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X?晶体: 1. 大部分透过 2. 非散射能量转换: 热能 光电效应 3. 散射: 不相干散射 相干散射 晶体的X射线衍射效应属于相干散射,次生射线与入射线的位相、波长相同,而方向可以改变. X射线与晶体的作用 测定晶体结构的任务主要是两个方面:(1)晶胞的形状和大小;(2)晶胞中原子的种类和分布。 在X射线衍射分析中,前者由测定衍射的方向来进行分析,后者则通过对各个衍射点或线的强度来确定。 §7.3 X-射线晶体结构分析原理 * 二、衍射方向和晶胞参数 1. 劳埃(Laue)方程 晶体 底 片 X 射 线 管 劳 厄 斑 点 劳埃实验 * X 射 线 原子或离子中的电子——受迫振动。 振动着的电子成为次生X射线的波源,向外辐射与入射 X 射线同频率的电磁波,称为散射波。 Laue方程是联系衍射方向与晶胞大小、形状的方程. 它的出发点是将晶体的空间点阵分解成三组互不平行的直线点阵, 考察直线点阵上的衍射条件. 每一组直线点阵上得到一个方程,整个空间点阵上就有三个形式相似的方程,构成一个方程组. * §7.3 X-射线晶体结构分析原理 若要求每个点阵点代表的结构基元间散射的次生X射线互相叠加,则要求相邻点阵的光程差为波长的整数倍。 * Laue 方程组 衍射指标h、k 、l为整数(但并不都是互质整数),决定了衍射方向的分立性,即只有某些特定方向上才会出现衍射. 与直线点阵成衍射角α的不只一条衍射线, 而是许多衍射线, 围成一个衍射圆锥; 不同的衍射角有各自的衍射圆锥: §7.3 X-射线晶体结构分析原理 h、k、l为一组整数,称为衍射指标,分别表示在三个晶轴方向上波程差所含的波数。 它与晶面指标的物理意义不同;并且在数值上晶面指标是一组互质整数,而衍射指标则不一定是互质的;在书写方式上晶面指标是用h*k*l*来表示的,而衍射指标就写成hkl。 * 直线点阵上衍射圆锥的形成 §7.3 X-射线晶体结构分析原理 * §7.3 X-射线晶体结构分析原理 a(cos?-cos?0)=h? b(cos?-cos?0)=k? c(cos?-cos?0)=l? h,l,k分别等于 0,?1,?2,.... 三维空间点阵的衍射条件 * 2. Bragg方程 联系衍射方向与晶胞大小、形状的另一个方程是Bragg方程. 它将晶体视为平面点阵, 将衍射等效为平面点阵的反射. 但衍射等效为反射是有条件的:只有等程面上的衍射才能等效地视为反射. A D a’ b’ C B 相长干涉得亮点的条件 层间两反射光的光程差 d 1 2 h d 3 掠射角 三、衍射强度与晶胞中原子的分布 1.结构因子与衍射强度的关系 衍射强度Ihkl 既与衍射方向hkl有关, 也与晶胞中原子分布(由分数坐标xj , yj , zj表示)有关. Ihkl表示衍射强度,它正比于Fhkl2 Ihkl与晶体的大小、入射光强、温度高低、晶体对X射线的吸收及其它一系列的因素有关,将它们予以修正,得比例系数K,可得关系式: Fhkl 结构因子 Ihkl ? |F|2 * 结构因子 N是晶胞中的原子数目 fj 称为原子的散射因子,相当于散射X射线的有效电子数,f Z (Z为实际所含电子数) 其中: * 四、单晶结构分析简介 X射线晶体衍射实验根据样品的形状可分为单晶法和多晶(粉末)法两大类,而根据衍射的收集方法又可以分为照相法和衍射仪法两大类。其中又有适应各种目的的多种方法,如单晶有劳埃照相法、转晶照相法等等,多晶则有德拜照相法、聚集照相法等,下面我们将介绍这些方法。 * 1.转晶法: (Rotation Method) 单色x-ray(K系)照射转动的单晶体试样的衍射方法。(θ变) 以样品转动轴为轴的圆环形底片记录衍射花样。 此法用于测定试样的晶胞常数,根据衍射花样能准确测定晶体的衍射方向和强度。 转晶法: 底片 入射 X射线 2.粉末法 单色x-ray照射多晶体或粉末试样的方法。 (d变) 衍射花样采用照相底片记录,称粉末照相法 (粉末法、粉晶法)。 衍射花样采用I~θ曲线记录,称衍射仪法。 粉末法: 2? 可调节 样品 底片 ? X 射线 衍射照片及衍射图 * 3.衍射仪法 X射线衍射实验仪器 * X射线仪 X光管室 (内有Mo阳极,在高速电子作用下发射X射线) * 实验区 左为准直器和锆滤片 中间为旋转靶台 右上为测角器
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