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第9章 闪烁探测器
* * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * 2. 大尺寸闪烁体 闪烁体吸收全部次级电子、次级电磁辐射能量。 * 3. 中等尺寸闪烁体 闪烁体吸收次级电子能量,以一定几率吸收次级电磁辐射能量。 * 三.γ射线的输出脉冲幅度谱 1. 单能?射线 输出幅度涨落使峰宽度、边界展宽。 PMT噪声与暗电流形成小幅度连续谱。 * 2. 两种能量的?射线 较高能?射线:全能、单逃、双逃、康普顿、湮没峰; 较低能?射线:全能、康普顿边缘、康普顿坪; 特征x射线峰、反散射峰。 * 闪烁体 原子序数Z 密 度 发光效率 NaI(Tl) 11, 53 3.67 100 Bi4Ge3O12 83, 32, 8 7.13 7~14 探测效率、 能量分辨率、 光电峰、 逃逸峰。 * 3. 多种能量的?射线 * Monte-Carlo模拟与实验γ能谱的比较 * 四.NaI(Tl)单晶闪烁谱仪的性能 1. 能量分辨率 2. 能量线性 3. 探测效率 4. 时间特性 5. 闪烁γ探测器的稳定性 * 1. 能量分辨率 电子倍增系数M与工作电压V0的关系: 其中,V0是PMT总电压,a、b是常数,n是打拿极数。 工作电压波动引起的倍增系数变化: 通常要求PMT的电源稳定性好于0.1%。 * 所以: 闪烁探测器的能量分辨率为, * 能量分辨率的影响因素: (2) δ1大,则η小。 (1) 则η小。 (3) 高压稳定性的影响. (4) 道宽的影响 道宽 半高宽 若要: 则要求: 一般要求: * 2. 能量线性 单位能量输出幅度与入射粒子能量的关系。 理想情况:闪烁体的发光效率Cnp与入射粒子的能量无关,这样“全能峰”处的幅度就与入射 ?光子的能量成正比。 实际上:由于发光效率与入射粒子种类和能量有关。对于 ? 能谱只涉及电子引起的闪光,因此 ? 谱仪的非线性是由发光效率随电子能量不同而产生的。 对NaI(Tl),在100KeV~1MeV,变化约15%。 * 3. 探测效率 对平行入射的?光子束: 探测效率: 晶体厚度 高Z,ρ,大D的闪烁体探测效率高。 * 绝对总效率 绝对峰效率 本征总效率 本征峰效率 * * 对时滞及时间分辨本领:主要取决于光电倍增管的电子飞行时间 及其离散 。为获得好的时间分辨本领须选用快速光电倍增管。 4. 时间特性 对分辨时间,它主要取决于输出电压脉冲信号的宽度。 对电压脉冲工作状态,条件: 取决于R0C0 对电流脉冲工作状态,条件: 取决于τ * 5. 稳定性——主要由PMT决定 短期稳定性 对短期稳定性,须考虑开机预热达到稳定的时间。 长期稳定性是由环境温度和PMT的老化和使用寿命决定,为保持长期稳定性经常采用稳峰(或称稳谱)技术。 长期稳定性 * 闪烁探测器的噪声 闪烁探测器的噪声主要来自于光电倍增管的暗电流。在没有外来光源照射时,一般光电倍增管阳极输出的暗电流在10-7—10-9A,具体数据与型号、工作电压以及温度等因素有关。工作电压低、温度低,暗电流就小 * 烁探测器的噪声 暗电流的起因: 主要是光阴极和前几个打拿极的热电子发射 其次是电极绝缘材料和管子表面的漏电 还有其它因素(光反馈、离子反馈和场致发射等)的影响 * 闪烁探测器的噪声 热电子发射: 光阴极(或前几个打拿极)每发射一个热电子,经倍增后在阳极回路里就产生一个电流脉冲,由于热电子发射的随机性,阳极得到的是一系列随机分布的电流脉冲。考虑到各种暗电流因素和倍增系数的涨落,噪声脉冲的幅度有一定分布 另一方面,由于电子渡越时间的涨落,使倍增电子到达最后一个打拿极的时间有先后,噪声电流脉冲宽度tW就不只决定于电子从最后一个打拿极到阳极的渡越时间,而且与总渡越时间的涨落有关 * 闪烁探测器的噪声 如果把宽度很窄的噪声脉冲近似为冲击函数,那么光电倍增管的暗电流就可近似为幅度有一定分布的随机电流冲击序列。它是白噪声,在非零频率的功率谱密度等于常数 * 闪烁探测器的噪声 在推导上式时假设暗电流全部由光阴极热电子发射产生,未考虑产生暗电流的其它因素。另外,λ也不完全服从泊松分布。因此,上式只是近似公式,但可用来估计暗电流对能量分辨率的影响 实际上,对于能谱分析系统,光电倍增管的暗电流噪声,同闪烁体固有能量分辨率相比通常可以忽略不计 * * * * * * * * * * * 7. PMT 的时间特性 飞行时间(渡越时间) 一个光电子从光阴极到达阳极的平均时间。 渡越时间离散 到达阳极的每个电子都经历了不同的倍增过程和飞行距离,反映了飞行时间的涨落,是决定闪烁计数器分辨时间的限制因素。 :te的分布函数的半宽度 * 8. 光阴极的
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