，L2层电子跳入K层空位，多 余能量传递L3层电子。俄歇电子表示为：KL2L3。 ;三、X射线的衰减规律;线吸收系数(u)：X射线的传播方向上，单位 长度上的X射线强度衰减程度。 质量吸收系数(um) ： ，单位质量物质对 X射线的衰减量。;化合物、陶瓷、合金等物质的 是按组分元 素 的加权平均求得： 式中：Wi— 吸收体中各元素质量百分数 — 吸收体中各元素的质量吸收系数;四、吸收限的应用;滤波片的厚度对滤波质量影响很大，应 选择适当的厚度。 滤波片材料根据阳极靶元素而定，一般 应满足下列关系 ： Z靶＜40时，Z滤波片=Z靶－1 Z靶＞40时，Z滤波片=Z靶－2 ;根据试样的原子序数，可以调整靶材的种类 避免在试样上产生荧光辐射。若试样的K系 吸收限为λk，应选择靶的Kα波长稍稍大于 λK，并尽量靠近λK，这样不产生K系荧光， 吸收也最小。 根据样品成分，靶材的选择原则是： Z靶≤Z试样+1 ;例：;1.6 X射线的探测与防护;X射线的安全防护;本章重点掌握的内容：;6、短波限及临界激发电压； 7、相干散射及非相干散射，产生的特征； 8、K系激发限、吸收限、二次特征辐射； 9、吸收限的应用；