第七章显微分析05.pptVIP

* 五、扫描隧道显微分析(STM) 一、电子显微分析概况 二、扫描电子显微分析(SEM) 三、透射电子显微分析(TEM) 四、探针显微分析概况 六、原子力显微分析(AFM) 显微分析 花瓣结构复合胶囊的电镜照片 TEM SEM 棒状硅酸盐/环氧纳米复合材料的电镜照片 TEM SEM 金属基体上规则排列Si(111) 原子的扫描隧道显微镜 (STM)照片 纳米ZnO粒子(8 nm)的扫描隧道显微镜 (STM)照片 20nm S. J. H. Griessl, J. Phys. Chem. B. 2004, 108 C60的STM照片 10nm 部分被金覆盖的DNA分子的AFM照片 From：?LNM. Departmento Física de la Materia Condensada UAM AFM scan of a Tip check calibration surface showing the sharp, randomly-oriented peaks which provide the optimal surface for characterising AFM tip geometry. Image provided by Image Metrology Inc. 甲基丙烯酸-2-羟基乙酯(HEMA)聚合物微球表面的AFM照片 上：干燥时 下：吸水后 图像大小25nm×25nm From：?LNM. Departmento Física de la Materia Condensada UAM 少量铂(Pb)粒子与硅晶(Si 111)的复合体表面的AFM照片 图像大小6nm×6nm 金晶体的AFM图片 极其微小的悬臂 1959年12月29日，诺贝尔物理学奖获得者理查德· 费曼在美国应用物理年会上首次提出纳米概念。预言：人类可以用小的机器制作更小的机器，最后将变成根据人类意愿，逐个地排列原子，制造产品。 70年代，科学家开始从不同角度提出有关纳米科技的构想。 SPM发展史： “当人类有朝一日能够按照自己的主观意愿排列原子的话，世界将会怎样？” SPM发展史： 1981年，美国国际商用机器公司IBM发明扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM) 。 被国际科学界公认为八十年代世界十大科技成就之一 人类第一次能够实时地观察单个原子在物质表面的排列状态及与表面电子行为有关的物理、化学性质 1986年10月15日，瑞典科学院宣布Binnig 和Rohrer因发明STM而获得诺贝尔物理学奖。当日IBM苏黎世实验室与Dow公司足球队比赛，以2:4败北 1986年，Binning等三人利用当时的STM技术，与Stanford University 合作发展出能侦测探针与样品间的范得华力的原子力显微镜(AFM)。 除了AFM及STM外，近场光学显微镜(SNOM)等各种表面特性的分析工具也陆续被开发。以此类微探针为基础的检测工具，统称为SPM。 近年来，SPM的应用逐渐广泛，除了纳米等级的表面检测外，也广泛应用于各种纳米加工技术。 1989年，美国斯坦福大学搬走原子团“写”下斯坦福大学英文。 1990年，IBM公司在镍表面用36个氙原子排出“IBM” 1993年，北京STM国际会议研讨纳米及纳米技术 1993年，中国科学院北京真空物理实验室操纵原子成功写出“ 中国”二字及中国地图。 1997年，美国首次成功地用单电子移动单电子，利用这种技术可望在20年后研制成功速度和存贮容量比现在提高成千上万倍的量子计算机。 STM Si 7×7 SPM可量測原子等級的尺寸，上圖 為量測Silicon之結果。 Silicon (111) with 27? unit cell STM image of self-assembled 8 nm ZnO nanoparticles Abstract:This scanning tunneling microscopy (STM) study uses a supramolecular two-dimensional architecture of trimesic acid molecules adsorbed on a graphite substrate as a host for the incorporation of C60 as a molecular guest. By choosing a proper solvent, it was possible to verify that self-assembly of the host-guest structure can be accomplished at the liquid