1.4多晶体分析方法PPT.ppt

第四章 多晶体分析方法; 劳埃法 周转晶体法 衍射方法 德拜-谢乐法 照相法 聚焦法 粉末法 针孔法 衍射仪法 ;4.1 德拜-谢乐法;在底片上所留的衍射花样：一对对的弧对。;德拜相的摄照;底片安装;实验条件;③粉末柱的的制作： 1) 细玻璃丝在粉末中滚动； 2) 将粉末填充到玻璃毛细管中； 3) 用金属毛细管成型； 4) 金属细棒（金属多为多晶体），但要注意 择优取向。;摄照规程的选择;德拜相的误差及修正;由于吸收，只有试样表层的晶面参与衍射，使衍射线偏离了理论位置，衍射线（圆弧对）有一宽度。 测量时，用2L0/R=4 θ计算的θ角较为准确。 计算如下：试样半径为ρ，则 2L外缘=2L0+2 ρ 或 2L0 = 2L外缘 － 2ρ;底片伸缩误差;底片的安装使R也存在误差，可以通过底片卷成圆筒形时的有效周长C0来计算准确的R。;衍射花样的测量及计算;以立方晶系为例（底片为偏装）;⑧标注衍射线指数，判别物质的点阵类型;当θ角：由小→大排列； d： 由大→小排列； N： 由小→大排列； 不同晶系的N值由小→大排列有表可查。 将Ni/N1比值按顺序排列出来。;⑨计算点阵常数;4.2 其他照相法简介;衍射几何 将光源（发散光源）、试样以及反射线的聚焦点设在同一圆上（该圆称为聚焦圆），该圆与相机的内腔重合，底片贴于圆内侧。;背射平板照相法;衍射几何 光源（发散）、试样、衍射线聚焦点位于同一圆上，平板底片位于背散射位置，衍射花样为一系列同心圆环，每摄取一个花样，试样和平板底片间的距离都要改变（根据d值计算改变）;晶体单色器;4.3 X射线衍射仪;X射线衍射仪是采用辐射探测器和测角仪来记录衍射线位置和强度的分析仪器。 优点 ①工作效率高（照相法底片处理时间长）; ②探测器灵敏度高; ③样品范围广，制样简便，分析快速，结果 直观。;基本组成部分 X射线发生器 测角仪（核心部分） 辐射探测器 辐射测量电路;X射线测角仪;测角仪支架E 狭缝I、光阑F和计数管C固定于支架E上； 支架可以绕O轴转动（即与样品台的轴心重合）； 支架的角位置2θ可以从刻度盘K上读取。;测量动作 θ-2θ联动 即样品和计数管的转动角速度保持1：2的速比。当H转过θ角度时，E恒转过2θ。这就是试样-计数管的联动（常写作θ-2 θ联动）。;联动扫描过程中，探测器沿测角仪圆由低2θ角到高2θ角转动，当转到适当的位置时便可接收到一根反射线，这样逐一探测和记录下各条衍射线的位置（2θ角度）和强度，获得衍射谱。;衍射仪法和德拜照相法的花样比较;聚焦几何;设测角仪圆半径为R，聚焦圆半径为r，可以证明： 讨论： ① 探测器在运转过程中，聚焦圆时刻变化着。 当θ→ 0o，r → ∞； θ→ 90o，r → rmin = R/2。 ② 使得衍射仪采用平板试样。其目的：使试样表面始终保持与聚焦圆相切，近似满足聚焦条件。;光学布置;狭缝光阑：发散狭缝K，防散射狭缝L和接 收狭缝F。主要用于限制X射线在水平方向的发散。 梭拉光阑：S1、S2。由一组水平排列的金属薄片组成，主要用于限制X射线在垂直方向的发散。;试样;在样品制备过程中，应当注意： ①试样颗粒大小要适宜，在5μm左右最佳。过粗参与衍射的晶面太少，衍射强度不稳定；过细衍射线宽化，妨碍弱线的出现。 ②在制样过程中，应避免颗粒发生定向排列，存在取向，从而影响实验结果。 ③在加工过程中，应防止外加物理或化学因素影响试样原有的性质。;弯曲单色器;探测与记录系统;正比计数器 ;闪烁计数器 ;计数测量中的主要电路;脉冲高度分析器：利用计数器产生的电脉冲高度(脉冲电压)与X射线光子能量成正比的原理来判断脉冲高度，达到剔除干扰脉冲，提高峰背比的目的。 定标器：是对设定时间内的输入脉冲进行计数的电路。有定时计数和定数计数两种工作方式，通常采用定时计数工作方式。 计数率计：是将由高度分析器传来的脉冲信号转换成与单位时间