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不同EVA材料抗光伏组件PID效应的研究 　　【摘 要】本论文通过研究不同EVA材料对光伏组件PID测试性能的影响，对比分析采用了四类EVA封装的光伏组件的IV特性以及EL测试结果，给出不同EVA材料的抗PID效应能力，给光伏行业的PID研究并解决困扰光伏行业的难题提供参考。 　　【关键词】光伏组件；电势诱导衰减；乙烯-乙烯醋酸酯共聚物（EVA） 　　中图分类号： TM615 文献标识码： A 文章编号： 2095-2457（2017）29-0104-002 　　【Abstract】In this paper， by studying the influence of different EVA materials on the performance of PV modules， the IV characteristics and EL results of the four types of EVA-encapsulated PV modules are contrasted and analyzed. The anti-PID effects of different EVA materials are given， Industry PID research and solve the problems plaguing the photovoltaic industry provide a reference. 　　【Key words】PV module； Potential-induced attenuation； Ethylene-vinyl acetate copolymer （EVA） 　　0 引言 　　光伏组件由TPT背板、封装材料、晶体硅电池片、封装材料、钢化玻璃面板组成。其中封装材料是它的最一个关键部分，好的封装材料可以为太阳电池的安装提供多种光学、物理、绝缘、防湿气等保护[1]。由于具有成本低、质量轻、粘结性能好以及柔软等优点，高分子树脂材料是目前使用广泛的一种封装材料，它包括离子型聚合物、聚乙烯醇缩丁醛（PVB）、乙烯-乙烯醋酸酯共聚物（EVA）、热塑性聚氨酯（TPU）、?崴苄跃巯┨?（TPO）、聚二甲基硅氧烷（PDMS）等[2]，其中含33%醋酸乙烯酯的EVA综合性能良好，是目前光伏组件中最常用封装材料。 　　PID效应是指长期运行于高强度负电压下的组件，在封装材料与玻璃间产生漏电流[3]，大量电荷在电池片表面集聚，从而导致光伏组件钝化失效性能变差[3-7]。温湿度等环境条件会使接地边框和电池片之间形成漏电流，背板、玻璃、封装材料和边框间会形成漏电流通道，从而导致PID现象。 　　本论文通过研究不同EVA材料对光伏组件PID测试性能的影响，对比分析采用了四类EVA封装的光伏组件的IV特性以及EL测试结果，给出不同EVA材料的抗PID效应能力，给光伏行业的PID研究并解决困扰光伏行业的难题提供参考。 　　1 试验方案 　　1.1 EVA材料收集 　　收集不同抗PID的EVA制备厂家信息，挑选出四种EVA材料作为组件封装材料，体积电阻值各有不同，具体如表1： 　　1.2 测试组件的制备 　　将收集的4种EVA材料按相同工艺分别制备成待测组件，每个种类各制作1个样品，分别为样品A、B、C、D。本试验采用多晶硅电池片为主要原料。组件制备完成后，将待测组件置于户外进行三轮5KW？h预处理，待组件稳定后再进行PID试验。 　　1.3 试验方法 　　试验开始前，先对所有样品进行EL测试、IV特性测试的初始测试。对所有样品进行相同条件的PID试验，试验方法参考以下IECEE国际电工委员会标准：IEC 62804系统偏压耐受测试（俗称电位诱发衰减PID测试）；IEC 61215， 地面用晶体硅光伏组件―设计鉴定和定型；IEC 61730-2， 光伏组件安全鉴定 第二部分：试验要求；IEC 60068-2-78 环境测试 第2-78部分：试验 试验室：稳态湿热。试验条件为：温度60℃，湿度85%，时间96小时，电压1000V，接线方式为反接。PID试验结束后，进行实验后EL测试、IV特性测试。 　　2 试验结果 　　按试验方案进行PID测试，测试前后不同EVA封装组件I-V特性如表2： 　　3 结果分析 　　根据当前研究成果，一般认为PID失效存在三种控制机制，极化、钠离子迁移和电化学腐蚀，在传统的晶硅组件中，主要在电池片与焊带的焊点附近易发生电化学腐蚀，这种腐蚀机制并不是所有晶硅组件产生PID现象的一个主要原因。极化主要与电池片的表面处理有关，极化产生的失效大多是可以恢复的，钠离子迁移却是难以扭转的。钠离子迁移原理为：由于水汽进入或EVA中原有的水分会导致EVA水解产生