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光学元件外径机器视觉测量技术研究 　　摘要： 　　基于机器视觉技术，采用平行光投影获取光学元件轮廓图像，通过行扫描提取目标，使用最小二乘线性回归边缘检测方法，将直线边缘定位精度达到亚像素级别，使测量精度达到微米级。实验结果表明，采用机器视觉的非接触测量方法可以实现对光学元件外径的快速准确测量。 　　关键词： 　　机器视觉； 目标提取； 亚像素边缘检测 　　中图分类号： TN 274文献标志码： Adoi： 10.3969/j.issn.1005-5630.2016.04.003 　　Based on machine vision technology，we use the parallel light projection to obtain optical element contour image.By line scan to extract target，we use the least squares linear regression edge detection method and achieve the linear edge location accuracy to sub-pixel level so that measurement precision can reach micron level.The experimental results show that the machine vision method of non-contact measurement can achieve fast and accurate measurement of the optical element diameter. 　　Keywords： 　　machine vision； target extraction； sub-pixel edge detection 　　引言 　　现代科学技术中，对光学元件的检测主要包括基本量测量、材料特性测量、光学系统特性及像质检测[1]。其中最基础的是对元件基本量的测量，对透镜来说即是对几何尺寸、光学表面质量的测量，其中光学面因其制造工艺的复杂性，易引起加工误差，从而备受人们关注，相继研究出较多检测方法[2-3]。相对而言，对非光学面的测量关注度较少，如直径、厚度等，还处于手动接触式测量阶段，如游标卡尺，千分尺等，这些检测方法需耗费大量劳动力，速度也慢，已不满足现代工业的要求。近年来，基于机器视觉的测量技术已经在国外得到了广泛的应用[4-5]，其相对于接触式测量，有以下几个优点：（1） 排除接触测量对物体表面的损伤；（2） 测量可以连续进行，无需停止目标移动；（3） 因为是数字图像处理，计算机识别，排除了人为因素的影响。 　　因此本文应用机器视觉技术搭建了一套完整的光学元件测量系统，重点介绍了系统的软硬件结构，结合行扫描的目标提取方法以及亚像素边缘检测，对光学元件的基本参数进行了快速准确的测量。 　　1机器视觉测量系统设计 　　本系统的组成分为两部分：硬件系统和软件系统。硬件系统主要完成图像采集，使用摄像机及配套的图像数据采集系统，采集能够反映光学元件特征的图像。如图1所示，光源背光照射物体，经光学系统成像于面阵相机的光敏面上，图像采集卡接收从摄像机中输入的模拟电信号，通过A/D转换为数字信号，经USB接口传入计算机，计算机通过软件对采集的图像数据进行处理，从而能快速、精确地计算出该光学元件的尺寸，并将结果显示出来。 　　实验中，使用平行光管产生背景光；由于普通镜头在进行尺寸测量时会有畸变大、物距不同放大倍率不同等问题，因此选用远心镜头GCO-230206，双方（物方、像方）远心设计，放大倍率为0.24×，工作距离为72 mm，光学畸变小于0.2%，可有效解决普通镜头存在的问题，获取更好的像质。采用单色面阵相机MER-500-7UM，分辨率为2 592×1 944，靶面大小为1/2.5英寸（1英寸=2.54 cm），USB 3.0数据线与PC相连，配合相应驱动软件使用。根据镜头及相机的参数，可确定出此测量系统的视场范围约为23.75 mm×17.87 mm。 　　软件部分主要完成图像处理和尺寸测量。如图2 所示，对获取图像的处理包括：图像预处理、特征提取、边缘检测、尺寸计算等模块。 　　2.1目标提取方法选择 　　视觉系统中的一个重要问题就是从图像中识别代表物体的区域（或子图像），最简单的方法是背景减法[6]，利用当前图像与背景图像的差分来检测目标区域，它能提供最完全的特征数据；但它对周围环境引起的变化比较敏感，如何将这些变化标记为背景还在研究中。还有一种是阈值分割法[7]，利用图像中要提取的目标物体与背景在灰度特性上的差异，从而把图