测量系统分析msa培训教材好文档.pptVIP

测量系统的分析 ☆将结果记录于数据表格上，计算每位评价人获得所有样品值的平均值（Xi’）。 ☆确定评价人平均值的极差（Ro） Ro=Xmax’－Xmin’ ☆估计评价人标准偏差=Ro/d2* 式中：d2*取决于评价人数（m）和g；（g=1，因为只有一个极差值）。 大亚湾光弘科技电子有限公司 品管部 测量系统的分析 ☆计算再现性=5.15RO/ d2*。 由于量具变差影响了该估计值，必须通过减去重复性部分来矫正。 　矫正后的再现性= 式中n=样件数量；r=实验次数 矫正后的再现性标准偏差 σo=矫正后的再现性/5.15 大亚湾光弘科技电子有限公司 品管部 测量系统的分析 ●零件间的变差 对每一位评价人来说,子组的平均值反映出了零件间的差异. σP=RP /d2* RP为样品的平均值极差. d2* 取决于样件总数(m)和 g,这里 g=1,因为只有一个极差. 零件间变差=PV=5.15 σP (5.15代表正态分布的99%测量结果) 大亚湾光弘科技电子有限公司 品管部 测量系统的分析 ●测量系统变差及数据分级数 　　σm=（σm2+ σo2)1/2 测量系统变差RR=5.15σm 另外:总过程变差的标准偏差: σt =(σP2 + σm2 ) 1/2 我们一般关心的是测量系统变差与总过程变差的百分比. %RR= σ m/ σt 数据分级数=［PV/RR ］×1.41 大亚湾光弘科技电子有限公司 品管部 测量系统分析的准备 1、决定要使用的方法。 2、确定评价人的数量，样品数量和重复读数的次数。 ①由于是评价整个测量系统，因此评价人从日常操作该设备的人中选择。 ②样品数和实验次数取决于： a、被测项目的关键性——关键特性需要较多的样品和实验。 b、零件结构——大/重零件可规定较少样品和较多实验。 大亚湾光弘科技电子有限公司 品管部 测量系统分析的准备 3、样品必须从过程中选取，并代表整个工作范围，并对样品编号以便区分。 4、仪器分辨力应为被测件预期过程变差的1/10。 5、确保每个评价人采用同样的方法和步骤测量。 6、测量应按随机顺序进行，评价人应不知道正在检查样件的编号，以避免可能的偏倚。 7、读数时尽可能估计到最接近的数字。如果可能，读数取至最小刻度的一半。 大亚湾光弘科技电子有限公司 品管部 Gage R＆R 分析 有三种方法用于计量型量具的分析：极差法、均值极差法和方差分析法（ANOVA）。 一、极差法 这种方法只提供整个测量系统的总体情形，无法分离再现性和重复性。 典型的极差法使用两名评价人和五个样品进行分析，每个评价人对每个样品测量一次。 大亚湾光弘科技电子有限公司 品管部 测量系统分析的准备 二、均值和极差法（ x＆R ）。 均值和极差法是一种提供测量系统重复性和再现性的数学方法，它允许将测量系统变差分解成重复性和再现性两部分。 ☆由三名测定者对10个样件反复测量两次，将结果记入数据表格（见附表二），并计算相关特 征代值。 ☆用附表三所列公式进行计算重复性和再现性。 ☆Minitab应用 大亚湾光弘科技电子有限公司 品管部 测量系统分析的准备 三、方差分析法（ANOVA）— Minitab应用 ☆将数据按顺序输入Minitab工作表 ☆选择ANOVA分析法 量具重复性和再现性可接受准则是： 低于10%的误差——测量系统可接受。 10%至30%的误差——根据应用的重要性，量具成本，维修的费用等决定是否可以接收。 大于30%的误差——测量系统需要改进。 大亚湾光弘科技电子有限公司 品管部 测量系统分析的准备 计数型量具的研究（小样法） 通过选取20个样件来进行，两位评价人两次测量所有样件。在20个样件中，一些样件稍许低于或高于规格限值。 　 大亚湾光弘科技电子有限公司 品管部 今天的学习就到这里， 谢谢大家！ 　　 大亚湾光弘科技电子有限公司 品管部 * * * * * * * * * * * * * * * * * 大亚湾光弘科技电子有限公司 品管部 大亚湾光弘科技电子有限公司 品管部 大亚湾光弘科技电子有限公司 品管部 大亚湾光弘科技电子有限公司 品管部 大亚湾光弘科技电子有限公司 品管部 大亚湾光弘科技电子有限公司 品管部 大亚湾光弘科技电子有限公司 品管部 大亚湾光弘科技电子有限公司 品管部 大亚湾光弘科技电子有限公司 品管部 大亚湾光弘科技电子有限公司 品管部 大亚湾光弘科技电子有限公司 品管部 大亚湾光弘科技电子有限公司 品管部 测量系统分