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SIPM在脉冲光检测系统中应用研究 　　摘要： 为了实现硅光电倍增管（silicon photomultiplier，SIPM）对超出光子计数极限的微弱脉冲光信号的测量，建立了基于SIPM积分工作模式的脉冲光检测系统。测试了SIPM在同一光信号照射下，偏置电压与增益以及信噪比之间的关系，并测试了同一增益条件下，SIPM对不同光信号的响应特性。结果表明：SIPM在积分工作模式下，其增益可以达到104以上，并随着偏置电压的增加而指数增长；其信噪比也随着电压的增加而增加，在光强比较微弱的情况下，SIPM对光强是线性响应的。所设计的系统可以在一定程度上替代光电倍增管进行微弱脉冲光信号的测量。 　　关键词： 硅光电倍增管（SIPM）； 多像素光子计数器（MPPC）； 微弱光检测 　　中图分类号： TN 29； TH 741文献标志码： Adoi： 10.3969/j.issn2014.06.002 　　引言近年来出现了一种称为硅光电倍增管的器件，其实质是由工作在盖革模式的雪崩二极管（avalanche photo diode，APD）阵列组成，滨松公司的这种产品被称为多像素光子计数器（multipixel photon counter，MPPC），SENSL公司的这种产品称为硅光电倍增（silicon photomultiplier，SIPM）。它工作在盖革模式下时，增益可达到106，接近光电倍增管（photomultiplier tube，PMT）的增益水平，探测能力稍低于PMT，最低可以测量几百飞瓦量级的超微弱光信号。并且SIPM偏置电压小于100 V，具有硅基的全固态结构，集成度高、抗干扰能力强的特点，可以克服PMT操作电压高、量子效率低、不能在强磁场中工作的缺点，价格仅为PMT的1/10，因此在超微弱光信号探测领域具有很大的潜力。国际上关于SIPM的报道主要集中在核物理、正电子发射断层扫描成像（PET）等领域。2003年俄罗斯莫斯科工程与物理研究所Buzhan等[1]报道了SIPM在闪烁光纤检测器、塑料闪烁体波长频移、切伦科夫成像计数器等方面的应用，2006年日本滨松光子Yamamoto等[2]详细介绍了其商业化产品SIPM（MPPC）的增益、量子效率、噪声等特性，关于SIPM其他方面的应用美国加利福利亚大学Roncali等[3]作了详细的总结。在国内Xi等开展了SIPM在PET成像领域的研究[4]，赵帅等[56]进行了SIPM在激光主动探测方面的研究，聂瑞杰等[7]开展了SIPM在水下激光三维成像技术的研究。在这些研究报道中，光信号都非常微弱，SIPM工作于光子计数模式，而对光信号稍强、光子脉冲信号叠加、计数模式失效的情况鲜见报道。本文设计了一套基于SIPM的脉冲光信号测量装置，旨在研究SIPM对微弱脉冲光信号进行探测过程中光强超出光子计数极限的情况，实现以SIPM代替昂贵的PMT进行微弱光信号的测量的目标。1SIPM工作原理SIPM中的每个APD单元都是工作在盖革模式下的，其偏置电压大于击穿电压，这种模式下，增益达105～106，一个光子就会导致雪崩，从而电压快速下降，在放电完成重新充电达到原来的电压之前，该单元是无法再探测到光子的。因此目前大多数的研究工作都是基于光子计数模式。光学仪器第36卷 　　第6期陈忠祥，等：SIPM在脉冲光检测系统中的应用研究 　　由于光子计数工作模式下，需要先对光子脉冲进行整形，如果多光子脉冲相互重叠，无法进行有效的脉冲整形，从而无法进行光子计数，SIPM对不同强度光信号的响应如图1所示。当光强比较微弱时，每个光子脉冲相互独立（见图1（a）），可以实现光子计数；当光强增加，多个光子脉冲相互叠加并且出现重叠（见图1（b）），这样是无法进行计数的，需要采用积分测量模式。本文所介绍的系统适用于积分模式。 　　2基于SIPM的大动态范围荧光检测系统设计系统由SIPM及其高压偏置模块HV BIAS、驱动模块、数据采集模块[8]、计算机等组成，系统框图如图2所示。脉冲光信号经过SIPM转化为电流信号，进入阻抗变换放大器（TIA）转化为电压信号，其输出信号为快速光子脉冲信号，受AD的采样率限制，先将其进行抗混叠滤波，之后信号由采集卡模块将模拟信号数字化之后送入PC中进行数据处理，从而得到光信号的大小。由于有抗混叠滤波器的存在，显然本系统测量的信号为光子脉冲平均信号，本质上是系统带宽限制下的多光子脉冲叠加的平均信号，反映了小于系统带宽频率变化的光信号，且滤除了光子脉冲以及光强更高频率的变化细节。在测试脉冲光信号时，只需要保证系统带宽大于脉冲信号的带宽，就可以保证信号被准确地测量。图3SIPM检测系统框图 　　Fig.3SIPM test system3实验装置及系统测试由于