用迈克尔逊干涉仪判断量子相位.docVIP

出处：Quantitative phase determination by using a Michelson interferometer 译文标题：用迈克尔逊干涉仪判断量子相位 译文： 摘要： 迈克尔逊干涉仪是测量量子干涉的最为精确的仪器之一。他不仅用于科学研究，并且也用于在大学生量子学教学中用于定性的示范几个典型的量子测量实验如：测量折射率，波长，光学厚度等等。并且现在仍然适用。总的来说，大多数测量都是靠判断由干涉图形的位置形状变化所引起的相位变化来实现的。但是。由于极高的灵敏度，实验有关的条件的很小的偏离会产生相当大的干涉图的误差，就会使的测量很难与相位变化同步。本文的主要目的是介绍一种方法，使迈克尔逊干涉仪在特定条件下能够“减缓”以允许较缓慢的量子相位测量。我们介绍一个例子怎样精确确定任意标准通明光楔的倾角。或者其折射率。实验结果和制造者的数据进行了对比，并显示出很好的一致性。 1．实验介绍： 在描述光的波动性时，干涉是任何光学课题的一个基础话题。一些实验模型比如：Young, Michelson, Mach Zender都有提及。相干光束在空间相互调制使光强形成我们所熟知的干涉图形。所有这些手段的一个主要应用是判断光学表面的量子特性或是物体相位的测量。在不涉及对待测物时的直接测量的情况下，通过对他所呈现出的干涉图形的位置变化或是形状改变的测量来进行间接测量。当测量长度与光波波长是同一数量级时，干涉仪的高灵敏度就起了很重要的作用。也就是说，当光路发生变化比波长大的多时，就能使干涉图形发生很大变化，而这种情况的测量需要很复杂的（电学）探测技术！ 本文我们介绍一种以干涉仪为基础建立起来的量子测量装置，他能有效的避免干涉图形发生很大的变化。为达到这个目的，我们就必须“强制”的减小干涉仪的灵敏性，利用透明光楔的倾角变化来产生待测相位变化就是一种很方便的方法。干涉图形的变化也能因此而变得可以简单的用裸眼直接观测。并且通过使用大学或实验室常见的光学器件就能进行对光楔倾角的量子测量。 作为一个特例，我们介绍一种对迈克尔逊干涉仪的处理方法。我们的方法同样适用于其他处理后的干涉装置，以适用于特殊要求。 2．理论原理： 2．1迈克尔逊干涉仪的基本介绍： 虽然很多物理光学教科书上都有有关迈克尔逊干涉仪的基本介绍，但是我们还是要简要介绍一些和我们实验有关的迈克尔逊干涉仪的特点。如图1所示：在迈克尔逊干涉仪的基本结构中，波长的光从光源S出发，经过分束器BS，这时波前被分为如下两束：光束1射向平面镜并被反射回BS。在这过程中他经过的光路是：,是BS到的距离。是这一支路的相对折射率。光束2射向并沿返回，光路为：.两束光重新在BS结合。产生的光程差是：,重新结合的两光束相位差是： , 方程中是真空中波长。 观察面P上呈现的干涉图形，取决于两等效镜面和到BS的光学长度和。这也可以表示为在两个镜面上分别有两个虚拟光源和。如果两平面严格平行，方程1中计算出的光照加强区的相位将是一个常数，保持不变。因此观察面上光强分布就是确定的。那么对于图2(b)的情况，当其中一个镜子相对于另一个有所倾斜时，比如假设他绕垂直轴Y转过一个角度。那么对于与垂直与镜面的方向，沿X轴方向将有一个附加的并且变化相位。 设想：当镜面绕Y轴转动一个很小的，镜面保持与光传播方向垂直。从到来回的光束将有一个附加的光路为： , 是镜面上点到轴的距离。 可见相位大小与距离长短呈线性关系的，这使得观察面上出现等距平行条纹。空间频率为：即使同一光源发出的光经过的光程差很小，条纹也将呈现出一种很高的对比度。 对于只有一个镜面相对于光传播方向发生倾斜的情况是，可以理解为是在光路中加入了一个光楔。 2．2．附加相位变化产生的效果： 下面我们假设干涉仪被放置在空气中，折射率为1。我们试着确定仅其中由一条支路的附加相位所引起的变化。测量相位也就是确定由一条支路的关涉条纹发生了多少周期变化，由此便能确定与之相关的相位变化。光线往返过程中，当相位变化2时，或者是光程增加或减少，观察到的图像将会完成一次完整的空间周期变化。对于麦克尔逊干涉仪，光线两次经过引起相位变化的物体，他会有较高灵敏度。很明显，当用可见光观测时，很难被控制光路的变化，并且这种变化将会引起图像迅速的变化，以至于我们不能数出到底发生了多少个周期变化。除非我们使用复杂的电子设备。 正如简介中说的，我们要测量透明光楔的倾角。光楔被放置在干涉仪的一个支路上，并被放置在一个线性平移区，如图3。当他垂直于光的传播方向移动时，这一支路光程将会变化，也即相位发生变化。当光路中加入光楔时，光路将增加，反之同理。如果光楔的倾角足够小，光路增加一个波长需要水平移动一个很大的距离，以使我们在观察面上看到一个完整的周期变化。