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DDR 存储器的测试方法研究及实现 优秀毕业论文  PAGE 4 精品参考文献资料 DDR 存储器的测试方法研究及实现 摘 要 DDR 又称双倍速率 SDRAMDual Date Rate SDRSM是一种 高速 CMOS 动态随机访问的存储器 它代表着未来能与 Rambus 相抗 衡的内存发展的一个方向 和普通同步动态随机存储器 SDRAMSDR 相比 DDR 在时钟脉冲的上升和下降沿均读取数据 数据传输率可以 是时钟频率的两倍 工作频率较高 本文从存储器技术的发展和分类开始 对存储器的性能 指标 故障模式和基本测试方法等做了系统阐述 针对 DDR 测试的不同层 次 分别提出了基于板级的 DDR 测试方案 基于专用存储器测试系 统的 DDR 测试方法和基于 ETS770 逻辑测试系统的 DDR 测试方案 基于板级的 DDR 测试方案 主要面向的是设计使用 对 DDR 接 口驱动 控制信号 高速工作等部分进行试验和测试 测试的是器件 的实际使用性能 因 DDR 存储器的读写方式与其它存储器不同 工 作速率比较高 对设计和使用提出了很高的要求 因此对其开展板级 的使用测试 保障器件的正常使用是非常必要的 此方案的提出和实 现 将解决 DDR 工程应用的许多问题 而基于专用存储器测试系统 的 DDR 测试方法 主要面向的是产品生产和用户验收 对器件的功 能和交直流参数进行测试 测试比较全面 基于 ETS770 逻辑测试系 统的 DDR 测试方案则是面向用户的验收和可靠性测试 DDR 存储器 同其他 VLSI 和存储器相比具有一定的特殊性 国内尚无人研制出专  用的 DDR SDRAM 测试系统 国外的专用的 DDR 存储器测试系统由 于价格很高 除生产厂外 很少有研究单位购买专用的 DDR 存储器 测试系统 因此 目前国内用户要开展对 DDR SDRAM 的验收和可靠 性测试的研究受到很大的限制 为解决这个问题 本文在无专用的存 储器测试图形发生器的支持下 利用程序方法进行了测试向量的自动 生成 在对生成的测试向量进行自动转换和少量手工修改后 实现了 对 DDR SDRAM 几种存储器图形的测试 利用 DDR SDRAM 存储器的特性 把测试向量自动生成和存储器 测试图形融于一体 在逻辑验证系统上予以实现是本文的创新之处 在不同层面上开展对 DDR 存储器测试方法的研究 可为用户提 供对 DDR 存储器测试的参考借鉴 具有较高的实用价值 关键词 存储器 DDR SDRAM 测试方法 测试向量 ETS770 测试系 统  RESEARCH ON DDR MEMORY TEST METHODS AND IMPLEMENTATION ABSTRACT DDR (also called the Dual Date Rate SDRAM) is a high-speed CMOS and dynamic random access memory. DDR memory represents a new direction of the memory development that will contend with Rambus in the future. To compare with the general synchronous dynamic random memory (SDRAM) DDR can read data from the rising and fa lling edges of a clock pulse. Therefore the data transmission rate of DDR doubles that of the clock frequency and its operating frequency is much higher. Starting with an introduction on the developments and categories of memory technologies this paper makes a systematic description on the performance indexes failure modes and basic test approaches for memories. It puts forward several DDR test approaches respectively based on board-level special memory testing system and ETS770 logi