第三章2 测量仪器精度分析.pptVIP

举例：立式光学计 *侧杆与导套的配合间隙Δ引起的误差； *立式光学仪的分划板不垂直光轴引起的误差。 立式光学仪的分划板不垂直光轴引起的误差 立式光学仪的分划板与光轴垂直面有θ的夹角，则相当于不同y（刻度值）处的焦距有误差Δf。 分划板不垂直光轴引起的误差 举例：螺旋测微机构 （P25例2—3） θ：螺旋传动机构的轴线与滑块运动方向有的夹角， 理想时θ=0，滑块的移动量： 其中： ---手轮转角， p---螺距。 由于θ的存在，使滑块的实际位移量为： L’=Lcosθ 因此θ为源误差，它引起的滑块的位置移动误差为ΔL 。则： 三、仪器误差的综合 误差综合:将局部误差合成为仪器总误差。 由于影响仪器误差的因素很多，各源误差的性质不同，综合的方法也不同。 1、系统误差 （1）已定系统误差 （2）未定系统误差 （1）已定系统误差 已定系统误差：符号和大小均为已知的误差Δi 。 误差综合方法：按代数和合成。 或 其中: 为误差传递系数，ei为Δi的局部误差。 （2）未定系统误差 未定系统误差：其大小、方向或变化规律未被确切掌握，只能估计出其极限范围,± 。 由于其取值具有一定的随机性，所以其合成方法常用： a. 方和根法： b. 绝对值法： 或 （t= ti ） 或 其中ti为单项误差的置信系数，t为合成后误差的置信系数。一般情况下，对于正态分布t=3（置信度为99.7%） 2、随机误差 由于随机误差比较繁多，且其随机性及分布规律又具有多样性（如正态分布、均匀分布、三角分布、反正弦分布），因此，随机误差合成时采用： （1）均方根法 （2）极限误差法 （1）均方根法 对于随机性局部误差（标准差）σi，其合成误差（标准差）： ρij为σi与σj随机误差的相关系数，取值为（-1～1）。 若ρij=0，则σi与σj不相关， 合成随机误差的极限误差δ1=± tσ 。 （2）极限误差法 随机标准差σi，其极限误差 。 当标准差σi未知时，则合成极限误差： 当各项误差不相关时， 3、仪器总误差的合成 分为三种情况： （1）一台仪器，各源误差互相独立，且未定系统误差很少，则： （2）一台仪器，未定系统误差数较多，源误差互相独立，则： （3）一批同类仪器，未定系统误差的随机性增大，合成时将其按随机误差处理，则：（仪器设计时采用） 参考书 浦昭邦,王宝光.测控仪器设计.机械工业出版社，2001（P39-52） 王智宏. 精密仪器设计. 吉林大学（校内讲义），2008（P10-28） 再见！ 又称理论/方法/设计误差 产生原因：由于理论不完善或者采取近似理论而产生的，它与制造精度无关，是由设计决定的。仪器采取何种方案，进行何种近似处理，便会产生何种原理误差。 属性：原理误差多属系统误差，在设计时可采用增加调整或补偿环节的方法减少或消除原理误差。 * 带有刻度尺的透明玻璃分划板位于物镜的焦平面。光源照亮分划板，其上各点发出的光线经物镜成平行光，到反射镜后被反射，仍为平行光，经物镜后在其焦平面上成像。 S=±100μm，a=2mm,Δs=0.25μm. 设计时要注意结构的合理性，要注意基面统一以及使测量链最短等。 除了在制造过程中提高加工精度和装配精度外，在设计时也应采取适当的措施对其进行控制，如： 原则：基面统一以及使测量链最短 ⒈ 分划板：刻尺的分划误差，位置不垂直光轴，安装不在物镜的焦距上； ⒉ 物镜：畸变、物镜焦距误差Δf ； ⒊测杆：与导套之间的配合间隙 ⒋杠杆：臂长在安装时≠a ⒈ 分划板上刻尺的分划误差Δ1所引起的局部误差e1 ； ⒉ 物镜的畸变Δy所引起的局部误差e2 ； ⒊ 物镜焦距误差Δf所引起的局部误差e3 ； ⒋ 测杆与导套之间的配合间隙所引起的误差e4 ； 5.其他：如分划板的位置不垂直光轴，不在物镜的焦距上，杠杆臂长在安装时≠a。 * * 温度变化，使仪器的零部件尺寸、形状、相互位置及一些重要的特性参数（电器参数）发生变化，从而影响仪器精度。 如光学计使用时，∵是相对测量，则由温度变化引起量块和测件在长度上有变化，使测量结果与实际有误差（且不计温度引起的其他零部件的误差）。一般测量环境的标准温度为t0(=20℃～25℃)，实际环境温度为t，量块线膨胀系数为a0，则温度引起的量块的误差为 （L为量块长度）。 由于被测件与量块在温度(t1)和材料(a1)上的不同， ∴温度引起的被测件的长度变化与Δ1不同，设为Δ2，则： ∵由温度引起的测量误差应为 Δ1、Δ2二项随机误差合成。 仪