IC入门培训流程规范.doc

ICT入门培训流程规范 目的：建立ICT程式优化、机器故障排除规范，作为PEB技工使用操作之依据。 范围：本公司测试技工 职责：PE部技工负责程式优化、ICT在线维护 ICT简介： 1、ICT：在线测试机（In Circuit Tester）, 电器测试使用的最基本仪器.如同一块功能强大的万用表,但它能对在线电路板上的元件测试进行有效得隔离（Guarding）而万用表不能。 2、ICT 测试内容：主要是靠测试探针接触PCB layout出来的测试点来检测PCBA的开路、短路、零件的焊接状况。可分为开路测试、短路测试、电阻测试、电容测试、二极管测试、三极管测试、场效应管测试、IC管脚测试等等。 3、 ICT的特点：能测试元器件的漏装、错装、参数值偏差、焊点连焊、线路板开短路等故障，并能将故障是哪个元件或开短路位于哪个点准确告诉我们。(对元件的焊接测试有较高的识别能力) 4、公司ICT型号：目前我们用的ICT分别是台湾捷智科技股份有限公司生产的JET-300NT、德律科技股份有限公司生产的TR-518FE。（以下介绍以JET为例） 五.ICT量测原理： 电阻量测 (1) 单个R （Mode 0,1） 利用Vx=IsRx（欧姆定律），则Rx=Vx/Is. 信号源Is取恒流 (0.1uA—5mA), 量回Vx. 即可算出Rx值. (2) 小电阻(50欧姆以内)四线量测：小电阻两端各下两支探针，1-4号探针的接触阻抗分别R1-R4, Ra,Rb,Rc,Rd分别为四次测试之量测值. (3) R//C(mode2) 信号源Vs取恒压（0.2V），量回Ix， Rx=Vs/Ix=0.2V/Ix， 算出Rx值. (4) R//L(mode3,4,5): 信号源取交流电压源Vs，用相位法辅助. |Y’|Cosθ=YRx=1/Rx, 并|Y’|=I’x/Vs, 故：Rx=1/|Y’|Cosθ 2. 电容及电感量测 单个C,L（Mode0,1,2,3）：信号源 取恒定交流压源Vs, Vs/Ix=Zc=1/2лfCx 求得：Cx=Ix/2лfVs Vs/Ix=Zl=2лfLx , 求得：Lx=Vs/2лfIx （2）C//R或L//R（Mode 5,6,7）：用相位法辅助，|Y’|Sinθ=|Ycx|, 即ωCx’Sinθ=ωCx 求得：Cx=Cx’Sinθ，(Cx’=Ix’/2лfVs) |Y’|Sinθ=|Ycx|, 即Sinθ/ωCx’=1/ωCx 求得：Lx=Lx’/Sinθ，(Lx’=Vs/2лfIx’) 電容極性測試的另一方法是三端測試, 須在上方加一探針觸及殼體. 在電容的正負極加載直流電壓, 至充飽后測量殼體電壓. 由于正負極與殼體間的阻抗差異, 故對于插反的電容所測量到的殼體電壓會與正確時不同. 據此可判別電容的極性.（详见附页一） 3.跳线测试：（UMPER, FUSE, WIRE, CONNECTOR, SWITCH, etc） 4. 量测PN结：（D,Q,IC,FET） (1)信号源0-10V/3mA or 30mA可程式电压源, 量PN结导通电压; (2)Zener D的测试原理是量测其崩溃电压，与二极体的差异是在测试电压源不同,其电压源为0V-10V及0V-48V可程式电压源. (3)电晶体测试需要三步骤测试，其中(1)B-E和(2)B-C脚是使用二极体的测试方法,(3)E-C使用Vcc的饱和电压值及截止值的不同，来测试电晶体是否插反. 电晶体反插测试方法：在B-E及E-C 脚两端各提供一个可程式电压源，量测出电晶体E-C正向的饱和电压为Vce=0.2V左右，若该电晶体反插时，则Vce电压将会变成截止电压，并大于0.2V，即可测出电晶体反插的错误. 5.量测Open/Short： 即以阻抗判定,先对待测板上所有Pin点进行学习,R25Ω即归为Short Group，然后Test时进行比较，R5Ω判定为Short，R55Ω判为Open. 6. Guarding(隔离)的实现： 以电流源当信号源输入时，則在相接元件一的另一腳加上一等高電位能(Guarding Point)，以防止電流流入與被測元件相接的旁路元件，確保量測的精準性。此時隔離點的選擇必須以和被測元件高電位能腳(Hi-Pin)相接之旁路元件為參考範圍. 以电压源当信号源输入时，則在相接元件二的另一腳加上一等底電位能(