光电子技术教案 第15讲.doc

二、电荷耦合摄像器件的特性参数 1. 转移效率 电荷包从一个栅转移到下一个栅时，有部分的电荷转移过去，余下部分没有被转移，称转移损失率。 一个电荷量为的电荷包，经过n次转移后的输出电荷量应为： 总效率为： 2. 不均匀度 光敏元的不均匀与CCD的不均匀。 本节讨论光敏元的不均匀性，认为CCD是近似均匀的，即每次转移的效率是一样的。 光敏元响应的不均匀是由于工艺过程及材料不均匀引起的，越是大规模的器件，均匀性问题越是突出，这往往是成品率下降的重要原因。 定义光敏元响应的均方根偏差对平均响应的比值为CCD的不均匀度： 式中为第n?个光敏元原始响应的等效电压,为平均原始响应等效电压；N为线列CCD的总位数。 由于转移损失的存在，CCD的输出信号与它所对应的光敏元的原始响应并不相等。根据总损失公式，在测得后，可求出： 式中P是CCD的相数 3. 暗电流 CCD成像器件在既无光注入又无电注入情况下的输出信号称暗信号，即暗电流。 暗电流的根本起因在于耗尽区产生复合中心的热激发。 由于工艺过程不完善及材料不均匀等因素的影响，CCD中暗电流密度的分布是不均匀的。 暗电流的危害有两个方面：限制器件的低频限、引起固定图像噪声 4. 灵敏度（响应度） 它是指在一定光谱范围内，单位曝光量的输出信号电压（电流）。 5. 光谱响应 CCD的光谱响应是指等能量相对光谱响应，最大响应值归一化为100%所对应的波长，称峰值波长，通常将10%（或更低）的响应点所对应的波长称截止波长。有长波端的截止波长与短波端的截止波长，两截止波长之间所包括的波长范围称光谱响应范围。 6. 噪声 CCD的噪声可归纳为三类：散粒噪声、转移噪声和热噪声。 7. 分辨率 分辨率是摄像器件最重要的参数之一，它是指摄像器件对物像中明暗细节的分辨能力。测试时用专门的测试卡。目前国际上一般用ＭＴＦ（调制传递函数）来表示分辨率。 8. 动态范围与线性度 动态范围＝ 线性度是指在动态范围内，输出信号与曝光量的关系是否成直线关系。 三、CMOS摄像器件 采用CMOS技术可以将光电摄像器件阵列、驱动和控制电路、信号处理电路、模／数转换器、全数字接口电路等完全集成在一起，可以实现单芯片成像系统。 1. CMOS像素结构 无源像素型（PPS）、有源像素型(APS) 无源像素结构 无源像素单元具有结构简单、像素填充率高及量子效率比较高的优点。但是，由于传输线电容较大，CMOS无源像素传感器的读出噪声较高，而且随着像素数目增加，读出速率加快，读出噪声变得更大。 （2）有源像素结构 光电二极管型有源像素（PP－APS）——大多数中低性能的应用 光栅型有源像素结构（PG－APS）——成像质量较高 CMOS有源像素传感器的功耗比较小。但与无源像素结构相比，有源像素结构的填充系数小，其设计填充系数典型值为20%-30%。在CMOS上制作微透镜阵列，可以等效提高填充系数。 2. CMOS摄像器件的总体结构 工作过程：首先，外界光照射像素阵列，产生信号电荷，行选通逻辑单元根据需要，选通相应的行像素单元，行像素内的信号电荷通过各自所在列的信号总线传输到对应的模拟信号处理器(ASP)及A/D变换器，转换成相应的数字图像信号输出。行选通单元可以对像素阵列逐行扫描，也可以隔行扫描。隔行扫描可以提高图像的场频，但会降低图像的清晰度。行选通逻辑单元和列选通逻辑单元配合，可以实现图像的窗口提取功能，读出感兴趣窗口内像元的图像信息。 3. CMOS与CCD器件的比较 CCD摄像器件——有光照灵敏度高、噪声低、像素面积小等优点。 但CCD光敏单元阵列难与驱动电路及信号处理电 路单片集成，不易处理一些模拟和数字功能；CCD 阵列驱动脉冲复杂，需要使用相对高的工作电压， 不能与深亚微米超大规模集成 （VLSI）技术兼 容，制造成本比较高。 CMOS摄像器件——集成能力强、体积小、工作电压单一、功耗低、 动态范围宽、抗辐射和制造成本低等优点。目前 CMOS单元像素的面积已与CCD相当，CMOS已可 以达到较高的分辨率。如果能进一步提高CMOS 器件的信噪比和灵敏度，那么CMOS器件有可能 在中低档摄像机、数码相机等产品中取代CCD 器件。 5