SPS-QM-W-07-04统计过程控制(SPC)作业规定.doc

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SPS-QM-W-07-04统计过程控制(SPC)作业规定

1.0 目的 控制图是用统计方法将收集的数据计算出控制界限,以提醒检验人员和质量工程师,如发现有超出界限或异常现象时,应立即查找原因,拟定改进措施,预防质量问题的产生。 2.0 适用范围 2.1 公司关重零件及图纸所示重要度。 2.2 指定供应商应用SPC以提高质量水平。 3.0 定义 无 5.0 职责 品质保障部负责数据测量、统计、分析。 5.0 程序 5.1 使用时机 5.1.1 先期质量规划阶段 5.1.2 过程控制中使用 5.2 统计控制流程 1.先期质量策划与过程在非控制状态 2. 过程解析 3. 控制项目 4. 标准化 5. 控制图应用 6. 过程解析 7. 过程能力研究Cp,Pp Cp1 8. 控制图判断 9. 过程控制 5.2.1 先期质量策划 5.2.1.1 公司关重零件的关重点(C.C) 5.2.1.2 顾客指定PPK值事项(S.C) 5.2.2 过程在非控制状态: 一般若有下列现象 尚未使用控制图 不良率持续上升 不良现象重复出现 无法提早预知不良会发生 当这些现象在过程中时常出现时,即可研判公司过程尚未进入控制状态。 5.3 过程解析 5.3.1 按照统计学中常态分配法则,控制图上的各个点数据一定呈现上下跳动的机率性出现的现象,而造成此现象的原因,既是造成过程引起变异的原因。 原因可分为两种: a) 偶然原因--不可避免的原因 b) 异常原因--可以避免的原因 过程控制既是要控制可以避免的异常原因,因此要作过程分析,利用5W1H方法,将过程各个作业单元(人、机、料、法、环、测)的异常加以掌握。 由过程解析可得知公司过程现在所处的状态。 5.3.2 过程的两种状态 a. 控制状态 过程虽变动,但可预测,可控制: b. 非控制状态 过程变动,无法预测,无法控制 若公司过程利用统计法中控制图显示是在控制状态则可直接跳入Step7, 若非控制状态则利用5W1H找出造成异常的原因,如: 机器设备造成的 操作人员造成的 时间因素造成的 操作方法造成的 检验方法造成的 5.4 控制项目 将Step2中造成可以避免的异常原因加以调查与掌握,设定要因的控制项目,亦即掌握要因后,将不致于产生不良结果或不被预期的结果。 5.5 控制图制定要领及判断法 5.5.1 计量值控制图(X-R)控制图,取样方法: a) 依检查表内设计(定时或定量)取样2-5件为限,以样品相互的差距越小为好。 b) 测定并记录。 c) 计算每组之X(平均值)及R(全距) d) 测定组数,每日取样2组以上,以24-30组计算控制界限,每日取1组时,以50组计算控制界限。 e) 计算 X=X之总和/组数 R=R之总和/组数 X控制图界限计算: 上控制界限UCL X=X+2R UCL=X+A2R LCL=X-A2R 平均值CL X=X 下控制界限LCL X=X-A2R R控制图界限计算: 上控制界限UCL R=D4R

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