总体拥有成本-Keysight.PDFVIP

是德科技 测试设备真正的“总体拥有成本” 白皮书 摘要 — 当针对新购、升级或维护做出项目决策时，拥有成本 始终是一个热门话题。确定开发总体拥有成本（TCO）模型的 标准，很快会变成牵扯甚广、满怀各种情绪的争论。但当谈到 采购和运营测试设备的成本时，很难得到一个确定的答案。 不过，如果从产品生命周期（PLC）或基于性能的物流（PBL） 观点来看，或许能够开发出一个更精确的成本模型。通过理解 并利用采购、运营、维护、迁移和处置这些资产的直接和间接 成本，能够获得一个精确的总体拥有成本模型。本文将展示 测试设备的 PLC/PBL 成本，并将完整介绍一个 总体拥有成本 （TCO） 模型，它可以帮助您在不同的项目选择之间做出权衡 决策 。 本白皮书最初发布于 IEEE AUTOTESTCON 2010 会议记录。 引言 作者： Bill Lycette 公司质量监察 Duane Lowenstein 测试流程分析经理 是德科技公司 多年以来，为确保公司生产出零缺陷的电子产品，测试与测量设备的采购一直被视为一个绕不开的魔咒。其 中很多问题都可以归因于 20 世纪 70 年代和 80 年代电子技术的繁荣发展，最大的一个影响因素可能就是电 子设计所依据的标准不一致。在很多情况下，设计人员使用自制的计算公式或此前开发的表格来计算设计裕 量。到了 20 世纪 90 年代，随着设计变得更加复杂，大多数设计人员不得不开始使用专门开发的模拟工具。 很快，这种做法就证明了一个良好的模拟设计可以最大限度缩小理论设计与实际产品之间的性能差距。通过 模拟，加上生产商掌握的高品质制造方法，可将产品良率提高到 95% 以上。结果，还是有问题。既然质量水平 已经这么高，为何我们还要在测试上花费这么多钱呢？或者更直接的问题是：测试的真正成本到底是什么？ 在 20 世纪 90 年代，我们看到，电子工业大量推广外包生产，电子产品变得功能更加强大，控制更简单便捷， 信息化程度更高，消费者期望花更少的钱获得更出色的产品，并且产品完全符合质量标准，更加丰富多样。这 种压力迫使制造商在全球化经济环境下削减成本。全球化让所有制造商都能获得和使用相同的人力资源、零 部件供应商和设计工具。这导致了一个新采购焦点诞生，即总体拥有成本（TCO）。TCO 首先获得了半导体用 户的青睐，因为他们希望确定采购过程中需要决定的更多因素，而不仅仅是初始采购（购买）成本。采购一条 半导体生产线可能动辄耗费数千万美元。进一步的分析显示，在半导体生产线的整个使用寿命中，与拥有和 运营相关的成本可能会大大超过采购成本。 本文将介绍针对电子测试与测量设备的 TCO 模型，并将解释比简单地降低采购（资金）成本之外，降低总体 拥有成本的更重要因素是降低运营成本。这个 TCO 概念将能帮助设备拥有者做出明智的采购决策，并将展示 TCO 变量如何大幅改变测试和测量设备在其产品生命周期中的总体拥有成本。 最初发布于 IEEE AUTOTESTCON 2010 会议记录 03 | 是德科技 | 测试设备真正的“总体拥有成本”— 白皮书 测试成本 关于测试成本（CoT ）这一主题，业内人士写过和发表过许多文 在理解真正的 TCO 时，即使在 CoT 模型中使用平均成本也容易 章。虽然有些模型是专