内部监查规程-JET一般财团法人电气安全环境研究所
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太陽電池測定業務に係る申込等の様式
一般財団法人 電気安全環境研究所
電力技術試験所
太陽電池セル?モジュール測定申込書
一般財団法人電気安全環境研究所 理事長殿
太陽電池測定業務規程に同意して、下記の測定?校正を申込みます。
(二次基準太陽電池セル?モジュール1台毎に一通の申込書を作成して下さい)
(太陽電池モジュールは同一なセルタイプ毎に一通の申込書を作成して下さい)
(セルは同一構造なセル毎に一通の申込書を作成してください)
書類提出日
年 月 日
1.申込者
会社名(和文)
会社名(英文)
英文報告書を希望する場合にのみ記載して下さい
郵便番号
所在地(和文)
所在地(英文)
英文報告書を希望する場合にのみ記載して下さい
部署名
役職
氏名
押印又は署名
TEL
FAX
E-MAIL
2.申込みの種類及び測定項目
二次基準太陽電池セルの校正
二次基準太陽電池モジュールの校正
常用参照太陽電池モジュールの出力測定
□ 結晶系太陽電池モジュールのIV測定
□ 薄膜系太陽電池モジュールのIV測定
□
セルの出力測定
セルの分光感度特性測定
3.校正品?測定品
校正品?測定品等の型式名
校正品?測定品等の識別番号
校正品?測定品等の製造社名
校正品?測定品数
4.添付書類一覧:
文書名
文書番号
添付書類:二次基準太陽電池セル?モジュール校正品、太陽電池モジュール出力測定品又はセル出力測定品に関する情報
二次基準太陽電池モジュール校正の場合、構成するセルの短絡電流値及びF.Fが±1%以内であることを明記した文書とモジュールの短絡電流値の安定性が確認できるデータ
校正品?測定品の取扱説明書
(添付書類:二次基準太陽電池セルの校正)
1.校正品について
種類
□単結晶シリコン
□多結晶シリコン
□疑似アモルファスシリコン(単結晶シリコン+光学フィルタ)
□疑似アモルファスシリコン(多結晶シリコン+光学フィルタ)
???????構造
□JISパッケージ
□WPVSパッケージ
感度波長帯域(nm)
~
発電部面積(cm2)
発電部寸法(cm)
×
発電部の位置
□添付図面の通り
最大印加可能な逆バイアス電圧(V)
最大印加可能な順バイアス電圧(V)
校正品の校正履歴
あり
(校正機関: 校正日: 校正値: )
なし
2.報告書の発行について
■校正証明書(□和文 □英文)
(添付書類:二次基準太陽電池モジュールの校正)
1.校正品について
種類
□単結晶シリコン(■バイパスダイオードが付いていないもの)
□多結晶シリコン(■バイパスダイオードが付いていないもの)
測定品の外形寸法(縦×横×厚さcm)
× ×
感度波長帯域(nm)
~
発電部面積(cm2)
発電部寸法(cm)
×
発電部直列数
発電部の位置
□添付図面の通り
構成するセルのばらつき
Isc ± %以内 F.F± %以内
電極取り出し箇所
□コネクタ端子 □端子ボックス内 □その他( )
最大印加可能な逆バイアス電圧(V)
最大印加可能な順バイアス電圧(V)
光照射履歴
校正履歴
あり
(測定機関: 測定日:
測定値 Isc Voc Pmax F.F )
なし
2.分光感度特性測定について
■分光感度特性を測定する(型式及び識別番号: )
3.報告書の発行について
■校正証明書(□和文 □英文)
(添付書類:常用参照太陽電池モジュールの出力測定)
1.測定品について
種類
□単結晶シリコン
□多結晶シリコン
□薄膜(シングルアモルファスシリコン)
□薄膜(多接合構造) 構造(例a-Si/μc-Si)
□薄膜(化合物系) 構造(CIGS)
□その他( )
測定品の外形寸法(縦×横×厚さcm)
× ×
感度波長帯域(nm)
~
発電部面積(cm2)
発電部寸法(cm)
×
発電部直列数
発電部の位置
□添付図面の通り
構成するセルのばらつき
Isc ± %以内 F.F± %以内
電極取り出し箇所
□コネクタ端子 □端子ボックス内 □その他( )
最大印加可能な逆バイアス電圧(V)
最大印
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