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* * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * 未确认1 未确认2 未确认3 未确认4 未确认5不规则形状的彩色斑区 未确认6大小不均，污渍状的斑点 未确认7大小不均，污渍状的斑点 未确认8 1/3画面的颜色异常 未确认9边角处发生的一道白线，L63可见，方向固定，位置不定 未确认10 1bye1-Green127下是一块黑斑伴随几个亮点，但在其他画面下只可见亮点或对应位置白点 未确认11在任何Pattern下都可以看到现象，貌似Bubble，但放大后发现区域里好多亮点和灭 未确认12现象为在Pattern下均可见，有白色拖尾，整体发亮 * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * Top Category Visual Defect Category SCRATCH Name Cell Scratch, Glass Scratch Code VSCC, VSCF Remark 线状不良 现象 特征 Cell Scratch: Cell内部划伤 Glass Scratch: Panel上下表面划伤 Pattern: L0 视角: 正视角 区别Cell内部外部的方法是用放大镜观察并左右移动视角: TFT与Scratch相对不动-Cell Scratch; TFT与Scratch相对移动-Glass Scratch 成因 Cell Scratch: TFT Glass, CF Glass Ass’y前划伤 Glass Scratch: Cutting 设备引起 判定 线状不良: Size Spec 符合Spec Table Cell Test Defect Handbook Top Category Visual Defect Category BUBBLE Name BUBBLE(L),BUBBLE(S), BUBBLE(ETC) (不定形Bubble) Code VEBL,VEBS,VEBU Remark 现象 特征 直径8mm 或 8mm的圆形液晶气泡或形状不规则的液晶气泡; 引起气泡区域无法显示 Pattern: All 视角: 正视角 成因 液晶注入不足, 或扩散不均 判定 Size≤8mm-Rework 1 -48hours 100℃的Oven Rework ; Size = (长轴+短轴)/2; 否则Scrap Cell Test Defect Handbook Top Category Visual Defect Category SEAL LEAK Name Seal Leak 及1~4 Code VESL,VES1~4 Remark 现象 特征 由Panel边缘向内部延伸的Sealant泄露，导致液晶受到污染， 而产生强烈的枝杈状不良 Pattern: All 视角: 正视角 单边发生时要区分从哪个边向内延伸 (Seal Leak1~4); 四边同时发生则选择Seal Leak 成因 Ass’y 工艺问题: 封框胶污染液晶 判定 Scrap Cell Test Defect Handbook Top Category Visual Defect Category ESD Name DATA ESD, GATE ESD Code EED1,EEG1 Remark 现象 特征 Data/Gate Pad向内延伸的楔形不良,由亮点组成 Pattern: All 视角: 正视角 如果Signal On/Off切换，会有明显残像 成因 Cutting及后续工序的ESD造成 判定 Scrap Cell Test Defect Handbook Top Category Visual Defect Category POL Defect Name Pol P/T,Scratch,Trace,Bubble, Attachment Miss, Etc (CF/TFT) Code VPC(T)P/S/T/B/A/E Remark P4 Line, Pol不良, 点/线不良 现象 特征 Pol关联的不良: 借助放大镜确认, 不良实体与TFT不在同一层上: 成因 Pol 帖附不良 判定 点/线状不良: Size Spec 参照 Spec Table: 达到Q或NG时- Rework3 P/T Scratch Trace (压痕) Bubble Attachment Miss Pol Etc 用来对应特异不良情况 Cell Test Defect Handbook Top Category Visual Defect Category Visual Etc Name 未充满, 过