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第三章原子发射光谱法全
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3-1 概述
3-1-1 原子发射光谱分析过程
分析过程:试样蒸发、激发→色散分光→
检测记录→定性、定量
仪器:光源→分光系统(光谱仪)→感光板
→观测系统(映谱仪、测微光度计)
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3-1-2 发射光谱分析的特点和应用一、特点
可直接分析固体、液体和气体试样,可分析70种元素。
选择性好 同时测定多种元素不需分离,
灵敏度高 检出限 μg·mL-1级,ICP可达ng·mL-1
对低含量分析有相当的准确度和精密度
检测器灵敏,自吸、自蚀
取样量少,分析速度快。几mg -几十mg
仅能反映原子或离子的性质,不能给出物质分子结构、价态和状态等信息。
二、应用 冶金、钢铁、地质、机械等部门
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3-2 发射光谱分析基本原理
3-2-1 原子发射光谱的产生
3-2-2 谱线的强度
----- 波耳兹曼(Boltzmann)公式
3-2-3 谱线的自吸与自蚀
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3-2-1 原子发射光谱的产生
原子发射光谱产生条件:
原子处于气态;
原子被激发
蒸发能
激发电位 Ei—— 将原子中的一个外层电子从基态激发到激发态所需要的能量。电离电位 U——使原子电离所需要的最小能量。
2. 原子发射光谱的产生:
(1)原子由激发态跃迁到较低能态过程中发生辐射产生的光谱称为
原子线
(2)离子由激发态跃迁到较低能态过程中发生辐射产生的光谱称为
离子线
产生离子线所需能量 = 电离电位 + 激发电位
外界提供能量
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3. 谱线特性和分析依据
E =Ej-Ei = hν = hc/λ = hcσ
不同元素的原子: 结构不同→Ei、Ej不同
→λ不同——定性分析基础。
同种元素的原子: 原子能级很多,可产生一系列不同λ的特征光谱或谱线组。
原子光谱为线状光谱
谱线强度——定性、定量分析依据。?
3-2-1 原子发射光谱的产生
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3-2-2 谱线的强度
1.波耳兹曼(Boltzmann)公式 :
T —— 激发温度。
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2.谱线强度和影响因素
d Nij = Aij Nidt
d Nij—在时间dt内,从高能级i向低能级j跃迁的原子数
Aij—自发发射系数,自发发射跃迁几率。
——谱线强度公式(3-5)
(1)原子内部常数:Aij、νij、gi、g0、Ei
(2)激发温度 T
(3)基态原子数N0
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激发电位和电离电位 Ei和U
(1)原子内部常数:Aij、νij、gi、g0、Ei
影响因素
I ∝ e -Ei;
Ei↓,
I↑。
Ei越低,I 越大
—共振线(第一共振线) Ei最低,I 最大。
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(2)激发温度 T
T较低时,
T↑, e -Ei / kT↑, I↑。
影响因素
T超过某一温度时,
电离↑,
原子线强度↓,
离子线强度↑。
P30 图3-3
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(3) 基态原子数及试样中元素浓度
Iij=acb 或 lgIij=lga+blgc
--光谱定量分析基本关系式,赛伯-罗马金公式
b——自吸系数,C低时b→1,C高时b<1。
a是和试样的蒸发、激发过程、试样组成有关的一个参数。
当实验条件,试样组成一定时,a可视为常数。
影响因素 Iij= (gi/g0) N0Aijhνij e-Ei/kT
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3-2-3 谱线的自吸与自蚀
自吸——光源中心处于激发态的原子在向四周发射辐射能时,其辐射能被自身原子所吸收而使谱线中心强度减弱的现象。
(P30图)
自蚀——自吸严重时,谱线中央强度低于边缘强度。
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影响自吸的因素:
I=I0e-adc
谱线固有强度,固有强度越大,自吸系数越大;
基态原子浓度,C↑自吸↑;
光源类型:弧层厚度,温度分布:
弧层越厚,自吸越严重。
一般光源,中心温度>边缘温度,有自吸;
ICP 中心温度<边缘温度,无自吸。
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3-3 原子发射光谱仪器
激发光源
分光系统
观测系统
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3-3-1 激发光源
作用:提供使试样中被测元素蒸发解离、原子化和激发所需要的能量。
要求:有足够的蒸发原子化和激发的能力。灵敏度高,稳定性好,光谱背景小,结构简单,操作安全。
常用的激发光源:火焰、电弧光源、电火花光源、电感耦合等离子体光源(ICP)等。
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