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多波长的测温方法 P. B. Coates 量子计量学的划分；国立物理研究所；特丁顿；米德尔塞克斯(Jung 1975, Ricolfi和Lanza 1977, Coates 和 Andrews 1978)。在国际实用温标中，银的熔点定义为961.93℃时，这种改进就是光电检测法可以很好地替代lO%Rh-Pt/Pt (S型)热电偶。然而在辐射法测温的工业应用中，由于很多因素，它的不确定性通常要大一些。其主要原因是要求热辐射源是理想的黑体，这在很多工业的实际应用中很难做到。因此，主要测量的不确定度来源于辐射表面未知的辐射系数。 由于我们需要在高温下或者测试目标的物理接触不符合需求时，准确地测量温度，所以辐射测温法在技术上提高的方向主要是减少由未知真实表面发射率引起的错误。技术研究分成两个主要方面。目前，为了获得有关于表面辐射系数的信息，我们采用额外的单色光源或者额外的热辐射。用这种手段修正测量温度(Kel-sall 1963, Toyota et a1 1972, De Witt和Kunz 1972, Murray 1967, 1972, Gardner和Jones 1980)。然而，这些额外的需求使得结构的设计更加复杂，而且缺乏适应不同应用的灵活性。原则上讲，更简单的方法是将信息和特殊表面测试过程一起去修正温度。最近的研究表明(Murray 1967, 1972, Gardner和Jones 1980)根据辐射的特性来计算温度是可行的，这需要若干个波长的单独测量。综上所述，多波长高温测定法有很好的前景。本文的目的是估计这种测量方式的潜在价值和可能出现的问题。 2辐射率随着波长的变化 假定多波长高温测定法是由（n+1）个波长为 的通道构成的。为了在讨论中保证普遍性，不限制波长。首先研究理想状态下的温度测量，假设实验测量数据是准确的，其中不包含系统误差和随机误差。为了简化计算，还假设每个通道的带宽很小，使Wien 近似于 Planck law(普朗克定律)。这些假设不会影响到结论，如果每个通道滤光片的传输曲线是已知的，正如已经展现的那样(Ruffino 1975, Coates 1977, 1979)，实际的实验结果将根据滤光片曲线加以修正。 通道i测量的信号如下表示 式中ki是一个常量，独立于测温方法的结构设计、波长探测系统的敏感度和一些其他因素。经参考黑体源的校准后，由已知温度下测量值所决定。光辐射率和温度不是独立的。然而，正如我们认为通过测温法对单一温度的测定一样，降低了与这种变化确定的联系，用代替。对上面的式子两边同时取对数可得 (2) 表达式左边包含已知的测量值，右边包含未知的表面特征，我们可以看到（n+1）个方程组包含（n+2）个未知量（光谱辐射率和温度T），因此是无解的，除非我们可以找到他们的其他关系。事实上，函数仅仅是平滑、连续还不够，我们需要寻找更多理论或者实验关系。 多波长测温法中有一个似乎得到了普遍接受的简单假设(Svet 1975,1976, Qui和Compton 1975)，函数中光辐射率随着波长而变化。这种假设普遍用这种形式加以阐明： “可以用令人满意的函数代替，这个函数中包含n个参数。在没有表面特征先验知识的情况下，在（n+1）个不同情况下光辐射的测量结果将能够计算出这n个参数和辐射源的温度。” 表面来看，这似乎是合理的。大多数光滑的曲线都能够十分准确地近似于一系列简单项。比如说多项式，可以近似为指数项和傅立叶系数。当然很重要的问题是计算温度过程中，通常会产生的小的余数的影响。这个问题在之前没有做详细的分析。 根据Svet，Quinn的Compton的理论，可以假设可以由单一波长的（n-1）级多项式表示， (3) 其中T’是由假设所得出的温度的值。乘以后联立等式（2）（3）可以给出一个由（n+1）个式子构成的方程组 这些等式的第一项为： 给出了误差、真实温度T与由测量法得出的T’的差异。Lagrangian给出了这个恰好含有（n+1）个值的多项式： 其中的乘积包括所有除了j=i的j的值。 求第一项a-1的值，a-1是独立于λ的，得出： (6) 从数值分析领域来看:上面的求和项可以看作是的第N项的均差。这就是第n项的微分和波长连续函数关系。我们可以很简单地看到(Hartree 1955)，如果是由（n-1）级或者更少的多项式准确描述的话，那么这个均差为0，T=T′。当然，这完全符合由式子（2）和（3）的问题构成。 可以看到的是，随着n的增大，每一项都乘以一个λi/(λj-λi)的因子。一般来说n至少为5，但是也有可能高达100，因此前面的系数增长也很快。如果这些误差项大部分约去，之前所有项之和所给出的误差会变得很小。由于系数非常的大，所以对于很大的