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第05章 热辐射探测器件
§5-1 热辐射的一般规律 §5-2 热敏电阻与热电堆探测器 §5-3 热释电器件 辐射热电偶的热端接收入射 辐射,因此在热端装有一块 涂黑的金箔,当入射辐射通 量 被金箔吸收后,金箔 的温度升高,形成热端,产 生温差电势,在回路中将有 电流流过。由于入射辐射引起的温升 很小, 因此对热电偶材料要求很高,结构也非常严格 和复杂,成本昂贵。 ④半导体材料辐射热电偶: 用涂黑的金箔将N型和P型半 导体材料连在一起构成热 结,另一端(冷端)将产生 温差电势,P型半导体的冷端 带正电,N型半导体的冷端带负电。开路电压 与入射辐射使金箔产生的温升 的关系: 称为泽贝克常数(温差电势 率 ) A、辐射热电偶在恒定辐射作用下,用负载电 阻 将其构成回路,将有电流 流过 , 并产生电压降 ,则有: 为总热导( ) 为热电偶的内阻 为金箔的吸收系数 B、若入射辐射为交流辐射信号 分别为热容、时间常数、热阻、热导 与材料及周围环境有关,为使热电导 稳定,将其封装在真空管中,称为真空 热电偶。 2、热电偶的基本特性参数 ①灵敏度(响应率) A、在直流辐射作用下,热电偶的灵敏度 B、在交流辐射作用下,热电偶的灵敏度 提高灵敏度的措施: 对交流灵敏度 ②响应时间 热电偶的响应时间约为几毫秒到几十毫秒左右, 在BeO衬底上制造Bi-Ag结结构的热电偶有望得 到更快的时间响应,可达到或超过10-7s。 ③最小可探测功率 热电偶的最小可探测功率NEP取决于探测器的噪 声,它主要由热噪声和温度起伏噪声,电流噪声 几乎被忽略。半导体热电偶的最小可探测功率 NEP一般为10-11W左右。 三、热电堆探测器 1、热电堆 为了减小热电偶的响应时间,提高灵敏度,常把 辐射接收面分为若干块,每块都接一个热电偶, 并把它们串联起来构成如下的热电堆。 在镀金的铜基上蒸镀一层 绝缘层,在上面蒸发制造 工作结和参考结,参考结 与铜基之间要保证电气绝 缘和热结触,而工作结与铜基之间是电气和热都 要绝缘的,热电材料敷在绝缘层上,把这些热电 偶串接或并接构成热电堆。 2、热电堆的灵敏度 为热电偶的对数(PN结个数) 为热电偶的灵敏度 热电堆的响应时间常数 要想使高速化和提高灵敏度两者并存,就要在不改变的情况下减小热容。热阻抗由导热通路长和热电堆以及膜片的剖面面积比决定。 一、热释电器件的基本工作原理 1、热释电效应 ①电介质的极化 一般的电介质 ②铁电体的极化 铁电体在外加电场除去后 仍保持着极化状态,称其 为“自发极化”。其极化程 度用极化强度 表示。 ③极化强度 介质表面单位面积上的电荷量称为自发极化强度。 当温度升高到一定值,自发极化突然消失, 这个温度常被称为“居里温度”或“居里点”。 ④铁电体的 关系曲线 B、外加电场能改变自发极化矢量的方向,无 规则排列的自发极化矢量趋于同一方向, 形成所谓的单畴极化,当外加电场去除后 仍能保持单畴极化特性的热电介质,所以 称为铁电体或热电——铁电体。 ⑤铁电体(热电晶体)的特征 A、无外加电场时有电矩,在温度变化时电矩 发生变化,所以又称为热电介质。 C、经过单畴极化的铁电体在垂直于极化方向 的表面上,将由表面层的电偶极子构成相应 的静电束缚电荷。 所以极化强度定义为表面层单位体积内的电矩 之和。 ⑥热释电效应 因为 或 随温度的升高而减少,所以当红外辐 射照射到已经极化的铁电体薄片时,薄片温度升 高,表面电荷减少,相当于热“释放”了部分电荷。 释放的电荷可用放大器转变成电压输出。这就是 热释电效应。 辐射持续作用,表面电荷将达到新的平衡,不再 释放电荷,热释电器件在恒定辐射作用的情况下 输出的信号电压为零。在交变辐射的作用下才会 有信号输出。 ⑦热释电效应的解释 温度恒定时,面束缚电荷 被来自晶体内部或外围空 气中的异性自由电荷所中 和,因此观察不到它的自 发极化现象。 外部和内部的自由电 荷中和表面束缚电荷 的时间常数为 和 分别为晶体的 电容率和电阻率。 的值一般在 之 间 ,即晶体表面上的面束缚电荷可以保持 的时间。只要使热释电晶体的温度在 束缚电荷被中和掉之前因吸收辐射而发生变化。 晶体的自发极化强度 就会随温度 的变化而 变化,相应的束缚电荷面密度σ也随之变化。 即:影响 的因素有两个,一是晶体内或空气 中
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