无损探伤核评片(NDI)PPT.ppt

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无损探伤核评片(NDI)PPT

  2) 金属增感屏   金属增感屏在受射线照射时产生β射线和二次标识X射线对胶片起感光作用。其增感较小,一般只有2~7倍。金属屏的增感特性通常是, 原子序数增加,增感系数上升,辐射波长愈短,增感作用越显著。但是原子序数越大,激发能量也要相应提高,如果射线能量不能使金属屏的原子电离或激发, 则不起增感作用,相反还会吸收一部分软射线。如铅增感屏, 当管电压低于80 kV时,则基本上无增感作用。 在生产实践中,多采用铅、锡等原子序数较高的材料作金属增感屏,因为铅的压延性好,吸收散射线的能力强。   3) 金属荧光增感屏   金属荧光增感屏是在铅箔上涂一层荧光物质组合而成的, 其结构如图4所示。它具有荧光增感的高增感系数,又有吸收散射线的作用。 图4 金属荧光增感屏结构示意图   4) 增感方式的选择    增感方式的选择通常考虑三方面的因素:产品设计对检测的要求、射线能量和胶片类型。   3. 曝光参数的选择    1) 射线的硬度   射线硬度是指射线的穿透力,由射线的波长决定。波长越短硬度越大,则穿透力就越强,对某一物质即具有较小的吸收系数。X射线波长的长短由管电压所决定,管电压愈高, 波长愈短。射线硬度对透照胶片影像的质量有很大关系。因此, 选择射线的硬度尤为重要。例如:当一束强度为I0的射线, 通过被透照厚度为d的物体后,其强度将衰减为Id;通过一厚度为x的缺陷后,其强度为Ix 。Ix/Id称为对比度或主因衬度, 即 假设缺陷内为空气,则μ′可忽略不计。因而   在工业射线透照中,总是希望胶片上的影像衬度尽可能高,以保证检测质量。因此,射线硬度尽可能选软些。但是,如果希望在材料的厚薄相邻部分一次曝光,则要选用较硬的射线。   为了提高某些低原子序数、低密度和薄壁材料的检测灵敏度,应采用软射线,即低能X射线照相法。 通常将60~150 kV定为中等硬度X射线,60 kV以下定为软X射线。    2) 射线的曝光量    射线的曝光量通常以射线强度I和时间t的乘积表示,即 E=It,E的单位为mCi·h(毫居里·小时)。对X射线来说,当管压一定时,其强度与管电流成正比。因此X射线的曝光量通常用管电流i和时间t的乘积来表示,即 E =it 其单位为mA·min(毫安·分)或mA·s(毫安·秒)。 在一定范围内,如果E为常数,则i与t存在反比关系: E =i1t1 = i2t2  一般在选用管电流和曝光时间时,在射线设备允许范围内,管电流总是取得大些,以缩短曝光时间并减少散射线的影响。此外,X射线从窗口呈直线锥体辐射,在空间各点的分布强度与该点到焦点的距离平方成反比(见图5)。即 图5 曝光距离与射线强度的关系  3)射线照相对比度   射线照片上影像的质量由对比度、不清晰度、颗粒度决定。影像的对比度是指射线照片上两个相邻区域的黑度差。如果两个区域的黑度分别为D1、D2,则它们的对比度为: ΔD=D1-D2 。影像的对比度决定了在射线透照方向上可识别的细节,影像的不清晰度决定了在垂直于射线透照方向上可识别的细节尺寸,影像的颗粒度决定了影像可记录的细节最小尺寸。 图6透照影像几何不清晰度   4) 焦距的选择   焦距是指从放射源(焦点)至胶片的距离。焦距选择与射线源的几何尺寸和试件厚度有关。由于射线源有一定的几何尺寸, 从而产生几何不清晰度Ug,如图6所示。由相似三角形关系, 可以求出: 式中:φ为射线源的几何尺寸;F为焦点至胶片的距离;a为焦点至缺陷的距离;b为缺陷至胶片的距离。  5) 曝光曲线   ①不同管电压下,材料厚度与曝光量的关系曲线,材料厚度d与曝光量x的关系为: 式中:μ为吸收系数;为常数。x与d呈线性关系。若以x为纵轴,d为横轴,当焦距一定时,则给定一个厚度d,对应于某一管电压可以求得一个x值。用各种不同的电压试验时,就可以得出一组斜率逐渐变化的曲线,如图7所示。 图7材料厚度与曝光量的关系曲线   2) 标识X射线   根据原子结构理论,原子吸收能量后将处于受激状态, 受激状态原子是不稳定的,当它回复到原来的状态时,将以发射谱线的形式放出能量。在X射线管内,高速运动的电子到达阳极靶时将产生连续X射线。如果电子的动能达到相当的数值, 可足以打出靶原子(通常是重金属原子)内壳层上的一个电子, 该电子或者处于游离状态,或者被打到外壳层的某一个位置上。 于是原子的内壳层上有了一个空位,邻近壳层上的电子便来填空,这样就发生相邻壳层之间的电子跃迁。这种跃迁将发射出线状的X射线。显然,这种X射线与靶金属原子的结构有关, 因此称其为标识X射线或特征X射线。标识X射线通常频率很高, 波长很短。   3. 射线通过物质的衰减定律   1) 射线与

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