内部监查规程-JET一般财团法人电气安全环境研究所.DOC

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PAGE 2/9 太陽電池測定業務に係る申込等の様式 一般財団法人 電気安全環境研究所 電力技術試験所 太陽電池セル?モジュール測定申込書 一般財団法人電気安全環境研究所 理事長殿 太陽電池測定業務規程に同意して、下記の測定?校正を申込みます。 (二次基準太陽電池セル?モジュール1台毎に一通の申込書を作成して下さい) (太陽電池モジュールは同一なセルタイプ毎に一通の申込書を作成して下さい) (セルは同一構造なセル毎に一通の申込書を作成してください) 書類提出日      年     月     日 1.申込者 会社名(和文) 会社名(英文) 英文報告書を希望する場合にのみ記載して下さい 郵便番号 所在地(和文) 所在地(英文) 英文報告書を希望する場合にのみ記載して下さい 部署名 役職 氏名 押印又は署名 TEL FAX E-MAIL 2.申込みの種類及び測定項目 二次基準太陽電池セルの校正 二次基準太陽電池モジュールの校正 常用参照太陽電池モジュールの出力測定 □ 結晶系太陽電池モジュールのIV測定 □ 薄膜系太陽電池モジュールのIV測定 □ セルの出力測定 セルの分光感度特性測定 3.校正品?測定品 校正品?測定品等の型式名 校正品?測定品等の識別番号 校正品?測定品等の製造社名 校正品?測定品数 4.添付書類一覧: 文書名 文書番号 添付書類:二次基準太陽電池セル?モジュール校正品、太陽電池モジュール出力測定品又はセル出力測定品に関する情報 二次基準太陽電池モジュール校正の場合、構成するセルの短絡電流値及びF.Fが±1%以内であることを明記した文書とモジュールの短絡電流値の安定性が確認できるデータ 校正品?測定品の取扱説明書 (添付書類:二次基準太陽電池セルの校正) 1.校正品について 種類 □単結晶シリコン □多結晶シリコン □疑似アモルファスシリコン(単結晶シリコン+光学フィルタ) □疑似アモルファスシリコン(多結晶シリコン+光学フィルタ) ???????構造 □JISパッケージ □WPVSパッケージ 感度波長帯域(nm)       ~       発電部面積(cm2)      発電部寸法(cm) ×       発電部の位置 □添付図面の通り 最大印加可能な逆バイアス電圧(V) 最大印加可能な順バイアス電圧(V) 校正品の校正履歴 あり (校正機関:    校正日:    校正値:       ) なし 2.報告書の発行について ■校正証明書(□和文  □英文) (添付書類:二次基準太陽電池モジュールの校正) 1.校正品について 種類 □単結晶シリコン(■バイパスダイオードが付いていないもの) □多結晶シリコン(■バイパスダイオードが付いていないもの) 測定品の外形寸法(縦×横×厚さcm)      ×     ×      感度波長帯域(nm)       ~       発電部面積(cm2)      発電部寸法(cm) ×       発電部直列数 発電部の位置 □添付図面の通り 構成するセルのばらつき Isc ±     %以内 F.F±     %以内 電極取り出し箇所 □コネクタ端子 □端子ボックス内 □その他( ) 最大印加可能な逆バイアス電圧(V) 最大印加可能な順バイアス電圧(V) 光照射履歴 校正履歴 あり (測定機関:     測定日:      測定値 Isc Voc Pmax F.F ) なし 2.分光感度特性測定について ■分光感度特性を測定する(型式及び識別番号: ) 3.報告書の発行について ■校正証明書(□和文  □英文) (添付書類:常用参照太陽電池モジュールの出力測定) 1.測定品について 種類 □単結晶シリコン □多結晶シリコン □薄膜(シングルアモルファスシリコン) □薄膜(多接合構造) 構造(例a-Si/μc-Si)         □薄膜(化合物系)  構造(CIGS)              □その他(                     ) 測定品の外形寸法(縦×横×厚さcm)      ×     ×      感度波長帯域(nm)       ~       発電部面積(cm2)      発電部寸法(cm) ×       発電部直列数 発電部の位置 □添付図面の通り 構成するセルのばらつき Isc ±     %以内 F.F±     %以内 電極取り出し箇所 □コネクタ端子 □端子ボックス内 □その他( ) 最大印加可能な逆バイアス電圧(V) 最大印

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