一种焦平面热像仪非均匀性校正算法研究.docVIP

一种焦平面热像仪非均匀性校正算法研究 　　摘要：红外凝视焦平面技术目前已经成为最广泛应用的红外热像仪通用技术。为了有效解决严重影响凝视型探测器性能发挥的非均匀性现象，本文提出了新型的具有自适应修正功能的非均匀性校正算法，与一般应用的标准两点式校正算法而言，该方法可以更有效的降低图像的非均匀性，同时具有更宽的环境适应性。 　　关键词：焦平面 热像仪 　　中图分类号：TN21 文献标识码：A 文章编号：1007-9416（2013）02-0109-03 　　1 介绍 　　凝视型焦平面探测器（下统称凝视FPA）的发展始于20世纪80年代，经过30多年的技术攻关，已取得了令人瞩目的成就。FPA的规格从小规模发展到中规模、大规模、超大规模（高密度兆级数量像元）；应用的波段范围有短波（SW）、中波（MW）、长波（LW）、超长波（VLW）、双波段、多光谱等。由于焦平面面阵成像具有结构简单、探测能力强、帧频高等优点，正在成为当前的红外成像技术的主流器件。 　　对于凝视焦平面探测器，空间的非均匀性的固定噪声比起随机噪声要大得多，为了充分利用探测器的性能，提高整个红外热像仪系统的性能指标，就必须进行非均匀性校正。 　　一般来说，采用两点式校正算法进行图像的非均匀性校正是目前凝视热像仪的后处理电路进行图像的非均匀性校正的比较常用的方法[1，2]，世界各国都在对基于场景的非均匀性校正算法进行一系列的研究。但由于红外成像系统在实际应用中具有各种复杂情况，基于场景的非均匀性处理方法目前对各种算法和适用条件的研究以及校正后的成像质量还未达到实用化的高度，也存在许多基于场景的算法衍生出来的图像质量问题如鬼影[3]等。有鉴于此，本文提出了一种基于两点校正理论的自适应修正系数的非均匀校正方法，该方法能够避免常规非均匀性校正算法的缺陷，从探测器参数漂移的原理的基础上总结出了一套自适应修正系数的方法并应用于两点校正技术中，实现的自适应修正系数的非均匀校正方法能够解决红外探测器工作参数漂移导致的非均匀性校正效果劣化的问题。 　　2 红外探测器的信号响应理论模型 　　在绝大多数的应用领域，红外探测器接收的辐射量一般都是探测器工作在基本为线性的响应区段，在本文中，我们认为探测器响应遵循以下线性响应模型。对于第（i，j）号探测器阵列中的探测器像元，在时刻n时测量响应Yij（n）由式（2.1）确定： 　　Yij（n）=Aij（n）Xij（n）+Bij（n）+Nij（n） （2.1） 　　在式（2.1）中，Aij（n）是在时刻n的第（i，j）号探测器像元的增益，Bij（n）是对应的偏移电压，Xij（n）是由探测器在积分时间内收集到的辐射量。为了利于理解起见，每个参数都有下标ij是为了表示清楚每个操作数都是针对每个像元的。Nij（n）是附加的随机噪声成分，噪声为平均值为零的高斯分布，每个像元的噪声独立，与其他像元的噪声不相关。尽管黑体辐射数据表明，噪声与辐射量存在微弱的相关性，为了简化，本文假设噪声N（n）与探测器接收到的辐射量X（n）不相关。 　　由于探测器的非均匀性的强度往往比实际信号还要大得多，而做校正参数提取时，由于噪声为平均值为零的高斯分布[4-6]，所以可以通过多帧积分的方法将噪声对参数的影响尽量降低[7]，于是式（2.1）可以简化为： 　　Yij（n）=Aij（n）Xij（n）+Bij（n） （2.2） 　　通过将探测器的响应模型做适当简化，下文主要针对式2.2所描述的探测器响应模型做进一步的讨论。 　　3 基本非均匀性校正算法的理论模型 　　焦平面器件从出世到现在已经应用了约30年，国际上针对红外焦平面探测器的应用已经提出了多种非均匀性校正的方法，其中有的已经实用化，有的正在理论探索和实验室研究阶段。从发表的论文和公开的资料看，在系统中应用比较多的是两点定标校正或多点定标校正，其它方法正在逐步完善发展。 　　经常采用的两点校正方法属于定标校正，应用两点法校正的前提条件有两个，第一，探测器的响应是线性的，这一假设在探测器响应的大部分区域是成立的，只有在输入极小和接近饱和时才有比较大的非线性，在忽略两端误差的情况下可以认为探测器的响应是线性的。显然，根据两点决定一条直线的原理，只需对直线上的任意两点进行定标测量，即可求出该直线，从而对非均匀性进行校正。第二，探测器的性能参数必须具有时间的稳定性，否则，定标的数据在实际使用时就会失去意义。 　　下面对具体校正方法加以讨论。假定探测器尺寸规模为M×N，响应特性为线性， 　　则： 　　（1）在黑体温度为T1时，可测得探测器各单元的响应。设第i帧的探测器响应为YiT1， 　　YiT1= （2.3） 　　采集K帧的图像数据，对图像进行积分，以便尽量减少随机噪声的影响，得到YiT1K：