第七章显微分析08.pptVIP

展望： * 敲拍式 (Tapping Mode) 接触式 (Contact Mode) 非接触式 (Non-contact Mode) 优点: ?高速扫描 ?分辨率高(原子级) ?可扫描起伏较大的样品 缺点: ?切向力和法向力易干拢样品图像 ?不适用于软表面 AFM扫描模式： 优点: ?不直接作用力于样品表面 缺点: ?侧向分辨率低 ?扫描速率慢 只可工作于极憎水样品 优点: ?侧向分辨率高 (1-5nm) 低作用力，不易损伤表面 缺点: ?较接触式扫描速率稍慢 接触式与非接触式AFM图像的区别 AFM扫描模式： AFM的特点： 特别适用于在纳米/原子级别表征起伏不大的纳米薄膜（导体与非导体） 探索纳米尺度下，微观物性(光、力、电、磁等)的测量，甚至操作。 AFM应用(表征)： 活体细胞观察 集成电路检测 Critical Dimension (CD): 100nm 半导体 生物医学 颗粒材料 表面分析：量子特性、近场光学 DVD碟片记录点 线宽350nm 光电 氧化锌薄膜的AFM图 (单位：nm) 氧化锌颗粒的颗粒比例图（a）和粒度分布图（b） AFM应用(表征)： 乳胶薄膜的AFM图(A)和三维立体图(B) (单位:nm) A B 有严重缺陷(A)和较为完美(B)的高分子镀膜（单位:nm) A B AFM应用(表征)： AFM应用(表征)： B-doped 硼掺杂 HOPG：高定向裂解石墨 Continuous AFM height images of melt-crystallized poly[3-hydroxybutyric acid羟丁酸](PH3B) thin film before (A) and during (B-F) enzymatic degradation酶降解 by PHB depolymerase from Ralstonia pickettii T1 at 20℃ AFM应用(表征)： Schematics of the AFM experiment. (a) The AFM tip is brought into contact with the graphitic aggregate layer on the surface of the silicon substrate. (b) During the approach period, several graphitic aggregates may become attached to the tip through a network structure and be stretched during the tip retraction. AFM应用(操纵)： AFM应用(操控)： AFM应用(操控)： AFM应用(操控)： 量子元件制作 单电子晶片 超高密度信息存贮 DNA/蛋白质晶片 AFM应用(操控)： 扫描探针显微技术(SPM)已成为纳米技术领域中不可或缺的工具之一。 AFM为SPM中应用最为广泛的技术，其主要由微细探针技术、探针位移检测技术以及扫描致动技术等构成。 AFM之显微解析度可达1nm以下，且操作环境可为大气、真空、液体中。 除了传统的显微功能之外，SPM也广泛应用於单原子/分子操纵、纳米影象、纳米加工及高密度信息读定等重要领域。 未来SPM之研究将势必继续在大型平行探针阵列、快速超高密度信息读写、多探测功能探针及超微细探针(例如碳纳米管)等研究方向。 接触模式 　　 在接触模式中，针尖始终与样品保持轻微接触，以恒高或恒力的模式进行扫描。扫描过程中，针尖在样品表面滑动。通常情况下，接触模式都可以产生稳定的、高分辨率的图像。　　在接触模式中，如果扫描软样品的时候，样品表面由于和针尖直接接触，有可能造成样品的损伤。如果为了保护样品，在扫描过程中将样品和针尖之间的作用力减弱的话，图像可能会发生扭曲或得到伪像。同时，表面的毛细作用也会降低分辨率。所以接触模式一般不适用于研究生物大分子、低弹性模量样品以及容易移动和变形的样品。 非接触模式 　　 在非接触模式中，针尖在样品表面上方振动，始终不与样品接触，探针监测器检测的是范德华力和静电力等对成像样品的无破坏的长程作用力。这种模式虽然增加了显微镜的灵敏度，但当针尖与样品之间的距离较长时，分辨率要比接触模式和轻敲模式都低，而且成像不稳定，操作相对困难，通常不适用于在液体中成像，在生物中的应用也比较少。 轻敲模式 　　 在轻敲模式，微悬臂在其共振频率附近作受迫振动，振荡的针尖轻轻的敲击样品表面，间断地和样品接触，所以又称为间歇接触模式。由于轻敲模式能够避免针尖粘附到样品上，以及在扫描过程中对样品几乎没有损坏。轻敲模式的针尖在接触表面时，可以通过提供针尖足够的振幅来克