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4-第四讲--薄膜材料物理--第二章薄膜力学性质

第四讲 第二章 薄膜的力学性质 第二章 薄膜的力学性质(续) 第四讲 §2.4 内应力的测试方法 1、悬臂梁法 测量时常用基片—云母片、玻璃片 尺寸:15×2 ×0.05~65 ×10 ×0.15mm3 测量方法:目镜直视法、各种光学法、电感法、电容法、 机电法等,其中电容法的灵敏度最高。 薄膜内应力: 2、弯盘法 采用圆形基片,分别测量出在淀积薄膜前后的基片的曲率半径R1和R2,则薄膜单位宽度的应力为: 基片:玻璃、石英、单晶硅 尺寸:0.13×Ф18-0.22×Ф30,光学抛光 测量方法:牛顿环法(常用)、x射线衍射法、光纤法等。 3、 x射线衍射法 测试前,用标准的硅单晶样品→标定装置误差。 薄膜厚度>30nm,观测衍射峰最大值所对应的布拉格(Bragg)角Θ,并比较薄膜的Θ和块状的Θ角。 §2.5 薄膜的机械强度 分为抗张强度、耐压强度(用硬度表示) 薄膜常开裂→薄膜的断裂是它的应力→应变曲线的终点→抗张强度与应力—应变关系紧密。 2.5.1 薄膜的应力—应变曲线 块材:先线性弹性阶段→非线性弹性阶段 →塑性变形 薄膜:有可能发生蠕变,因为薄膜内的缺陷较多,受到内部弹性能的活化而发生了一些变化。 →与块材不同 2.5.2 薄膜的抗张强度 薄膜的断裂机理:在薄膜的内部局限区域中发生塑 性变形,导致在该处变薄,结果这个区域中内 应力增大,出 现小的裂纹,最后发生断裂。 薄膜特点:缺陷较多,表面积与体积之比很大, 本身有内应力。 薄膜的屈服强度:

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