电子测量与仪器-李明生.ppt

U f 输入频谱 分辨力较高 分辨力较低 6.4 谐波失真度的测量 正弦波信号通过电路后，如果该电路中存在非线性，则输出的信号中除包含原基波分量外，还会含有其它谐波分量，这就是电路产生的谐波失真，亦称非线性失真。 一、谐波失真度的定义 即全部谐波能量与基波能量之比的平方根值。对于纯电阻负载，则定义为全部谐波电压（或电流）有效值与基波电压（或电流）有效值之比。即： 其中u1、u2、……、um分别表示基波及其各次谐波的有效值。 D0为失真度，亦称失真系数。 由于基波难以单独测量，为方便起见，通常按下式来测量失真度： 式中，U为信号总有效值；u2、u3……um分别表示各次谐波的有效值 ；D为实际测量的失真度。 可以证明，定义值D 0与测量值D之间存在如下关系： 当失真小于10%时，可以认为D0=D，否则应按上式换算。 2 1 输入信号调节器 基波抑制电路 电子电压表 失真信号输入 第一步：校准 首先使开关S置于“1”处，电子电压表读数即为被测信号的有效值。调节输入电平调节器，使电子电压表读数为1； 第二步：测量失真度 使开关S置于“2”处，调节基波抑制电路的有关元件，使被测信号中的基波分量得到最有效的抑制，即让电子电压表的读数最小。此时电子电压表的读数为被测信号各次谐波电压的总有效值。由于第一步已校准，所以电子电压表的读数就是失真度D值。 二、 基波抑制法的测量原理 ?? 基波抑制法就是将被测信号中基波分量滤除，测量出所有谐波分量总的有效值，再确定与被测信号总有效值相比的百分数即为失真度。 ? 基波抑制法测量电路如图所示： 电子元器件参数测量及仪器 返回 课程目录 阻抗测量一般是指电阻、电容、电感及相关的Q值、损耗角、电导等参数的测量。 器件一般指二极管、三极管、场效应管等，测试仪器为晶体管图示仪，测出其特性曲线 。 ＊本章内容主要有： ●晶体管特性曲线的测量； ●用电桥法测量集总参数； ●用谐振法测量集总参数。 一、 电子元器件的分类及测量对象 1、电子元件：主要指电阻器、电容器、电感器。 2、电子器件：主要指电真空管、集成电路及半导体分立器件 （如：二极管、三极管和场效应管等）。 3、测量对象（内容）： 1）元器件的参数（如；二极管的正向压降、反向击穿电压； 三极管的β值、ICM、VCEO参数； 场效应管的夹断电压Vp、饱和漏电流IDSS); 2）器件的特性曲线(如:二极管的正向特性曲线、反向特性曲线； 三极管的输出特性曲线、输入特性曲线； 场效应管的输出特性曲线、转移特性曲线)等。 二、晶体管特性曲线的测量 以NPN型晶体管为例。 （一）NPN型晶体管输出特性的测量 Ic=f (VCE)|IB=常数 1、点测法 构建测试电路如下图所示。 Vcc VBB RB RC μA mA V IB + VCE – IC （1）方法： 1）调节VBB，产生IB0；再调节VCC使VCE从0变到某一最大值U，观测IC的变化，描点绘曲线； 2)重复1）的过程，产生IB1、IB2、IB3……IBn，观测各次IC的变化，描绘曲线。 最终得如图所示曲线，即输出特性曲线。 IC VCE 0 IB0 IB1 IB2 IB3 IB4 （2）特点分析： 1）繁琐，描绘一条曲线需要观测多次电压、电流值； 2）由于不知VCEO、ICM等极限值，改变VCC值时容易损害被测器件。 2、图示法 （1）思路： 用阶梯信号代替可调基极电压VBB，用集电极扫描电压（全波整流信号）代替可调集电极电压VCC，构建如下测试电路，并用示波器显示输出特性曲线。 （2）需解决以下几个问题： 1）产生的IB、VCE波形如何,有什么样的关系？ 2）示波器上显示的波形是什么样的？ RC IC Y偏转板 Vcc VBB RB IB + VCE – RF + + – – X偏转板 + – U