关于圆管内侧直探头接触法超声波探伤灵敏度及判伤修正.docVIP

关于圆管内侧直探头接触法超声波探伤灵敏度及判伤修正 　　用直探头接触法在圆管内侧做超声波探伤时，由于工件形状与常用的条状平板试块不同，以致引起误差。本文利用声学与几何光学的相似性，从声束转播理论出发，导出对平板与圆管两种工件，在材质相同并且缺陷深度，大小一样的情况下，探头接收到的不同声压的关系，从而求出两者间的修正值，以便利用常规的条状平板试块，通过灵敏度补偿的方法、科学地对圆管材质或圆管角焊缝进行探伤。 　　1.问题的提出 　　在压力管道及锅炉容器超声波探伤工作中，经常遇到各种直径的圆管，其中一些需要在圆管内侧用直探头接触法做超声波探伤。而在现场探伤中，不可能有大量的不同规格的标准试块，一般常用条状平板标准试块。由于形状的不同，同等大小的缺陷仪器所显示的大小必然不同。有的探伤操作者对此不加以修正，按等同对待，这显然是错误的。有的探伤操作者，按（20lg（R/R+T）即内外径之比取对数乘20）修正。由于声束不是从管子的轴心发出垂直管壁入射到工件内部，所以，这种修正方法显然是不准确的。对此，要从理论上找出它们两者之间的关系，从而在探伤中做灵敏度补偿，达到判断准确的效果。 　　2.基本原理与公式推导 　　由于本文是讨论同深度、同材质、同声程的平板与弯管探伤修正理论，故可不考虑声束在传播中的衰减和其它能量损失。在此前提下，声压只与声束的横截面积有关。在声学中，声束的发散和聚焦的能力，只与耦合剂的声速、工件的曲率、工件的声速有关，而与声束的形状无关，因此，为叙述方便，我们只讨论柱状声束。 　　由于声学与几何光学的相似性，我们可以把声学问题用几何光学的方法来解决。 　　n’ M 　　I’ i n I 　　α’φ β 　　S’ C O S 　　图 　　如图所示，曲面是折射率分别为n/和n两种介质的界面。现研究自发光点S/发出的光线S/M经过曲面折射后的光路，亦即研究光线S/M经曲面OM折射后与联线S/C的延长线相交的位置。 　　如图在△S/MC中，按正弦定律有 　　（1） 　　在?SMC中，按正弦定律有 　　（2） 　　按照三角函数的关系，有 　　Sin（180-φ）=sinφ （3） 　　Sin（180-i）=sini （4） 　　把（3）式代入（1）式，有 　　（5） 　　把（4）式代入（2）式，有 　　（6） 　　有 （7） 　　而按光学的折射定律，有 　　n’sini’=nsini （8） 　　把（8）式代入（7）式，有 　　（9） 　　当φ角很小，以至于conφ可视为1，满足这样条件的区域称为近轴区域。在这样的区域，我们完全可以把I’/视为S’/，及把I视为S。 　　这样，在（9）式中，令I’=S’，I=S，立即得到决定近轴区域主光轴上物（S’）和象（S）的位置的近轴曲面折射公式。 　　（10） 　　当s’≥∞+，有 　　S= 　　此时的S即为焦距。即 　　= （11） 　　至此，我们从光学问题中回到声学问题，在声学中，有 　　（12） 　　’，为两种介质的声速。 　　把（12）式代入（11）式，有 　　= （13） 　　在沿管轴向，工件曲率为零，与平板相同，声束不发生汇聚或扩散。对于柱状声束来说，距探头x处工件中的声束的横截面是椭圆，其短轴为D（D为柱状声束的直径），其长轴可根据几何关系求出。对于探伤来说，更重要的是x处反射到晶片附近的声束。X处反射到晶片附近的声束所形成的短轴仍为D，长轴相当于2s处的h。这可以通过数学的几何关系证明出来。 　　根据几何关系，有 　　= （14） 　　柱状声束的横截面积SO面积=（D/2）2。由处反射到晶片处的声束横截面积，在不考虑其它声能损失的情况下（由于平板试块与圆管在相同深度的声中其它声能损失是相同的，所以这种假设是合理的）。晶片发出的声压与处反射到晶片处的声压关系为。 　　：=面积：面积 　　即=，整理有 　　= （15） 　　在平板试块中，在我们前边叙述的假设前提下，晶片发出的声压与在X处反射回来的声压同为P，也与圆管探伤中晶片发出的声压P相同。所以（15）式也是圆管在X处反射到晶片的声压与平板在X处反射到晶片的声压之比的公式。 　　在声学中，常常用分贝表示这两个实数之比P/P，则分贝值A就是圆管内侧直探头接触法超声波探伤的灵敏度及判伤的修正值。它可由下式求得： 　　A=20log10（16） （16） 　　把（15）式代入（16）式，有 　　A=20log10 （17） 　　把（13）式代入（17）式经整理， 　　有A=20log10{} （18） 　　此式表示距圆管内表面X处缺陷反射对应于同深度同大小缺陷平板试块反射的dB修正值。 　　3.实验结果 　　我们选择了内