原子吸收分光光度法【共享精品-ppt】.ppt

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原子吸收分光光度法【共享精品-ppt】

NaI NaCl NaF 200 250 300 350 400 波长 nm A 5 背景吸收的校正方法: (1) 用邻近非共振线校正背景 因为共振线(此时为分析线)的总吸光度AT包括基态原子的吸收A和背景吸收AB ,即 AT=A+AB 通过测量共振线旁的“邻近线”的吸收,得到AB 此时得到净吸收度 A=AT-AB 由于很难找到符合上述条件的“邻近线”,故此法应用较少 (2) 连续光源背景校正(氘灯法) 切光器使锐线源和氘灯源交替进入原子化器。然后分别测定吸光值:A锐 =AS+AB A氘 =AS+AB=AB(此时,原子吸收可忽略不计) 则 A=A锐-AB=A锐-A氘 (3) 塞曼效应背景校正 a) Zeeman效应:原子蒸汽在强磁场作用下,简并的谱线发生分裂的现象;背景吸收不会发生塞曼分裂效应 ? ?- ?+ 平行磁场 垂直磁场 垂直磁场 b)校正原理:Zeeman 背景校正是根据磁场将(简并的)谱线分裂成具有不同偏振特性的成份。对单重线而言,分裂成振动方向平行于磁场的π线(波长不变)和垂直于磁场的±σ线(波长增加或降低,并呈对称分布)由谱线的磁特性和偏振特性来区别被测元素吸收和背景吸收 c)分类: 光源调制——磁场加在光源上。因应用较少,此处不作讨论 吸收线调制——磁场加在原子化器上。可分为恒定磁场和可变磁场 平行于磁场方向(波长不变) 垂直于磁场方向(波长不变) π线:平行磁场,波长不变 σ线:垂直磁场,波长变化 A平行= A背景吸收+A原子吸收( π线和背景都吸收) A垂直=A背景吸收(只有背景吸收,π线方向不一致,σ线波长变化,都不吸收) P垂直 B=0 B=H P垂直 无塞曼分裂 π线:平行磁场,波长不变 σ线:垂直磁场,波长变化 可变磁场调制:原子化器所加磁场的强度可变,即零磁和激磁。但偏振器不旋转,只固定“产生”垂直于磁场方向偏振光 i)零磁—原子化器中吸收线不分裂,测得 AS+AB ii)激磁—原子化器中吸收线分裂,π线振动方向垂直于偏振光振动方向,只产生背景吸收AB iii)净吸光度—上述两次测定的差,即为扣除背景后的净吸光度 AS Zeeman 背景校正的特点 ①波长范围宽(190~900nm) ②校正准确度较高,可用于强背景校正(AB 可高达 1.5~2.0) ③与非Zeeman效应扣背景相比,灵敏度略有下降(因为入射线分裂,使其光强下降) ④仪器价格昂贵 §6.5 测量条件和定量分析方法 一 测量条件 1分析线的选择   通常选共振线(最灵敏线),但不是绝对的。此外当待测原子浓度较高时,为避免过度稀释和向试样中引入杂质,可选取次灵敏线 2 宽度选择   调节Slit宽度,可改变光谱带宽,也可改变照射在检测器上的光强。一般狭缝宽度选择在通带为0.4~2.6nm 的范围内,对谱线复杂的元素如 Fe、Co和Ni,需在通带相当于1或更小的狭缝宽度下测定 3 灯电流选择   灯电流过小,光强低且不稳定;灯电流过大,发射线变宽,灵敏度下降,且影响光源寿命。 选择原则:在保证光源稳定且有足够光输出时,选用最小灯电流(通常是最大灯电流的 1/2~2/3 ),最佳灯电流通过实验确定 4 原子化条件 (1)火焰原子化: A 火焰类型(温度 - 背景 - 氧还环境) 对于溶沸点适中的元素可使用低温、中温的乙炔-空气火焰 在火焰中易生成难离解的化合物及难熔氧化物的元素,宜用乙炔-氧化亚氮高温火焰 分析线在220nm以下的元素,可选用氢气-空气火焰 B 燃助比(温度 - 氧还环境) 易生成难离解氧化物的元素,用富燃火焰;氧化物不稳定的元素,宜用化学计量火焰或贫燃火焰,合适的燃助比应通过实验确定 C 燃烧器高度(火焰部位 - 温度) 燃烧器高度是控制光源光束通过火焰区域的。由于在火焰区内,自由原子浓度随火焰高度的分布是不同的,随火焰条件而变化。因此必须调节燃烧器的高度,使测量光束从自由原子浓度大的区域内通过,可以得到较高的灵敏度 (2)石墨炉原子化 升温程序的优化,具体温度及时间通过实验确定 干燥—— 105oC 除溶剂,主要是水 灰化——除基体,尤其是有机质的去除。在不损失待测原子时,使用尽可能高的温度和长的时间 原子化——通过实验确定何时基态原子浓度达最大值 净化——短时间( 3-5s )内去除试样残留物,温度应高于原子化温度 二 定量方法与分析性能 1 标准曲线法 AAS法的标准曲线与分光光度法中的标准曲线法一样。即首先配制与试样溶液相同或相近基体的含有不同浓度的待测元素的标准溶液,分别测定A值,作 A-c 曲线,测定试样溶液的Ax,从标准曲线上查得 cx样 ※ A值在0.1-0.8之间,测量误差最小 ①.

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