第6章LED技术指标和测量方法12-1.ppt.ppt

第六章 LED的技术指标和测量方法 平面角和立体角 常用光度学单位及其相互关系 光通量Φv（lm） 光强Iv（cd） 照度Ev（lx） 常用的光度测量定律 a) 照度的平方反比定律 c)余弦立方定律 式中：I—点光源射向该点的光强； h—光源离该平面的高度； θ—平面法线与入射光线的夹角； — OA长度。 影响热阻的因素： 与LED的芯片本身的结构与材料有关； 与LED粘结所用的材料的导热性能及粘结时的质量有关； 与热沉的散热面积大小有关。 防静电指标：一般LED做好后，双极开路防静电指标应在500V之内； 失效率：指一批LED器件再点亮后多长时间，有多少个出现“死灯”现象。这是衡量这批LED器件质量的关键指标。 寿命：LED器件在正常工作条件下，半光衰时间越长，说明LED的寿命越长。LED的寿命与使用时系统的散热条件、出光效率有直接关系。 其他相关指标： 老化：LED发光亮度随着长时间工作而出现光强或光亮度衰减现象。器件老化程度与外加恒流源的大小有关，可描述为: Lt=LO e-t/τ， Lt为t时间后的亮度，LO为初始亮度。通常把亮度降到Lt=1/2LO所经历的时间t称为二极管的寿命。 测定t要花很长的时间，通常以推算求得寿命。测量方法：给LED通以一定恒流源，点燃103 ~104 小时后，先后测得LO ，Lt=1000~10000，代入Lt=LO e-t/τ求出τ；再把Lt=1/2LO代入，可求出寿命t。 长期以来总认为LED寿命为106小时，这是指单个LED在IF=20mA下。随着功率型LED开发应用，国外学者认为以LED的光衰减百分比数值作为寿命的依据。如LED的光衰减为原来35%，寿命＞6000h。 寿命资料的进一步补充： LED相关技术标准与发展动向 5 　CIE（国际发光照明委员会）： 原文为Commission Internationale de L‘Eclairage（法）或International Commission on Illumination（英）。这个委员会创建的目的是要建立一套界定和测量色彩的技术标准。可回溯到1930年，CIE标准一直沿用到数字视频时代，其中包括白光标准（D65）和阴极射线管（CRT）内表面红、绿、蓝三种磷光理论上的理想颜色。 IEC（国际电工委员会）： IEC：International Electrotechnical Commission，也是非政府性国际组织，是联合国社会经济理事会的甲级咨询机构，正式成立于1906年，是世界上成立最早的专门国际标准化机构。 国际LED标准化组织 ISO（国际标准组织） ISO：International Organization for Standardization，于公元1946年由各国国家标准团体所组成之世界性联盟，为一质量需求之系统标准，其诉求之重点为要求企业内部之运作必须有一定之作业程序，且每个作业程序必须予以书面化，但其并不是在帮您企业制定作业标准，而是强调各项作业流程必须按照公司所自订之程序来执行之，毕竟每个行业或公司都有其不同之文化，其运作模式并非企业外之组织所能帮您制定，故以一简单之白话来表示：把做的写下来，按照写的做或言出必行，即为ISO所追求之最高宗旨。 ANSI（美国国家标准协会）： ANSI：American National Standards Institute，由公司、政府和其他成员组成的自愿组织。它们协商与标准有关的活动，审议美国国家标准，并努力提高美国在国际标准化组织中的地位。此外，ANSI使有关通信和网络方面的国际标准和美国标准得到发展。ANSI是IEC和ISO的成员之一。　 国际LED标准化组织 EN（欧洲标准） En：Europe Norm或Europe Standard，按参加国所承担的共同义务，通过此EN标准将赋予某成员国的有关国家标准以合法地位，或撤销与之相对立的某一国家的有关标准。也就是说成员国的国家标准必须与EN标准保持一致。 国际LED标准化组织 1. IEC60747-5 半导体分立器件及集成电路(1992)； 2. IEC60747-5-2 半导体分立器件及集成电路零部件5-2：光电子器件——分类特征及要素(1997-09)； 3. IEC60747-5-3 半导体分立器件及集成电路5-3：光电子器件——测试方法(1997-08)； 4. IEC60747-12-3：半导体分立器件12-3：光电子器件——显示用发光二极管空白详细标准（1998-02）； 5.