CN107063644-CN201710416016-有限物距畸变测量方法及系统.pdfVIP

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 107063644 A (43)申请公布日 2017.08.18 (21)申请号 201710416016.4 (22)申请日 2017.06.05 (71)申请人 上海航天测控通信研究所 地址 200080 上海市虹口区新港街道天宝 路881号 (72)发明人 袁承宗　顾翼飞　王爱国　刘艳丽　 蔡非凡　王琰　张震　 (74)专利代理机构 上海汉声知识产权代理有限 公司 31236 代理人 王叶娟　胡晶 (51)Int.Cl. G01M 11/02(2006.01) 权利要求书3页 说明书8页 附图4页 (54)发明名称 有限物距畸变测量方法及系统 (57)摘要 本发明提出一种有限物距畸变测量方法及 系统，该方法包括以下步骤：S1：提供一目标测量 平面，所述目标测量平面上阵列式排布有多个测 量标识点，所述测量标识点的实际间距已知；S2： 镜头调整物距，在调整后的物距下对所述目标测 量平面进行图像拍摄；S3：识别拍摄得到图像中 的目标测量平面上的测量标识点，选取图像中的 测量标识点，根据测量标识点的显示间距与实际 间距、及对应物距，计算镜头的近轴焦距和不同 视场处的轴外焦距；S4：计算不同视场角处的轴 外焦距与近轴焦距的相对值，得到相应视场角下 的相对畸变。可对光学镜头畸变指标进行测量。 A 4 4 6 3 6 0 7 0 1 N C CN 107063644 A 权　利　要　求　书 1/3页 1.一种有限物距畸变测量方法，其特征在于，包括以下步骤： S1：提供一目标测量平面，所述目标测量平面上阵列式排布有多个测量标识点，所述测 量标识点的实际间距已知； S2：镜头调整物距，在调整后的物距下对所述目标测量平面进行图像拍摄； S3：识别拍摄得到图像中的目标测量平面上的测量标识点，选取图像中的测量标识点， 根据测量标识点的显示间距与实际间距、及对应物距，计算镜头的近轴焦距和不同视场处 的轴外焦距； S4：计算不同视场角处的轴外焦距与近轴焦距的相对值，得到相应视场角下的相对畸 变。 2.如权利要求1所述的有限物距畸变测量方法，其特征在于，所述目标测量平面为矩形 板面，所述目标测量平面上布满所述测量标识点，且所述测量标识点呈矩形阵列排布。 3.如权利要求2所述的有限物距畸变测量方法，其特征在于，所述步骤S2中，在所述镜 头调整至需要的物距之后，还对所述镜头进行角度和位移的调整，使得所述镜头的光轴垂 直于目标测量平面的中心。 4.如权利要求3所述的有限物距畸变测量方法，其特征在于，所述步骤S2包括以下步 骤： S21：调整镜头的Z轴向位移，使得镜头与目标测量平面的距离为本次畸变测量的物距； S22：镜头打开，检测目标测量平面的各个边沿中心点与图像对应边沿中心之间间距， 左右边沿间距进行比较，上下边沿间距进行比较，判断是否存在X轴向和Y轴向的位移偏差， 若存在则调整镜头的X轴向和Y轴向的位移，使得图像中的目标测量平面中心与图像中心重 合； S23：检测目标测量平面的至少一边沿与图像对应边沿之间的多个间距值，进行间距值 之间的比较，判断目标测量平面是否处处相等，若不是则存在角度偏差，调整镜头的角度， 使得图像中的目标测量平面在图像中上下左右对称； S24：镜头在本次畸变测量的物距对应的视场角下对所述目标测量平面进行图像拍摄， 获得图像之后，返回步骤S21进行下一次畸变测量的物距调整。 5.如权利