基于RENESAS32位单片机矿井材料试验控制系统设计研究.docVIP

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基于RENESAS32位单片机矿井材料试验控制系统设计研究

基于RENESAS32位单片机矿井材料试验控制系统设计研究   [摘 要] 针对矿井材料试验系统的实际应用要求,提出了一种基于RENESAS32位单片机(SH7137)的设计方案,运用RENESAS单片机的PWM控制功能实现了对负荷控制电机的直接变频控制。实验结果显示,相应算法对数据随机干扰有良好的抑制作用,同时对数据变化又具有很好的跟随性;当数据存储溢出时,运用动态指针技术实现循环存储,以保障最大限度地保持最新有效数据,确保大容量数据存储的快速、有效。   [关键词] 嵌入式系统; ERFRS算法; 实时数据存储   引言   RENESAS单片机以其高性能和高可靠性在嵌入式系统的应用领域占据着高端市场的最大份额。矿井材料试验系统在基础工业的应用中具有极其重要的作用。材料试验结果的准确性,试验设备的可靠性以及材料试验系统对不同试验要求的适应性是材料试验系统的基本要求。针对矿井材料试验系统的实际应用要求,论文提出了一种基于Renesas32位单片机(SH7137)的设计方案。   1 总体设计方案   1.1 系统总体结构   在本课题中,材料综合试验控制系统的控制系统主要由测量单元、直流伺服驱动单元、基于RENESAS的试验炉主控制器、微型计算机系统及配套的控制软件等组成。   材料综合试验控制系统的系统总体结构框图如图1所示。   1.2 系统组成单元的具体方案设计   系统由直流伺服驱动单元、测量单元、RENESAS主控制器、机械部分、上位机等五部分组成,各个部分的具体设计方案如下:   (1)直流伺服驱动单元:是控制系统的核心部分,由直流伺服驱动模块和专用伺服电源组成,其主要功能是将主控制器中RENESAS微处理器的命令“翻译”成相应的控制命令驱动直流电动机以设定的速度正转、反转、适时停转,从而控制可移动横梁的上升、下降、停止[1]。   (2)测量单元:系统测量包括负荷测量、变形测量和位移测量。   (3)RENESAS主控制器:是采用3 2 位RENESAS微处理器SH7137,外围扩展存储器模块,液晶显示器 ( LCD )和键盘作为人机交互接口设备。   (4)机械部分: 试验炉的机械部分,主机负荷机架采用等强度的设计方法, 其工作台与横梁采用焊接梁结构。试验炉的执行部件动横梁在丝杠的驱动下做直线升降运动。   (5)试验炉温度控制:主要控制试验炉的温度。通过RENESAS或者上位机来发送命令来控制试验炉的温度,实现对试验炉的温度控制。   (6)上位机: 按软件工程理论分析材料综合试验控制系统的 控制功能的实现, 然后进行模块化、结构化的软件设计,目标是使软件具有人机界面友好、功能易扩充及易维护的优点[2]。   2 系统硬件设计   2.1 基于SH7137的系统主控制器设计   SH7137集成了32位RISC SH-2内核。SH7137系列最高工作频率为80 MHz,较瑞萨科技当前SH7047系列的50 MHz性能提高了1.6倍。SH7137的处理器体系结构如图2所示:   2.1.1 基于SH7137的硬件平台体系结构   系统主控制器的硬件平台采用模块化的设计思想,各个模块各自独立、自成体系。模块化设计,不仅增强了各个部分的可重用性,而且给后期的调试工作带来了很多方便。下面给出本课题基于SH7137的系统主控制器硬件平台体系结构设计图,如图2所示:   在下面的内容中,将对主控制器各个部分的功能原理和应用设计方法分模块逐一说明。   2.1.1 大容量数据存储模块   该系统采集时间比较长,数据量比较大选用SD卡存储。   SD卡支持SD和SPI两种传输模式,主机系统可以选择其中任意一种模式。SD模式允许4线的高速数据传输。SPI模式使用通用的SPI接口。这种模式相对于SD模式的不足之处是丧失了速度,但是却有着接口简单易于实现的优点。SD卡的SPI模式使得SD卡可以和市场上大部分微控制器进行通信。   由于RENESAS SH7137没有集成SD口,故我们只能用SPI模式。以下是SD卡的管脚描述表:   在 SPI 模式下,主机使用SPI 总线访问卡,由于SH7137集成SPI接口,所以使用MCU的SPI 接口访问卡是很方便的。微控制器在卡上电后的第1个复位命令就可以选择卡进入SPI 模式。   2.2 系统测量单元的硬件选型与电路设计   为了获得所需测量参数,需要系统测量单元来完成压力、变形及位移信号的采集等一系列的工作。在系统测量单元中,采用模拟双通道来分别对压力和变形信号进行精密测量,这两路模拟通道的设计结构基本上是一致的,如图3所示。   另外采用数字单通道编码器来间接测量动横梁的位移信号。   因此,该单元设计的主要任务是完成传感器、信号放大器以及模数转换器等器件的选型和传感器测量接口通

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