对于X射线荧光光谱法测定化探样品中主次痕量元素探讨.docVIP

对于X射线荧光光谱法测定化探样品中主次痕量元素探讨 　　[摘要]本篇文章利用X射线荧光光谱法快速的测定了化探样品中主次痕量元素的结果，并进行了探讨。制样方法采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末样品压片法，对化探样品中的C、N、Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Sc等多种元素进行分析。对C、N的分析主要是运用RX45和RX61的专用分析晶体方法。采用康普顿散射法和经验系数法作为内标的校正基体效应，使得经标准检验的分析结果和标样值相符合。 　　[关键词]X射线荧光光谱法 痕量元素 　　[中图分类号] P632 [文献码] B [文章编号] 1000-405X（2015）-6-192-2 　　1引言 　　X射线荧光光谱法是目前地球上化学样品分析中应用最广泛的一种分析方法之一，还有电感耦合等离子体发射光谱、全谱X射线荧光光谱、电感耦合等离子体质谱等多种化探样品分析方法。电耦合等离子体质谱和电感耦合等离子体发射光谱需要溶解分解样品，无法一次性的完成Si、Cl、C、N、Br、S等多种元素的测量，其中的C和S要用燃烧法或者碳硫仪，N要用凯氏法，Cl、Br要用离子色谱法，这些方法的成本都很高，流程比较长并且劳动强度也很大，有的方法太慢并不适合测量分析大量的化学元素。本文采用X射线荧光光谱法和粉末压片制样来测定化探样品的各种中各种主次痕量元素，这种方法样品制备比较简单，能够同时进行多种元素的分析，速度快，成本低，测量的范围宽并且重现性比较好，分析的结果比较精密和准确，使其精密度和准确度都满足化探样品的质量要求，本文重点研究了C、N、Cl、Br、Hf等这些元素的测量方式和测量条件。 　　2 X射线荧光光谱法的试验部分 　　2.1试验仪器和测量所需条件 　　运用到的仪器有：日本理学ZSX primus I 型X射线荧光光谱仪、端窗铑靶X射线管（是4千瓦的）、30微米的超薄铍窗。测量所需要的条件是：在最大工作电流是150毫安、最大工作电压是60千伏、真空（13帕）光路、视野光栏是30毫米的环境下。还需要50吨的日本理学油压机。 　　2.2样品的制备过程 　　由于化探样品的数量非常的多，且要求元素的检出限要非常的低，而粉末压片制样这种方法就非常的适合这类样品。 　　2.3标准样品的选定 　　标准样品与待分析样品是相似的，除了在化学组成、结构和粒度上相似，并且标准样品中各种元素的含量范围应当足够的宽且含量梯度应适当。选用的校准样品为：水系沉积物GBW07301-GBW07312，土壤为GBW07423-GBW07430和GBW07408。选用的标准样品为：岩石GBW07103-GBW07114。此标准样品的覆盖范围基本上是化探样品中各组分的含量范围。。 　　2.4标准工作曲线与基体的校正 　　本试验采用的粉末样品压片法制样也会存在着一定的小缺点，虽然试验要求样品的颗粒应小于75微米，但是样品间仍然会存在着矿物、粒度和基体的效应。日本理学公司的软件做出了校准曲线和基体校正使两位一体的回归方法。 　　基体校正和谱线重叠校正在回归工作曲线时可以同时校正。重元素的处理方法是利用靶线的相关的散射线或者非相关的散射线作为内标来进行基体的校正。 　　2.4.1主次量元素之间的基体效应校正 　　主量元素和次量元素间的基体效应校正采用经验系数法，校正C、N、S、Cl、Na2O、MgO 、CaO、Fe、Al2O3 、Ti、SiO2等多种主次量元素的基体效应。 　　2.4.2痕量元素间的基体效应校正 　　痕量元素间的基体效应校正采用经验系数法和康普顿散射线内标法，校正Ce、Cu、U、La、Mo、Ni、Sc、Sn、Sr、Nb、Y、Za、Zr、Br、As、等多种痕量元素的基体效应校正。 　　2.4.3谱线重叠干扰校正 　　通过上面讲到的数学模型并利用校准样品计算谱线重叠干扰系数Bij并进行校正。具体的干扰谱线请见下表1。 　　3实验结果与分析 　　3.1关于 Cl、C、S的测量 　　通过试验我们可以发现，Cl、C、S随着测量次数在增加，而且含量也增加，并且与制备好的样片的放置时间的长短也有着一定的关系。 　　3.2关于样片放置时间对测定的影响 　　为了更好的测定大批的样品，需要对样片的放置时间进行测定。采用标样GBW07406 　　一共压制四个样片，其中一个样片立即测量，剩余的三个样片放置在空气中放置24小时后放到干燥器里，在三小时后、六小时后、九小时后分别进行测量，测量后分析后得出：Cl的测量变化非常的小。三小时后降低了1.02%，九小时后降低了3.1%。而S的测量强度在开始三小时以后增加了4.9%，但此后没有明显的变化，这个变化可能是由于放置过夜的原因造成的。C的测量强度是在一直增加的趋势。压好的样片在空气中放置情