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;目录;无损探伤的定义
;无损探伤的分类;基于核辐射的射线无损探伤;基于γ射线的无损检测;工作原理如下图所示：
一束平行的γ射线射向被测量物件，在物件的另一端放置辐射探测器后，可以通过检测射线强度的变化来反映被测物件的质量情况。当被测物件存在缺陷时。;γ射线在正常物件中的衰减公式如（1）所示
当被测物件存在缺陷时ρ;辐射探伤常用的γ射线源：60Co、137Cs、192Ir（铱）、241Ar（氩）。
辐射探伤常用源活度：10的11次方到10的12次方Bq（贝克勒尔）。
工作示意图如下：;基于X射线的无损探伤;X射线测量与γ射线测量方法的区别;主要的射线探测方法;电离探测法;荧光屏直接观察法;射线无损探伤的优势;射线无损探伤的缺陷;LOGO
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